影響D33測(ce)試(shi)準(zhun)確(que)度和穩定性(xing)主要考(kao)慮(lv)哪(na)些(xie)因素？

影(ying)響D33測(ce)試(shi)準(zhun)確(que)度和穩定性(xing)主要考(kao)慮(lv)哪(na)些(xie)因素？

1、壓(ya)力(li)是否(fou)全部加(jia)於試(shi)樣(yang)；

2、壓(ya)力(li)的(de)方(fang)向是否(fou)與(yu)試(shi)樣(yang)極(ji)化(hua)軸平(ping)行；

3、測(ce)試(shi)電(dian)極(ji)是(shi)否平(ping)整和相(xiang)互(hu)平(ping)行；

4、受(shou)力(li)和(he)產(chan)生感應(ying)電效(xiao)應(ying)的(de)面積(ji)是否(fou)相(xiang)；

5、壓(ya)力(li)釋(shi)放瞬間是(shi)否有試(shi)樣(yang)抖動；

另(ling)外，測試(shi)線(xian)路的(de)絕緣狀況、電容(rong)和輸入阻(zu)抗(kang)等(deng)性能(neng)參數(shu)也(ye)對(dui)此(ci)有(you)影(ying)響。華測(ce)儀(yi)器設(she)計了(le)壹種既(ji)兼(jian)具(ju)了(le)動態法測量(liang)參(can)數(shu)多、精(jing)度高(gao)的(de)特點；又(you)避免了(le)人工(gong)操作繁(fan)瑣、計(ji)算費時(shi)的(de)不(bu)足(zu)，拓(tuo)寬了(le)動態法的(de)應(ying)用範(fan)圍(wei)。

華測(ce)高(gao)精度(du)壓(ya)電(dian)系數(shu)D33測試(shi)儀(yi)，其(qi)分(fen)辨(bian)率(lv)可達0.01pC/N，是(shi)目(mu)前(qian)所(suo)有同(tong)類(lei)設(she)備中(zhong)分(fen)辨(bian)率(lv)較(jiao)高(gao)的(de)測試(shi)儀(yi)，采(cai)用多種測(ce)量(liang)模式(shi)。可(ke)廣泛(fan)用於(yu)鐵(tie)電(dian)、壓(ya)電(dian)材料(liao)以(yi)及(ji)相(xiang)關器件(jian)性(xing)能的(de)評價(jia)與測試(shi)。