壓電(dian)陶瓷(ci)熱釋電(dian)系數(shu)測試(shi)儀

壓電(dian)陶瓷(ci)熱釋電(dian)系數(shu)測試(shi)儀

產(chan)品介紹

壓電(dian)陶瓷(ci)除(chu)了(le)具有壹(yi)般(ban)介質材料所(suo)具有的介電(dian)性(xing)和(he)彈(dan)性(xing)性(xing)能(neng)外(wai)，還具有壓電(dian)性(xing)能(neng)。壓電(dian)陶瓷(ci)經過極(ji)化處理(li)之(zhi)後(hou)，就(jiu)具有了(le)各(ge)向(xiang)異(yi)性(xing)，每(mei)項性(xing)能(neng)參(can)數在不(bu)同方(fang)向(xiang)上所(suo)表(biao)現的數(shu)值不(bu)同，這就使(shi)得(de)壓電(dian)陶瓷(ci)的性(xing)能(neng)參(can)數比壹(yi)般(ban)各(ge)向(xiang)同性(xing)的介質陶瓷(ci)多得多。壓電(dian)陶瓷(ci)的眾多的性(xing)能(neng)參(can)數是它(ta)被廣泛(fan)應(ying)用(yong)的重(zhong)要(yao)基(ji)礎(chu)。

壓電(dian)陶瓷(ci)熱釋電(dian)系數(shu)測試(shi)儀可(ke)以分(fen)析被測樣(yang)品(pin)熱釋(shi)電(dian)系數(shu)隨(sui)溫度，時(shi)間變化的曲(qu)線(xian)，通(tong)過軟件(jian)將(jiang)這(zhe)些(xie)變化曲線(xian)的溫(wen)度譜(pu)、時(shi)間譜(pu)等(deng)集成壹體並(bing)進行(xing)分析測量並(bing)可(ke)以直(zhi)接得出樣品的熱(re)釋(shi)電(dian)圖(tu)譜。對(dui)試(shi)樣(yang)大小(xiao)及(ji)形(xing)狀無特殊(shu)要(yao)求(qiu)，圓(yuan)片(pian)、方(fang)塊(kuai)、長條(tiao)、柱(zhu)形(xing)等(deng)均可(ke)測量，可(ke)廣泛(fan)用(yong)於鐵電(dian)、壓電(dian)材(cai)料（壓電(dian)陶瓷(ci)、高分子(zi)）以(yi)及(ji)相(xiang)關(guan)器(qi)件(jian)性(xing)能(neng)的評價與(yu)測試(shi)。

工(gong)作原(yuan)理

本(ben)實驗(yan)儀器采用(yong)電(dian)荷(he)積分法(fa)測量壓電(dian)陶瓷(ci)材料的熱(re)釋(shi)過測量在電(dian)容(rong)器(qi)上積(ji)累的熱(re)釋(shi)電(dian)電(dian)荷(he)，測量剩(sheng)余(yu)計(ji)劃隨(sui)溫度的變化情況。使(shi)用(yong)高阻抗電(dian)壓采集(ji)模(mo)塊(kuai)測得(de)積(ji)分電(dian)容(rong)兩端的電(dian)壓。采用(yong)精度高(gao)的溫(wen)度傳(chuan)感(gan)器測量樣(yang)品(pin)溫(wen)度。通(tong)過工業(ye)計(ji)算(suan)機(ji)數(shu)據(ju)處理(li)，得(de)出壓電(dian)陶瓷(ci)材料的熱(re)釋(shi)電(dian)。

本(ben)套系統(tong)由工(gong)控(kong)機(ji)、溫(wen)度控(kong)制器(qi)、靜電(dian)計(ji)、用(yong)於放置(zhi)被測熱(re)釋(shi)電(dian)材(cai)料的測試(shi)臺(tai)、銀(yin)漿(jiang)電(dian)極(ji)、電(dian)加(jia)熱件(jian)、溫度傳(chuan)感(gan)器。該測試(shi)裝置(zhi)使(shi)用(yong)直流(liu)電(dian)極(ji)加(jia)熱法(fa)對(dui)被測熱(re)釋(shi)電(dian)材(cai)料進行(xing)加熱(re)，避免油浴(yu)加熱(re)過程(cheng)中絕(jue)緣(yuan)油(you)自(zi)身帶電(dian)荷(he)引(yin)入(ru)環境誤差(cha)以(yi)及(ji)存在熱液飛濺等(deng)弊端，使(shi)用(yong)可(ke)以根據所(suo)測電(dian)荷(he)量大小(xiao)切(qie)換(huan)不(bu)同量程(cheng)的高(gao)阻計(ji)來代(dai)替(ti)積(ji)分(fen)電(dian)容(rong)和(he)靜電(dian)計(ji)對(dui)熱(re)釋(shi)電(dian)電(dian)荷(he)進行(xing)采集(ji)，避免了積(ji)分電(dian)容(rong)過大造(zao)成測試(shi)精(jing)度下(xia)降、積(ji)分(fen)電(dian)容(rong)過小(xiao)導(dao)致測試(shi)超(chao)量程(cheng)等(deng)問題(ti)。

產(chan)品特點(dian)

① 采(cai)用(yong)RAM嵌入式開發(fa)平(ping)臺(tai)。

② 可(ke)以進行(xing)在線(xian)升級(ji)、遠程(cheng)協助(zhu)及(ji)故(gu)障診斷(duan)。

③ 軟件(jian)操(cao)作流(liu)暢(chang)，體驗(yan)感(gan)較好。

④ 加(jia)溫裝置(zhi)、測量夾(jia)具、顯示及(ji)軟件(jian)集於壹體。

⑤ 可(ke)實現壓電(dian)陶瓷(ci)的居裏(li)溫(wen)度及(ji)熱(re)釋電(dian)系數(shu)測試(shi)。

⑥ 實(shi)現常(chang)溫(wen)、高(gao)溫等(deng)多環境下(xia)測試(shi)。

產(chan)品技(ji)術指(zhi)標

測量溫(wen)度：室(shi)溫(wen) ~ 600 ℃

電(dian)極(ji)面(mian)積：100 mm²

控(kong)溫精(jing)度：±0.5 ℃

測量精(jing)度：±0.5 ℃

升溫(wen)斜率(lv)：1 ~ 5 ℃/min

降溫(wen)斜率(lv)：1 ~ 5 ℃/min

積(ji)分電(dian)容(rong)：10 μF

電(dian)壓采集(ji)靈(ling)敏(min)度：0.1 mV

電(dian)壓量程(cheng)：200 V

電(dian)壓采集(ji)輸(shu)入阻抗：1×10¹²

記(ji)錄儀誤(wu)差(cha)：<1 %

設備(bei)重(zhong)量尺寸(cun)：（550×480×500）mm 約(yue)10KG