高(gao)溫介(jie)電(dian)溫譜測試(shi)儀-北(bei)京華測(ce)試(shi)驗儀(yi)器(qi)有(you)限公(gong)司(si)

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功能(neng)材(cai)料測試(shi)儀器(qi)

壓(ya)電(dian)材料電(dian)場應(ying)變特(te)性的(de)測試(shi)儀激光(guang)測(ce)振(zhen)儀(yi) 傳感器(qi)多(duo)功能(neng)綜合測試(shi)系統(tong) 先(xian)進(jin)功能(neng)材(cai)料電(dian)測綜合測試(shi)系統(tong) 長期(qi)耐(nai)腐蝕老化試(shi)驗平臺(tai)- 高(gao)電(dian)場介(jie)電(dian)、損(sun)耗(hao)、漏(lou)電(dian)流(liu)測試(shi)系統(tong) 阻抗(kang)分(fen)析儀鐵(tie)電(dian)綜合材料測(ce)試(shi)系統(tong) 鐵(tie)電(dian)分析儀高(gao)壓功率放大(da)器(qi) D33壓(ya)電(dian)系數測(ce)試(shi)儀高(gao)溫介(jie)電(dian)溫譜測試(shi)儀熱(re)釋電(dian)測試(shi)儀 TSDC熱(re)刺(ci)激電(dian)流(liu)測試(shi)儀高(gao)壓極化裝置高(gao)低溫冷熱臺(tai) 簡(jian)易(yi)探針臺(tai) 高(gao)溫四探針測(ce)試(shi)儀多(duo)通道(dao)電(dian)流(liu)采(cai)集(ji)系統(tong) 高(gao)真空退火(huo)爐(lu) 電(dian)學(xue)綜合測試(shi)系統(tong) 高(gao)溫管(guan)式爐(lu)測試(shi)儀漆(qi)包線擊(ji)穿(chuan)耐壓(ya)試(shi)驗儀(yi) 電(dian)化學(xue)遷移測試(shi)系統(tong) 水平垂(chui)直(zhi)燃燒測(ce)定(ding)機陶瓷(ci)材料(liao)閃(shan)燒試(shi)驗裝(zhuang)置導通電(dian)評估系統(tong) 差(cha)熱分析儀(yi) 醫(yi)用接地(di)電(dian)阻

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MLCC高(gao)溫/低溫介(jie)電(dian)溫譜頻譜試(shi)驗儀(yi)

更新時(shi)間(jian)：2024-12-08

型號(hao)：

瀏(liu)覽量(liang)：3594

華測(ce)MLCC高(gao)溫/低溫介(jie)電(dian)溫譜頻譜試(shi)驗儀(yi)，為(wei)了(le)滿足材料在高(gao)溫環(huan)境下(xia)的(de)介(jie)電(dian)測量(liang)需(xu)求而設(she)計的(de)。主要應(ying)用於(yu)應用領域(yu)：復(fu)合絕(jue)緣(yuan)擦亮、高(gao)分子絕緣材料、無(wu)機絕緣(yuan)材(cai)料、有機絕緣(yuan)材(cai)料、其它(ta)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料等(deng) 。
了(le)解詳(xiang)情(qing)
HCWP-1000型MLCC高(gao)溫介(jie)電(dian)溫譜/頻譜測試(shi)儀

更(geng)新時(shi)間(jian)：2024-12-12

型號(hao)：HCWP-1000型

瀏(liu)覽量(liang)：2990

MLCC高(gao)溫介(jie)電(dian)溫譜/頻譜測試(shi)儀，運(yun)用三電(dian)極法設(she)計原(yuan)理(li)測(ce)量(liang)。重復(fu)性與(yu)穩(wen)定性好，采(cai)用雙屏蔽(bi)高(gao)頻測試(shi)線纜(lan)，提(ti)高(gao)測試(shi)參(can)數的(de)準確(que)度(du)，同(tong)時(shi)抗擾能(neng)力強。本(ben)設(she)備(bei)也(ye)可應(ying)用於(yu)產品(pin)檢(jian)測以(yi)及(ji)新(xin)材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)研究等(deng)用途。
了解詳(xiang)情(qing)
Huace450P北(bei)京華測(ce)高(gao)低溫介(jie)電(dian)溫譜儀

更新時(shi)間(jian)：2025-07-29

型號(hao)：Huace450P

瀏(liu)覽量(liang)：3466

北(bei)京華測(ce)高(gao)低溫介(jie)電(dian)溫譜儀，設(she)備(bei)測試(shi)頻率可達120MHz，采(cai)用直(zhi)接聯(lian)接(jie)阻抗(kang)分(fen)析儀以(yi)減(jian)少測(ce)試(shi)導線的(de)影(ying)響，同(tong)時(shi)電(dian)極加(jia)熱(re)采(cai)用直(zhi)流(liu)電(dian)極加(jia)熱(re)方式，減少電(dian)網(wang)諧(xie)波(bo)對測量(liang)儀(yi)表的(de)幹(gan)擾。
了解詳(xiang)情(qing)
HCWP-1000MLCC多通道(dao)介(jie)電(dian)溫譜/頻譜測試(shi)儀/測(ce)薄膜(mo)陶瓷(ci)

更新(xin)時(shi)間(jian)：2024-12-08

型號(hao)：HCWP-1000

瀏(liu)覽量(liang)：2856

MLCC多(duo)通道(dao)介(jie)電(dian)溫譜/頻譜測試(shi)儀/測(ce)薄膜(mo)陶瓷(ci)，專用儀器(qi)是(shi)為(wei)了(le)滿足材料在高(gao)溫環(huan)境下(xia)的(de)介(jie)電(dian)測量(liang)需(xu)求而設(she)計的(de)。從專(zhuan)業角(jiao)度(du)來(lai)說(shuo)，其(qi)實就(jiu)是(shi)高(gao)溫介(jie)電(dian)溫譜測量(liang)系統(tong)。主(zhu)要用於(yu)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在不(bu)同(tong)溫(wen) 度(du)不(bu)同(tong)頻(pin)率下(xia)的(de)電(dian)學(xue)測試(shi)，系統(tong)包含(han)高(gao)溫爐膛，阻抗(kang)分(fen)析儀，微電(dian)流(liu)表，夾具，測(ce)試(shi)軟件(jian)於(yu)壹體.
了(le)解詳(xiang)情(qing)
HCJD高(gao)低溫寬頻(pin)介(jie)電(dian)溫譜測試(shi)儀系統(tong)

更(geng)新時(shi)間(jian)：2024-12-08

型號(hao)：HCJD

瀏(liu)覽量(liang)：4211

華測(ce)高(gao)低溫介(jie)電(dian)溫譜測試(shi)儀系統(tong)運(yun)用三電(dian)極法設(she)計原(yuan)理(li)測(ce)量(liang)。重復(fu)性與(yu)穩(wen)定性好，采(cai)用雙屏蔽(bi)高(gao)頻測試(shi)線纜(lan)，提(ti)高(gao)測試(shi)參(can)數的(de)準確(que)度(du)，同(tong)時(shi)抗擾能(neng)力強。本(ben)設(she)備(bei)也(ye)可應(ying)用於(yu)產品(pin)檢(jian)測以(yi)及(ji)新(xin)材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)研究等(deng)用途。
了解詳(xiang)情(qing)
MLCC多通道(dao)介(jie)電(dian)溫譜儀/陶瓷(ci)薄膜(mo)半(ban)導體塊狀(zhuang)

更新(xin)時(shi)間(jian)：2024-12-08

型號(hao)：

瀏(liu)覽量(liang)：2911

MLCC多(duo)通道(dao)介(jie)電(dian)溫譜儀/陶瓷(ci)薄膜(mo)半(ban)導體塊狀(zhuang)，為(wei)了(le)滿足材料在高(gao)溫環(huan)境下(xia)的(de)介(jie)電(dian)測量(liang)需(xu)求而設(she)計的(de)。它(ta)由硬(ying)件(jian)設(she)備(bei)和(he)測量(liang)軟件(jian)組成，包括(kuo)高(gao)溫測試(shi)平臺(tai)、高(gao)溫測試(shi)夾具、阻抗(kang)分(fen)析儀和(he)高(gao)溫介(jie)電(dian)測量(liang)系統(tong)軟件(jian)四個(ge)組成部(bu)分(fen)。
了(le)解詳(xiang)情(qing)
介(jie)電(dian)溫譜試(shi)驗儀(yi)可測薄膜(mo)陶瓷(ci)等定(ding)制專業夾(jia)具

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2024-12-08

型號(hao)：

瀏(liu)覽量(liang)：4196

介(jie)電(dian)溫譜試(shi)驗儀(yi)可測薄膜(mo)陶瓷(ci)等定(ding)制專業夾(jia)具，主(zhu)要用於(yu)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在不(bu)同(tong)溫(wen)度(du)不(bu)同(tong)頻(pin)率下(xia)的(de)電(dian)學(xue)測試(shi)，系統(tong)包含(han)高(gao)溫爐膛，阻抗(kang)分(fen)析儀，微電(dian)流(liu)表，夾具，測(ce)試(shi)軟件(jian)於(yu)壹體，可(ke)測(ce)試(shi)材料(liao)的(de)介(jie)電(dian)常數，介(jie)質損(sun)耗(hao)，阻抗(kang)譜(pu)Co-Co圖，機電(dian)耦合系數等(deng)，同(tong)時(shi)可分(fen)析(xi)被測(ce)樣品(pin)隨溫度(du)，頻率，時(shi)間(jian)變化(hua)的(de)曲線，測(ce)試(shi)治具可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)產(chan)品(pin)及(ji)測(ce)試(shi)項目(mu)要求(qiu)選購(gou)。
了解詳(xiang)情(qing)
高(gao)低溫介(jie)電(dian)溫譜儀/頻率譜溫度(du)譜介(jie)電(dian)譜曲線

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2024-12-08

型號(hao)：

瀏(liu)覽量(liang)：4935

高(gao)低溫介(jie)電(dian)溫譜儀/頻率譜溫度(du)譜介(jie)電(dian)譜曲線，公(gong)司(si)開發(fa)的(de)高(gao)低溫阻抗(kang)、介(jie)電(dian)測量(liang)系統(tong)軟件(jian)將(jiang)高(gao)溫測試(shi)平臺(tai)，高(gao)溫測試(shi)夾具與(yu)WK6500系列、Agilent（Keysight）4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測(ce)量(liang)設(she)備(bei)無縫連接，實現了(le)自(zi)動完(wan)成高(gao)溫環(huan)境下(xia)的(de)阻抗(kang)、介(jie)電(dian)參(can)數的(de)測量(liang)與(yu)分析。
了解詳(xiang)情(qing)

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