D33壓(ya)電系(xi)數測(ce)試儀-北(bei)京華(hua)測(ce)試驗儀器(qi)有(you)限公(gong)司(si)

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功能材(cai)料測(ce)試儀器(qi)

壓(ya)電材(cai)料電(dian)場應變(bian)特(te)性的測試儀激(ji)光測(ce)振(zhen)儀傳感器(qi)多(duo)功能綜合測(ce)試系統先進功能材(cai)料電(dian)測綜合測(ce)試系統長(chang)期耐腐(fu)蝕老(lao)化試驗平臺(tai)- 高電場(chang)介(jie)電、損(sun)耗(hao)、漏電流測試系統阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀鐵(tie)電(dian)綜合材(cai)料測(ce)試系統鐵(tie)電(dian)分(fen)析(xi)儀高壓(ya)功率放大(da)器 D33壓(ya)電系(xi)數測(ce)試儀高溫介(jie)電(dian)溫譜(pu)測試儀熱(re)釋電測(ce)試儀 TSDC熱(re)刺激(ji)電流測試儀高壓(ya)極化裝置(zhi) 高低溫(wen)冷(leng)熱臺(tai) 簡易探(tan)針(zhen)臺(tai) 高溫四(si)探針(zhen)測試儀多(duo)通(tong)道(dao)電流采集系(xi)統高真空退(tui)火(huo)爐電學(xue)綜合測(ce)試系統高溫管式(shi)爐測試儀漆(qi)包線擊(ji)穿耐壓(ya)試驗儀電(dian)化學(xue)遷(qian)移測(ce)試系統水(shui)平垂直(zhi)燃(ran)燒(shao)測(ce)定(ding)機(ji) 陶(tao)瓷材(cai)料閃(shan)燒試驗裝置(zhi) 導通(tong)電評(ping)估(gu)系統差(cha)熱分(fen)析(xi)儀醫(yi)用接地電(dian)阻(zu)

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壓(ya)電陶(tao)瓷壓(ya)電系(xi)數測(ce)試儀測(ce)D31,D33，除了具(ju)有(you)壹般(ban)介(jie)質材(cai)料所(suo)具(ju)有(you)的介電(dian)性(xing)和(he)彈(dan)性外，還具(ju)有(you)壓(ya)電。壓(ya)電陶(tao)瓷經過(guo)極(ji)化處理(li)之後，就具(ju)有(you)了各(ge)向(xiang)異(yi)性(xing)，每(mei)項(xiang)參(can)數在(zai)不同方(fang)向上(shang)所(suo)表現的數值(zhi)不同，這就使(shi)得(de)壓(ya)電陶(tao)瓷的參(can)數比(bi)壹(yi)般(ban)各(ge)向(xiang)同性(xing)的介質陶(tao)瓷多得(de)多(duo)。
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HCYD-800壓(ya)電材(cai)料壓(ya)電陶(tao)瓷靜(jing)態壓(ya)電常(chang)數測(ce)試儀

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高溫d33壓(ya)電系(xi)數測(ce)試儀是(shi)在(zai)不同溫(wen)度環境下壓(ya)電材(cai)料性(xing)能表征而(er)設(she)計的檢測(ce)設(she)備(bei)。該儀(yi)器(qi)在傳統d33測(ce)試基(ji)礎上(shang)，集成(cheng)溫控(kong)系統與(yu)耐高溫樣品(pin)腔(qiang)，可在(zai) RT至(zhi)600℃範(fan)圍(wei)內(nei)，對(dui)壓(ya)電陶(tao)瓷（PZT、BNT-BT、KNN）、鐵(tie)電(dian)單晶(jing)、高溫壓(ya)電復(fu)合(he)材(cai)料等進(jin)行(xing)壓(ya)電常(chang)數d33 測(ce)量。
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高壓(ya)放大(da)器匹配鐵(tie)電(dian)分(fen)析(xi)儀高壓(ya)極化電源，支持定(ding)制(zhi)是(shi)壹(yi)款(kuan)理想的可放大(da)交、直(zhi)流信號的高壓(ya)放大(da)器。zui大(da)差分(fen)輸(shu)出4000Vp-p(士(shi)2000Vp)高壓(ya)，可以(yi)驅(qu)動(dong)高壓(ya)型負(fu)載(zai)。具(ju)有(you)直(zhi)流穩定(ding)，寬(kuan)帶寬(kuan)，優異(yi)的交流輸出信號控(kong)制，全(quan)四(si)象限輸出，直(zhi)流偏置(zhi)電(dian)壓(ya)調(tiao)節(jie)和過(guo)載自(zi)動(dong)保護(hu)的特(te)點。
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D33壓(ya)電系(xi)數測(ce)試儀

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D33壓(ya)電系(xi)數測(ce)試儀不僅(jin)決(jue)定(ding)了壓(ya)電材(cai)料的，同時(shi)也(ye)直(zhi)接影(ying)響(xiang)著換(huan)能器(qi)的參(can)數。由(you)於同壹(yi)批材(cai)料的壓(ya)電陶(tao)瓷參(can)數具(ju)有(you)很大(da)的離散(san)度，故(gu)測(ce)量壓(ya)電陶(tao)瓷的d33是(shi)很有(you)必要(yao)的。影響(xiang)d33測試準(zhun)確(que)度和(he)穩定(ding)性(xing)的因素(su)有(you)很多(duo)，主要(yao)考(kao)慮(lv)以(yi)下因(yin)素：壓(ya)力(li)是(shi)否(fou)全(quan)部(bu)加於試樣，壓(ya)力(li)的方(fang)向是(shi)否(fou)與(yu)試樣極(ji)化軸平(ping)行(xing)，測(ce)試電極(ji)是(shi)否(fou)平(ping)整(zheng)和相互(hu)平行(xing)，受(shou)力(li)和(he)產生(sheng)感應(ying)電(dian)效應(ying)的面(mian)積(ji)是(shi)否(fou)相等，壓(ya)力(li)釋(shi)放瞬間是(shi)否(fou)有(you)試樣抖(dou)動(dong)等。
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