高(gao)溫(wen)四(si)探針(zhen)測試儀在(zai)高(gao)溫(wen)環(huan)境(jing)下(xia)對(dui)材(cai)料進行(xing)精確測量電阻(zu)率
更(geng)新(xin)時間(jian):2024-03-11 點(dian)擊(ji)次(ci)數:1162
高溫(wen)四(si)探針(zhen)測試儀是(shi)壹種(zhong)功(gong)能(neng)強(qiang)大(da)的(de)測試設(she)備(bei),主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)在高(gao)溫、真(zhen)空及(ji)氣氛條(tiao)件(jian)下(xia)測量導(dao)體和半(ban)導(dao)體材(cai)料的(de)電阻(zu)和電阻(zu)率。其(qi)采(cai)用(yong)四探針(zhen)雙電測量方(fang)法(fa),不僅具有高(gao)精度和穩定性,而(er)且(qie)操(cao)作(zuo)簡便(bian),成(cheng)為(wei)科(ke)研、生產和教育等領(ling)域的(de)理(li)想(xiang)選(xuan)擇。
該測試儀的(de)核心優(you)勢(shi)在於(yu)其高(gao)溫測試系(xi)統(tong),該(gai)系(xi)統(tong)將(jiang)四(si)端(duan)測量方(fang)法(fa)測試電阻(zu)率系(xi)統(tong)與高溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)結合。這(zhe)種(zhong)壹(yi)體(ti)化設(she)計(ji)使得(de)儀器(qi)能(neng)夠(gou)在(zai)高(gao)溫環(huan)境(jing)下(xia)對(dui)材(cai)料進行(xing)精確測量,滿足半(ban)導(dao)體及導體(ti)材(cai)料因(yin)溫度變(bian)化(hua)對(dui)電阻(zu)值變(bian)化(hua)的(de)測量要(yao)求(qiu)。同時(shi),通過測量導(dao)電材(cai)料電阻(zu)和電阻(zu)率隨溫度、時間變(bian)化(hua)的(de)曲(qu)線(xian),可以(yi)深入分析(xi)材(cai)料的(de)導電性(xing)能(neng)。
高溫(wen)四探(tan)針(zhen)測試儀廣(guang)泛(fan)應用(yong)於(yu)碳系(xi)導(dao)電材(cai)料、金(jin)屬(shu)系(xi)導電材(cai)料、金(jin)屬(shu)氧(yang)化物(wu)系導(dao)電材(cai)料、結(jie)構(gou)型(xing)高分子導(dao)電材(cai)料以(yi)及(ji)復合導(dao)電材(cai)料等領(ling)域的(de)電阻(zu)率測量。無論是(shi)生產企(qi)業、高(gao)等院(yuan)校還(hai)是(shi)科(ke)研部(bu)門,都(dou)可以(yi)利用(yong)該儀器(qi)對(dui)導(dao)電陶(tao)瓷(ci)、矽(gui)、鍺(zhe)單(dan)晶等材(cai)料的(de)電阻(zu)率進行(xing)精確測定。此外(wai),它還可以(yi)用於(yu)測量矽(gui)外(wai)延層(ceng)、擴散層(ceng)和離子註(zhu)入層(ceng)的(de)方塊電阻(zu),以(yi)及導(dao)電玻(bo)璃(ITO)和其他導電薄(bo)膜(mo)的(de)方塊電阻(zu)、電阻(zu)率和電導(dao)率數據(ju)。
該測試儀的(de)測量原(yuan)理(li)基(ji)於(yu)經典的(de)直排四(si)探(tan)針(zhen)法(fa),同(tong)時(shi)結(jie)合了雙電測組合四(si)探(tan)針(zhen)法(fa)。這(zhe)種(zhong)方(fang)法(fa)不僅提高了測量準(zhun)確度,而且降低了實(shi)驗(yan)誤差(cha)。通過使用(yong)等間距(ju)的(de)探針(zhen),並考(kao)慮電場(chang)畸(ji)變(bian)的(de)影(ying)響(xiang)進行(xing)邊(bian)界(jie)修(xiu)正,可以(yi)確保(bao)測量結(jie)果的(de)準確性(xing)和可靠性(xing)。此外(wai),高溫四探針(zhen)測試儀還(hai)采(cai)用(yong)了雙屏(ping)蔽(bi)高頻測試線(xian)纜,進壹步(bu)提高了測試參(can)數的(de)精度和抗幹擾能(neng)力。

在(zai)實(shi)際(ji)應用(yong)中(zhong),高(gao)溫四探(tan)針(zhen)測試儀具(ju)有(you)多種(zhong)功(gong)能(neng)特點。其(qi)液晶顯示(shi)屏使(shi)得(de)測試結(jie)果直觀(guan)易(yi)讀,無需人(ren)工(gong)計算。同時,軟件(jian)可保(bao)存和打印(yin)數據(ju),自動(dong)生成(cheng)報表(biao),極大(da)地方(fang)便(bian)了數據(ju)管理(li)和分析(xi)。此外(wai),該儀器(qi)還(hai)具(ju)備(bei)溫(wen)度補(bu)償功(gong)能(neng),能(neng)夠根(gen)據(ju)實(shi)際(ji)溫度條(tiao)件(jian)對(dui)測量結(jie)果進行(xing)修(xiu)正,確(que)保測量結(jie)果的(de)準確性(xing)。