電容器溫(wen)度(du)特性評(ping)估系(xi)統產(chan)品(pin)的(de)特征(zheng)有(you)哪些(xie)？

電容器溫(wen)度(du)特性評(ping)估系(xi)統產(chan)品(pin)的(de)特征(zheng)有(you)哪些(xie)？

特征(zheng)

該(gai)系(xi)統可用(yong)於評(ping)估特定(ding)溫度(du)環境下電容器和(he)各(ge)種材(cai)料(liao)的靜電容量 (C)、損耗(hao)因子(zi) (D) 和(he)阻抗(kang) (Z)。

1、最(zui)多64個(ge)通道的自動測量

該(gai)系(xi)統可以測量不(bu)同溫度(du)環境下的(de)靜電容量 (C)、損耗(hao)因子(zi) (D) 和(he)阻抗(kang) (Z) 的(de)多通道。

您(nin)可以選擇(ze)8個(ge)通道的倍數(shu)，最(zui)多64個(ge)通道。

2、圖(tu)形功能(neng)允(yun)許(xu)實(shi)時查看測量結(jie)果

收(shou)集的數據(ju)，包(bao)括不同溫度(du)、頻(pin)率和(he)時間(jian)下的(de)電特性值(zhi)和(he)變化(hua)率(lv)，可以通過各(ge)種圖形函(han)數進(jin)行(xing)實(shi)時審查。

3、可從(cong)不(bu)同測試(shi)模(mo)式(shi)選(xuan)擇(ze)

溫(wen)度(du)特性評(ping)價試(shi)驗、恒定(ding)運行(xing)試(shi)驗和(he)頻(pin)率特性試(shi)驗。

<溫(wen)度(du)特性評(ping)估測試(shi)>

在(zai)此測試(shi)模(mo)式(shi)下，自(zi)動記(ji)錄特性數(shu)據(ju)，並(bing)與(yu)溫度(du)變化(hua)同步(bu)，最(zui)多40步(bu)。

<持(chi)續運行(xing)測試(shi)>

該(gai)測試(shi)模(mo)式(shi)測量以下參(can)數的(de)變化(hua)特定(ding)中隨(sui)時間(jian)推(tui)移的(de)特征(zheng)自(zi)動記(ji)錄數(shu)據(ju)。

<頻(pin)率特性評(ping)價試(shi)驗>

該(gai)試(shi)驗模(mo)式(shi)在(zai)特定(ding)溫度(du)環境下改(gai)變(bian)頻(pin)率的(de)同時，自動記(ji)錄不(bu)同頻(pin)率下的(de)特性數(shu)據(ju)。測試(shi)可與(yu)溫度(du)特性評(ping)價測試(shi)或(huo)恒(heng)定(ding)運行(xing)測試(shi)相結(jie)合。

4、多種可選(xuan)夾具(ju) 適用(yong)於不同的試(shi)驗樣本（可選(xuan)）

除(chu)了 SMD 組(zu)件的(de)專用夾具(ju)外，我(wo)們還(hai)提供(gong)了根據(ju)離(li)散(san)設(she)備形(xing)狀(zhuang)定(ding)制(zhi)的(de)夾具(ju)。