華(hua)測高溫(wen)四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)儀(yi)器(qi)

壹(yi)、華(hua)測高溫(wen)四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)儀(yi)器(qi)技術指標(biao)

溫(wen)度範圍：室溫-1200℃，（反射爐(lu)加(jia)溫(wen)）配水冷機）；

控溫精(jing)度(du)：±0.5℃；

測量精(jing)度(du)：±0.25℃；

升(sheng)溫斜(xie)率(lv)：800℃/min

降溫斜(xie)率(lv)：1-200℃/min（可(ke)自調整(zheng)）；

測量精(jing)度(du)：0.5%；

樣品(pin)規格：直(zhi)徑(jing)：20mm以內(nei)；厚度：5mm以(yi)內(nei)；

電(dian)極(ji)材料：鉑金(jin)；

測量方式：2線-4線測量方式；

供電(dian)：220V±10%，50Hz；

工(gong)作環(huan)境(jing)：0℃-55℃；

存(cun)儲(chu)條(tiao)件：-40℃-70℃；

尺寸(cun)：750mmX660mmX360mm；

重量(liang)：25kg

二、華(hua)測高溫(wen)四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)儀(yi)器(qi)產(chan)品(pin)優勢(shi)

1.華(hua)測公司(si)為針(zhen)對(dui)新(xin)材(cai)料電(dian)檢(jian)測儀(yi)器(qi)全(quan)系列廠(chang)家(jia)，試(shi)驗效(xiao)率高。

2.可(ke)實現高溫(wen)下(xia)的勻(yun)速、階梯、降溫(wen)下(xia)的全溫(wen)度(du)範圍的(de)測試(shi)。效果(guo)好(hao)，且可(ke)有效避(bi)免(mian)材(cai)料磁(ci)化(hua)

3.可(ke)實現小於(yu)±0.5℃溫度測量誤(wu)差（限(xian)反射爐(lu)），精(jing)度(du)控制(zhi)在(zai)±0.25℃以(yi)內(nei)。

三、產(chan)品(pin)應(ying)用

多晶矽(gui)材料

石墨(mo)烯材(cai)料

石墨(mo)功能材(cai)料

半(ban)導體(ti)材料

導電(dian)功能薄(bo)膜(mo)材料

鍺類(lei)功(gong)能材(cai)料

導電(dian)玻璃(li)材料

柔性透(tou)明導電(dian)薄(bo)膜(mo)

其它導(dao)電(dian)材料等(deng)

四(si)、產(chan)品(pin)特(te)點(dian)

快速加熱(re)與冷卻方式

較高能量(liang)的(de)紅外(wai)燈(deng)和鍍金(jin)反射方式允許較高速加熱(re)到高溫(wen)。同(tong)時(shi)爐(lu)體(ti)可(ke)配置(zhi)水冷系統(tong)，增設氣(qi)體冷卻裝(zhuang)置(zhi)，可(ke)實現快(kuai)速冷卻。

過(guo)紅外(wai)鍍金(jin)聚焦爐(lu)和溫度(du)控制(zhi)器(qi)的(de)組(zu)合使(shi)用(yong)，可(ke)以控制(zhi)樣品(pin)的(de)溫(wen)度(du)（遠(yuan)比(bi)普通加溫方式）。

不同(tong)環(huan)境(jing)下(xia)的加熱(re)與冷卻加(jia)熱/冷卻

可(ke)用真(zhen)空、氣(qi)氛環(huan)境(jing)、低(di)溫(wen)，操(cao)作簡單(dan)，使(shi)用石(shi)英玻璃(li)制(zhi)成(cheng)。紅(hong)外(wai)線可(ke)傳(chuan)送(song)到加(jia)熱/冷卻室。

高溫(wen)四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)儀(yi)器(qi)

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