鐵(tie)電綜(zong)合材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)-北(bei)京華(hua)測(ce)試(shi)驗(yan)儀器有限公(gong)司

當(dang)前位置：首頁(ye) > 產品(pin)中(zhong)心 > 功(gong)能(neng)材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)儀器 > 鐵(tie)電綜(zong)合材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)

產品(pin)分類(lei)

Product Category

功能(neng)材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)儀器

壓電(dian)材(cai)料(liao)電(dian)場應變(bian)特性(xing)的(de)測(ce)試(shi)儀激光(guang)測(ce)振儀傳感(gan)器多功能(neng)綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong) 先進(jin)功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測(ce)綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong) 長期(qi)耐腐(fu)蝕老化(hua)試(shi)驗(yan)平(ping)臺(tai)- 高(gao)電(dian)場介(jie)電、損耗、漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong) 阻抗分析(xi)儀鐵(tie)電綜(zong)合材(cai)料(liao)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong) 鐵(tie)電分析(xi)儀高壓功(gong)率(lv)放大(da)器 D33壓電(dian)系(xi)數測(ce)試(shi)儀高溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜測(ce)試(shi)儀熱(re)釋電測(ce)試(shi)儀 TSDC熱(re)刺(ci)激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀高壓極(ji)化(hua)裝置高低(di)溫(wen)冷熱(re)臺(tai) 簡(jian)易(yi)探針臺(tai) 高(gao)溫(wen)四探(tan)針(zhen)測(ce)試(shi)儀多通(tong)道電流(liu)采(cai)集系(xi)統(tong) 高真(zhen)空退火爐(lu) 電學綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong) 高溫(wen)管式爐(lu)測(ce)試(shi)儀漆包線擊穿(chuan)耐壓試(shi)驗(yan)儀電化(hua)學遷(qian)移測(ce)試(shi)系(xi)統(tong) 水(shui)平(ping)垂(chui)直(zhi)燃(ran)燒(shao)測(ce)定機(ji) 陶瓷材料(liao)閃(shan)燒試(shi)驗(yan)裝置導通電(dian)評(ping)估(gu)系(xi)統(tong) 差熱(re)分析(xi)儀醫用接地電阻

查看全部(bu)

相(xiang)關文章

HCTD-2000X鐵(tie)電材(cai)料(liao)綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)

更新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-29

型號(hao)：HCTD-2000X

瀏覽量(liang)：4368

鐵(tie)電材(cai)料(liao)綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)既可(ke)適(shi)用於(yu)壓電(dian)陶瓷材料(liao)居(ju)裏溫(wen)度、縱(zong)向(xiang)壓電(dian)應變(bian)常數（靜態(tai)）、強場介(jie)電、熱(re)釋電系數、因數及機(ji)電(dian)耦(ou)合系(xi)數等(deng);如增(zeng)加(jia)高壓放(fang)大(da)器模塊，也(ye)可(ke)實現(xian)鐵(tie)電材(cai)料(liao)的(de)電學測(ce)試(shi)；配(pei)合(he)高(gao)低溫(wen)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)同(tong)時可(ke)以測(ce)量不(bu)同(tong)環境(jing)溫(wen)度下的(de)材料(liao)參(can)數。
了(le)解詳情(qing)
華測(ce)國產鐵(tie)電性(xing)能(neng)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀可(ke)測(ce)塊體(ti)薄(bo)膜

更新時(shi)間(jian)：2025-09-18

型號(hao)：

瀏覽量(liang)：2186

華測(ce)國產鐵(tie)電性(xing)能(neng)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀可(ke)測(ce)塊體(ti)薄(bo)膜，鐵(tie)電性(xing)能(neng)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀具有寬(kuan)頻(pin)率(lv)響應範圍及寬(kuan)測(ce)試(shi)電(dian)壓範(fan)圍(wei)，性價(jia)比(bi)非(fei)常(chang)高(gao)，滿(man)足(zu)了(le)用戶追求(qiu)高(gao)性(xing)價(jia)的(de)需求(qiu)。HuaceTY在不改(gai)變(bian)樣(yang)品連接的(de)情(qing)況(kuang)下可(ke)執行電滯(zhi)回(hui)線，脈沖(chong)，漏電(dian)流，IV和CV測(ce)試(shi)，也(ye)可(ke)加載(zai)選(xuan)件(jian)實現(xian)壓電(dian)、熱(re)釋電、磁電測(ce)試(shi)和晶(jing)體(ti)管(guan)特性測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)。
了(le)解詳情(qing)
Huace FE華測(ce)儀器國產定(ding)制鐵(tie)電性(xing)能(neng)綜(zong)合測(ce)量儀

更新(xin)時間(jian)：2024-12-12

型號(hao)：Huace FE

瀏覽量(liang)：2727

華測(ce)儀器國產定(ding)制鐵(tie)電性(xing)能(neng)綜(zong)合測(ce)量儀，內置完整(zheng)的(de)專用工控計算(suan)機主(zhu)機(ji)、測(ce)試(shi)版(ban)路(lu)、運算(suan)放(fang)大器、數據處(chu)理(li)單(dan)元(yuan)等(deng)，包括(kuo)專用工控計算(suan)機主(zhu)板(ban)、CPU(i5 或較(jiao)高(gao))、RAM(8G 或較(jiao)大(da))、固態硬(ying)盤(pan)(250G 或較(jiao)大(da))、網卡(ka)、USB 接口、DVD 光(guang)驅(qu)、 VGA 接口、預裝 Windows 7 操(cao)作系(xi)統(tong)、鐵(tie)電分析(xi)儀專用測(ce)試(shi)軟(ruan)件(jian)等(deng)。
了(le)解詳情(qing)

共(gong) 3 條記(ji)錄(lu)，當(dang)前 1 / 1 頁(ye) 首(shou)頁(ye) 上(shang)壹(yi)頁(ye) 下壹(yi)頁(ye) 末(mo)頁(ye) 跳(tiao)轉到(dao)第頁(ye)