產(chan)品(pin)名稱：華(hua)測(ce)高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜測(ce)試(shi)儀(yi)-專(zhuan)用儀(yi)器(qi)

產(chan)品(pin)簡介(jie)：

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華(hua)測(ce)高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜測(ce)試(shi)儀(yi)-專(zhuan)用儀(yi)器(qi)是為了(le)滿(man)足(zu)材(cai)料(liao)在高溫(wen)環境下的(de)介(jie)電測(ce)量(liang)需(xu)求(qiu)而(er)設計(ji)的(de)。它(ta)由硬(ying)件(jian)設備(bei)和(he)測(ce)量(liang)軟件(jian)組成(cheng)，包(bao)括高溫(wen)介(jie)電測(ce)量(liang)儀(yi)主(zhu)機、高溫(wen)介(jie)電測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)軟件(jian)、高溫(wen)測(ce)試(shi)夾(jia)具、阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)四(si)個(ge)組成(cheng)部(bu)分(fen)。根據(ju)測(ce)量(liang)需(xu)要(yao)，還可以外(wai)接真空油(you)泵(beng)進行真空環(huan)境的(de)介(jie)電測(ce)量(liang)。高溫(wen)測(ce)試(shi)平(ping)臺是為樣品(pin)提供壹個高溫(wen)環境；高溫(wen)測(ce)試(shi)夾(jia)具提(ti)供(gong)待(dai)測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)的(de)測(ce)試(shi)平(ping)臺；阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)則負(fu)責測(ce)試(shi)各(ge)組參(can)數(shu)數(shu)據(ju)。後(hou)，再(zai)通(tong)過測(ce)量(liang)軟件(jian)將(jiang)這(zhe)些(xie)硬(ying)件(jian)設備(bei)的(de)功(gong)能(neng)整合(he)在壹起，形(xing)成(cheng)壹套由(you)實(shi)驗方案設計(ji)到(dao)溫(wen)度(du)控制(zhi)、參(can)數(shu)測(ce)量(liang)、圖形數(shu)據(ju)顯(xian)示(shi)與數(shu)據(ju)分(fen)析於壹體的(de)高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)。

系統(tong)介(jie)紹(shao)：

系(xi)統配置(zhi)：Acer商用計(ji)算(suan)機(ji)，信(xin)號(hao)切(qie)換(huan)與控制(zhi)系統(tong)，高溫(wen)儀及溫(wen)控系(xi)統，四(si)通(tong)道(dao)夾(jia)具， 測(ce)試(shi)與數(shu)據(ju)采集軟件(jian)（軟件(jian)兼容同惠LCR表(biao)以及(ji)是德(de)（安捷倫）E4980AL型LCR表(biao)和(he)4294A型(xing)阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)）；

輸入(ru)端(duan)口(kou)：四(si)個(ge)BNC端(duan)口(kou)；

輸出端(duan)口(kou)：10個(ge)SMA輸出端(duan)口(kou)，需(xu)采用SMA接(jie)頭(tou)以(yi)提(ti)高高頻測(ce)試(shi)穩(wen)定(ding)性(xing)（頻率大(da)於1MHz時）；

溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)：室(shi)溫(wen) 850℃（額定(ding)溫(wen)區，長時間(jian)使用溫(wen)度(du)），室溫(wen)1000℃（ji限溫(wen)區，短時間(jian)使用）；

系統(tong)屏蔽(bi)：通道切換(huan)主(zhu)板(ban)預(yu)埋屏蔽(bi)層(ceng)設計(ji)，連接(jie)線(xian)材(cai)采用射(she)頻同軸(zhou)線(xian)，以(yi)保證低(di)頻與高頻測(ce)試(shi)精(jing)度(du)和(he)穩(wen)定(ding)性(xing)；

測(ce)試(shi)夾(jia)具：融(rong)石(shi)英(ying)與探針(zhen)復合(he)夾(jia)具。其(qi)中探針(zhen)需(xu)使用氧(yang)化鋁與鉑金復合(he)結(jie)構(gou)，芯層(ceng)為鉑金，絕(jue)緣層(ceng)為氧(yang)化鋁。以保證長期高溫(wen)測(ce)試(shi)穩(wen)定(ding)性(xing)；

同時測(ce)量(liang)樣(yang)品(pin)數(shu)：4個(ge)；

測(ce)試(shi)頻率範(fan)圍(wei)：20Hzzhi10 MHz(依據配套LCR表(biao)或(huo)阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)頻率)，基(ji)本(ben)準(zhun)確(que)度(du)0.05%；

升溫(wen)速(su)率：升溫(wen)速(su)率0.1-10℃/min，測(ce)溫(wen)精(jing)度(du)±0.1℃

測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)直徑(jing)：2 mmzhi25 mm；

樣(yang)品厚(hou)度(du)：0.02 mmzhi4 mm；

單樣品測(ce)試(shi)頻率數(shu)：少(shao)6個(ge)頻率測(ce)量(liang)功(gong)能(neng)；

變溫(wen)介(jie)電頻譜測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)；

變溫(wen)阻(zu)抗(kang)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)。

應(ying)用領域：

復合(he)絕(jue)緣材料(liao)

高分(fen)子絕(jue)緣材料(liao)

無機絕(jue)緣材料(liao)

有機絕(jue)緣材料(liao)

其(qi)它(ta)絕(jue)緣材料(liao)等

技術(shu)參(can)數(shu):

MLCC多通(tong)道(dao)介(jie)電溫(wen)譜/頻譜測(ce)試(shi)儀(yi)/測(ce)薄膜(mo)陶(tao)瓷

MLCC多通道介(jie)電溫(wen)譜/頻譜測(ce)試(shi)儀(yi)/測(ce)薄膜(mo)陶(tao)瓷

MLCC多通道介(jie)電溫(wen)譜/頻譜測(ce)試(shi)儀(yi)/測(ce)薄膜(mo)陶(tao)瓷