華測(ce)儀器 壓(ya)電系(xi)數/介(jie)電常(chang)數測(ce)試(shi)儀

華測儀器  壓(ya)電系(xi)數/介(jie)電常(chang)數測(ce)試(shi)儀

HPZT-200

華測儀器  壓(ya)電系(xi)數/介(jie)電常(chang)數測(ce)試(shi)儀-專用(yong)儀器除(chu)了具(ju)有壹(yi)般介(jie)質材(cai)料所具有(you)的(de)介(jie)電性(xing)和彈(dan)性(xing)外，還(hai)具有壓電。壓電(dian)陶瓷(ci)經過極(ji)化處理之(zhi)後(hou)，就(jiu)具(ju)有(you)了(le)各向異(yi)性(xing)，每(mei)項(xiang)參數在(zai)不同(tong)方(fang)向上所表(biao)現(xian)的(de)數值(zhi)不同(tong)，這(zhe)就(jiu)使(shi)得壓電陶瓷(ci)的(de)參數比(bi)壹(yi)般各向(xiang)同(tong)性(xing)的(de)介(jie)質陶(tao)瓷(ci)多得多。

華測-壓(ya)電(dian)系(xi)數測(ce)試(shi)儀-專用(yong)儀器可(ke)以分(fen)析(xi)被(bei)測(ce)樣品(pin)D33常(chang)數隨(sui)溫(wen)度、頻率、時(shi)間變化的(de)曲(qu)線(xian)。通(tong)過(guo)軟(ruan)件將(jiang)這(zhe)些(xie)變化曲線的(de)溫(wen)度譜(pu)、時間(jian)譜(pu)等(deng)集(ji)成(cheng)壹(yi)體並進行(xing)分(fen)析(xi)測量並可(ke)以直(zhi)接(jie)得出樣品(pin)的(de)壓(ya)電(dian)溫(wen)譜(pu)圖。對試(shi)樣大(da)小及(ji)形狀(zhuang)無(wu)特殊(shu)要求，圓(yuan)片(pian)、圓(yuan)環(huan)、圓(yuan)管(guan)、方(fang)塊、長(chang)條、柱形及(ji)半球殼等(deng)均可(ke)測量，可(ke)廣(guang)泛用(yong)於鐵(tie)電、壓(ya)電材(cai)料（壓電陶(tao)瓷(ci)、高分(fen)子(zi)）以及(ji)相關器件(jian)的(de)評(ping)價(jia)與(yu)測(ce)試。

HPZT-200壓電材(cai)料參數測(ce)試(shi)儀可(ke)測量壓電材(cai)料的(de)介(jie)電常(chang)數、居(ju)裏溫(wen)度、熱釋(shi)電系(xi)數、縱向壓電應變(bian)常數d33、機電(dian)耦合(he)系(xi)數等(deng)參數,是(shi)壹(yi)款功(gong)能(neng)壓(ya)電(dian)材(cai)料測試裝(zhuang)置(zhi)。

■ 采用RAM嵌入(ru)式(shi)開發平(ping)臺

■可(ke)以進(jin)行(xing)在(zai)線(xian)升級、遠(yuan)程協助及(ji)故(gu)障診斷；

■ 集(ji)成(cheng)10.1"電(dian)容觸(chu)摸寬屏(ping)顯(xian)示，軟(ruan)件操作(zuo)流暢(chang)，體驗感(gan)好(hao)；

■ 高溫(wen)爐、測(ce)量夾具、顯示(shi)及(ji)軟(ruan)件集(ji)成(cheng)於(yu)壹體

■ 測量精度會高(gao)，儀器穩(wen)定(ding)且(qie)易(yi)維(wei)護(hu)；

■ 壹款實(shi)現(xian)常溫(wen)、高溫(wen)、真空(kong)、流動(dong)氣氛(fen)等(deng)多環境下測(ce)試