熱釋電(dian)測試儀(yi)-北京華測(ce)試驗(yan)儀(yi)器(qi)有(you)限(xian)公(gong)司

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功能(neng)材(cai)料(liao)測(ce)試儀(yi)器(qi)

壓電材(cai)料(liao)電場(chang)應變特(te)性的測(ce)試(shi)儀(yi) 激光測(ce)振(zhen)儀(yi) 傳感器(qi)多功(gong)能(neng)綜(zong)合測試系統先(xian)進(jin)功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測綜(zong)合測試系統長(chang)期(qi)耐(nai)腐(fu)蝕(shi)老化試驗(yan)平臺(tai)- 高(gao)電(dian)場(chang)介電、損(sun)耗、漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試系統阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi) 鐵電綜(zong)合材料測試(shi)系(xi)統鐵電分析(xi)儀(yi) 高(gao)壓功率(lv)放大器(qi) D33壓電系(xi)數(shu)測試儀(yi) 高(gao)溫介電溫譜測試(shi)儀(yi) 熱釋電(dian)測試儀(yi) TSDC熱刺激電流(liu)測(ce)試儀(yi) 高(gao)壓極(ji)化(hua)裝置高低(di)溫冷熱臺(tai) 簡(jian)易探(tan)針臺(tai) 高(gao)溫四(si)探(tan)針測試儀(yi) 多(duo)通道(dao)電(dian)流(liu)采集(ji)系(xi)統高(gao)真(zhen)空退(tui)火(huo)爐(lu) 電(dian)學(xue)綜(zong)合測試系統高(gao)溫管式爐測(ce)試(shi)儀(yi) 漆(qi)包(bao)線(xian)擊(ji)穿(chuan)耐(nai)壓試驗(yan)儀(yi) 電(dian)化(hua)學(xue)遷(qian)移(yi)測(ce)試系統水(shui)平(ping)垂(chui)直燃(ran)燒測(ce)定機(ji) 陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)閃(shan)燒(shao)試(shi)驗(yan)裝置導(dao)通電(dian)評(ping)估(gu)系統差(cha)熱分析(xi)儀(yi) 醫用(yong)接(jie)地(di)電阻

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HCYD--800華(hua)測(ce) 壓電材(cai)料(liao)熱釋電(dian)系數測(ce)試(shi)儀(yi)

更(geng)新時間(jian)：2024-04-03

型(xing)號：HCYD--800

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華(hua)測(ce) 壓電材(cai)料(liao)熱釋電(dian)系數測(ce)試(shi)儀(yi)除(chu)了(le)具(ju)有(you)壹(yi)般介質材(cai)料(liao)所具(ju)有(you)的介電性(xing)和(he)彈性(xing)外，還具(ju)有(you)壓電。壓電陶(tao)瓷(ci)經(jing)過(guo)極(ji)化(hua)處理(li)之後(hou)，就具(ju)有(you)了(le)各向異(yi)性(xing)，每項(xiang)參數(shu)在不(bu)同方(fang)向上所(suo)表(biao)現的數(shu)值不(bu)同，這就使(shi)得壓電陶(tao)瓷(ci)的參(can)數(shu)比(bi)壹(yi)般各向同性的介質陶(tao)瓷(ci)多(duo)得(de)多。壓電陶(tao)瓷(ci)的眾(zhong)多(duo)的參(can)數(shu)是它(ta)被廣泛應用(yong)的重(zhong)要基(ji)礎。
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壓電陶(tao)瓷(ci)熱釋電(dian)系數測(ce)試(shi)儀(yi)

更(geng)新時間(jian)：2025-08-18

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壓電陶(tao)瓷(ci)熱釋電(dian)系數測(ce)試(shi)儀(yi)由(you)工(gong)控機、溫度控制器(qi)、靜(jing)電計、用(yong)於(yu)放置被測熱釋電(dian)材料的測(ce)試(shi)臺(tai)、銀(yin)漿(jiang)電極(ji)、電(dian)加(jia)熱件、溫度傳感器(qi)。該(gai)裝置使(shi)用(yong)直流(liu)電(dian)極(ji)加(jia)熱法對(dui)被測熱釋電(dian)材料進(jin)行加(jia)熱，避免油(you)浴加(jia)熱過(guo)程(cheng)中(zhong)絕(jue)緣油(you)自(zi)身帶(dai)電荷引入(ru)環境(jing)誤(wu)差以(yi)及存在(zai)熱液飛(fei)濺(jian)等弊端(duan)，使(shi)用(yong)可(ke)以根據所測(ce)電荷量大小切(qie)換(huan)不(bu)同量程的高(gao)阻(zu)計來代(dai)替積分電容和靜(jing)電計對熱釋電(dian)電荷進(jin)行采集(ji)，避免了(le)積分電容過(guo)大造(zao)成測試精(jing)度(du)下降(jiang)、積(ji)分電容過(guo)小導(dao)致測試超量程(cheng)等(deng)問題。
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熱釋電(dian)測試儀(yi)

更(geng)新時間(jian)：2024-08-29

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熱釋電(dian)測試儀(yi)基(ji)於熱釋電(dian)動態電(dian)流(liu)法設計,由(you)溫度控制器(qi)、加(jia)熱爐體(ti)、微電流(liu)放大器(qi)、溫度測(ce)試儀(yi)以(yi)及計算機軟件系統組(zu)成。溫度控制器(qi)控制加(jia)熱爐體(ti)內部(bu)溫度;樣(yang)品(pin)的電(dian)流(liu)信號(hao)通過(guo)微(wei)電(dian)流(liu)放大器(qi)、輸(shu)入到計算機;而溫度信號(hao)則(ze)直接(jie)通過(guo)溫度測(ce)試儀(yi)傳送到計算機。能(neng)測(ce)量(liang)具(ju)有(you)熱釋電(dian)的單(dan)晶(jing)、陶(tao)瓷(ci)、厚膜及薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)樣(yang)品(pin), 適(shi)用(yong)範(fan)圍(wei)廣。
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熱釋電(dian)測試儀(yi) 華(hua)測(ce)儀(yi)器(qi)

更(geng)新時間(jian)：2024-08-29

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熱釋電(dian)測試儀(yi) 華(hua)測(ce)儀(yi)器(qi)主要用(yong)於(yu)薄(bo)膜(mo)及塊體(ti)材(cai)料變溫的熱釋電(dian)測試。薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)變溫範圍(wei)：-196℃到+600℃；塊(kuai)體材(cai)料變溫範圍(wei)：室(shi)溫到200℃、室(shi)溫到600℃、室(shi)溫到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五(wu)種夾(jia)具(ju)可(ke)選(xuan)。
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