華測(ce)儀器(qi) 國(guo)產(chan)定(ding)制(zhi)鐵電性能綜合測量(liang)儀(yi)

華(hua)測(ce)儀器(qi)   鐵電(dian)性能綜合測量(liang)儀(yi)  

產(chan)品(pin)介(jie)紹(shao)：

      華(hua)測儀器(qi)   鐵電(dian)性能綜合測量(liang)儀(yi)有(you)著寬(kuan)頻(pin)率響應範圍及(ji)寬測試(shi)電(dian)壓範圍。在內置±10V電壓(ya)下，電滯(zhi)回線(xian)測(ce)試(shi)頻率可高(gao)達(da)500KHz；此系統(tong)包含(han)HuacePro基本(ben)鐵(tie)電(dian)管(guan)理測試(shi)軟件(jian)。此(ci)外還可外部(bu)擴展電(dian)壓(ya)到(dao)4kV、10kV、20kV， Huace FE主機在(zai)不(bu)改(gai)變樣品(pin)連接(jie)的(de)情(qing)況(kuang)下可執(zhi)行電(dian)滯(zhi)回線(xian)、 脈(mai)沖(chong)、漏電流(liu)、IV、CV、擊(ji)穿(chuan)測(ce)試(shi)，也(ye)可加載(zai)選件實現(xian)壓(ya)電(dian)、熱釋電、TSDC和(he)電卡(ka)、阻(zu)抗分(fen)析、電(dian)阻(zu)測量(liang)等(deng)特性(xing)測試功(gong)能。內置完整的(de)專用工(gong)控(kong)計(ji)算機主(zhu)機、測(ce)試(shi)版(ban)路、運(yun)算放大器(qi)、數據(ju)處理單(dan)元(yuan)等(deng)，包括(kuo)專用工(gong)控(kong)計(ji)算機主(zhu)板(ban)、CPU(i5 或較(jiao)高(gao))、RAM (8G 或較(jiao)大)、固態硬(ying)盤(pan)(250G 或較(jiao)大)、網(wang)卡(ka)、USB 接(jie)口(kou)、DVD  光(guang)驅、 VGA 接(jie)口(kou)、預(yu)裝(zhuang) Windows 7 操作系(xi)統(tong)、鐵電分(fen)析儀(yi)專用測(ce)試(shi)軟件等(deng)。

可擴展部(bu)件(jian)：

  可與(yu)高(gao)低(di)溫(wen)冷熱(re)臺、高(gao)溫(wen)測(ce)試裝(zhuang)置、探針臺、高(gao)壓(ya)放大器(qi)、高(gao)阻(zu)計、阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)、 激(ji)光(guang)幹涉(she)儀、溫(wen)控(kong)控(kong)制(zhi)器(qi)、數字源(yuan)表等(deng)擴展。

  塊(kuai)體(ti)測(ce)試夾具(ju)： 用於(yu)厚膜、塊(kuai)體(ti)鐵(tie)電、擊(ji)穿(chuan)測(ce)試(shi)可擴展變溫功(gong)能。

  薄(bo)膜四探(tan)針探針臺：室(shi)溫(wen)到(dao) 250℃ 可用於(yu)厚膜鐵電(dian)、壓(ya)電 （e31）、熱釋電測(ce)試。

  薄(bo)膜寬溫(wen)區(qu)探針冷熱(re)臺(tai)： -196℃到(dao)+600℃ 可用於(yu)薄(bo)膜和(he)厚膜變溫的(de)鐵(tie)電(dian)和(he)熱釋電測(ce)試。

  薄(bo)膜探針臺（國(guo)產(chan)）： 室溫(wen)鐵電(dian)測試(shi) 可用於(yu)薄(bo)膜和(he)厚膜室溫(wen)鐵(tie)電性能測試

產(chan)品(pin)系(xi)列：

功(gong)能材料電(dian)學綜合測試(shi)系(xi)統(tong)、絕緣診(zhen)斷(duan)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)、高(gao)低(di)溫(wen)介(jie)電(dian)溫(wen)譜(pu)測試儀(yi)、極(ji)化(hua)裝(zhuang)置與(yu)電源(yuan)、高(gao)壓(ya)放大器(qi)、PVDV薄膜極(ji)化(hua)、高(gao)低(di)溫(wen)冷熱(re)臺、鐵電壓電熱釋電測(ce)試儀、絕緣材料(liao)電(dian)學性能綜合測試(shi)平(ping)臺(tai)、電(dian)擊(ji)穿(chuan)強(qiang)度試驗儀(yi)、耐(nai)電(dian)弧(hu)試驗儀(yi)、高(gao)壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕測試儀、沖擊(ji)電(dian)壓(ya)試(shi)驗儀(yi)、儲(chu)能材料電(dian)學測控(kong)系(xi)統(tong)、壓電傳(chuan)感(gan)器(qi)測控(kong)系(xi)統(tong)。

華測儀器(qi)   國(guo)產(chan)定(ding)制(zhi)鐵電性能綜合測量(liang)儀(yi)

華測(ce)儀器(qi)   國(guo)產(chan)定(ding)制(zhi)鐵電性能綜合測量(liang)儀(yi)

華測(ce)儀器(qi)   國(guo)產(chan)定(ding)制(zhi)鐵電性能綜合測量(liang)儀(yi)