簡易探針臺-北京華測(ce)試驗儀器有(you)限(xian)公(gong)司

熱(re)門(men)關鍵詞(ci)：功(gong)能材(cai)料(liao)電學綜(zong)合測(ce)試系(xi)統(tong)、絕(jue)緣(yuan)診斷測試系(xi)統(tong)、高(gao)低(di)溫(wen)介(jie)電溫譜(pu)測試儀、極化裝(zhuang)置(zhi)與(yu)電源、高壓放(fang)大器、PVDV薄膜極化、高(gao)低溫(wen)冷(leng)熱臺、鐵(tie)電壓電熱釋(shi)電測試儀、絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)電學性(xing)能綜(zong)合測(ce)試平臺、電擊(ji)穿(chuan)強(qiang)度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏(lou)電起痕(hen)測試儀、沖擊(ji)電壓試驗儀、儲能材(cai)料(liao)電學測(ce)控系(xi)統(tong)、壓電傳(chuan)感器(qi)測控系(xi)統(tong)。

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功能材(cai)料(liao)測試儀器

壓電材料(liao)電場(chang)應變特性(xing)的(de)測試儀激光測振(zhen)儀傳(chuan)感器(qi)多(duo)功能綜(zong)合測(ce)試系(xi)統(tong) 先(xian)進(jin)功(gong)能材(cai)料(liao)電測綜(zong)合測(ce)試系(xi)統(tong) 長(chang)期(qi)耐腐(fu)蝕老(lao)化試驗平(ping)臺- 高(gao)電場(chang)介(jie)電、損(sun)耗、漏電流(liu)測(ce)試系(xi)統(tong) 阻抗分析儀鐵電綜合材(cai)料(liao)測試系(xi)統(tong) 鐵(tie)電分析儀高壓功(gong)率放(fang)大器 D33壓電系(xi)數測試儀高溫介(jie)電溫譜(pu)測試儀熱釋電測試儀 TSDC熱刺激(ji)電流(liu)測(ce)試儀高壓極化裝(zhuang)置(zhi) 高(gao)低(di)溫(wen)冷(leng)熱臺簡易探針臺高(gao)溫四(si)探針測試儀多(duo)通道(dao)電流(liu)采集(ji)系(xi)統(tong) 高(gao)真(zhen)空(kong)退(tui)火爐(lu) 電學綜(zong)合測(ce)試系(xi)統(tong) 高(gao)溫(wen)管(guan)式爐(lu)測試儀漆(qi)包(bao)線擊(ji)穿(chuan)耐壓試驗儀電化學(xue)遷移(yi)測(ce)試系(xi)統(tong) 水(shui)平(ping)垂(chui)直(zhi)燃燒測(ce)定(ding)機(ji) 陶瓷(ci)材料(liao)閃(shan)燒試驗裝(zhuang)置(zhi) 導通電評估(gu)系(xi)統(tong) 差(cha)熱(re)分析儀醫用(yong)接(jie)地(di)電阻

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華測(ce)半導體封(feng)裝(zhuang)材料高(gao)低溫(wen)真(zhen)空(kong)探針臺

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華測(ce)半導體封(feng)裝(zhuang)材料高(gao)低溫(wen)真(zhen)空(kong)探針臺，溫(wen)度範(fan)圍(wei)77K-675K(液(ye)氮(dan))；可應用(yong)於(yu)真(zhen)空及(ji)常(chang)規環(huan)境(jing)；超(chao)高溫度分辨(bian)率(lv)；特殊(shu)客制低溫系(xi)統(tong)；具有(you)較好穩(wen)定(ding)性(xing)
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Huace-6S半導體封(feng)裝(zhuang)材料高(gao)低溫(wen)探針臺

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半導體封(feng)裝(zhuang)材料高(gao)低溫(wen)探針臺，可(ke)用於(yu)12英(ying)寸(cun)以內(nei)樣(yang)品測試，采用(yong)密(mi)閉腔結(jie)構(gou)，屏蔽外(wai)部(bu)電信幹擾同(tong)時(shi)保持(chi)氮(dan)氣(qi)正壓環(huan)境(jing)下樣(yang)品在低(di)溫時(shi)無結(jie)霜。
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Huace-8 綜(zong)合性(xing)分析探針臺

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Huace-8 綜合性(xing)分析探針臺zd可(ke)用於(yu)12英(ying)寸(cun)以內(nei)樣(yang)品測試；操(cao)作(zuo)便捷，功能其(qi)全，高效精準(zhun)；可滿足晶(jing)片(pian)測(ce)試、光電器件(jian)測試、PCB/IC測試、射頻測(ce)試、高壓大(da)電流(liu)測(ce)試等
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Huace-8D 雙面(mian)探針臺

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Huace-8D 雙面(mian)探針臺可(ke)用於(yu)晶(jing)圓(yuan)和(he)PCB板(ban)測(ce)試，用於(yu)需(xu)要正(zheng)面(mian)和(he)背(bei)面(mian)同(tong)時(shi)紮針，以實(shi)現(xian)各(ge)種光/電性能測(ce)試需(xu)求的(de)測試設備。
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