鐵(tie)電(dian)分(fen)析儀(yi)/可搭(da)載高(gao)壓(ya)放(fang)大器高(gao)低溫探針(zhen)臺

 鐵(tie)電(dian)分(fen)析儀(yi)/可搭(da)載高(gao)壓(ya)放(fang)大器高(gao)低溫探針(zhen)臺

Huace FE-3000

   鐵(tie)電(dian)分(fen)析儀(yi)/可搭(da)載高(gao)壓(ya)放(fang)大器高(gao)低溫探針(zhen)臺產品(pin)介紹(shao)：

Huace FE系(xi)列(lie)鐵(tie)電(dian)測試系(xi)統是目前市(shi)場上較xianjin的設(she)備，有(you)著(zhe)寬頻(pin)率響應(ying)範圍及(ji)寬測試電(dian)壓(ya)範圍並且(qie)在世(shi)界(jie)鐵(tie)電(dian)測試領域(yu)高(gao)測試精(jing)度能(neng)力shouquyizhi。在內(nei)置±10V電(dian)壓(ya)下(xia)，電(dian)滯回線測試頻率可高(gao)達(da)500KHz；此(ci)系(xi)統包(bao)含(han)HuacePro基(ji)本(ben)鐵(tie)電(dian)管(guan)理測試軟(ruan)件。

 儀(yi)器配(pei)置(zhi)：

Huace FE系(xi)列(lie)鐵(tie)電(dian)測試系(xi)統在±500V內(nei)置電(dian)壓(ya)下(xia)，電(dian)滯回線測試頻率可高(gao)達(da)500KHz；此(ci)外(wai)還(hai)可外(wai)部擴展電(dian)壓(ya)到4kV、10kV、20kV，Huace FE主機在不(bu)改(gai)變(bian)樣(yang)品(pin)連(lian)接的(de)情況(kuang)下可執(zhi)行(xing)電(dian)滯回線，脈沖(chong)，漏電(dian)流(liu)，IV、CV、擊(ji)穿(chuan)測試，也可(ke)加載選(xuan)件(jian)實現(xian)壓(ya)電(dian)、熱(re)釋電(dian)、TSDC和電(dian)卡、阻(zu)抗(kang)分(fen)析、電(dian)阻(zu)測量等特性(xing)測試功能(neng)。內(nei)置完整(zheng)的專(zhuan)用(yong)工(gong)控計(ji)算(suan)機(ji)主機、測試版(ban)路(lu)、運(yun)算(suan)放(fang)大器、數據(ju)處理單元等，包(bao)括(kuo)專(zhuan)用(yong)工(gong)控計(ji)算(suan)機(ji)主板、CPU(i5 或(huo)以上)、RAM(8G 或(huo)以上)、固態硬盤(pan)(250G 或(huo)以上)、網卡、USB 接口、 VGA 接(jie)口、預(yu)裝(zhuang) Windows 7操(cao)作(zuo)系(xi)統、鐵(tie)電(dian)專(zhuan)用(yong)測試軟(ruan)件等。

可(ke)擴展部件：

可(ke)與高(gao)低溫冷(leng)熱臺、高(gao)溫(wen)測試裝(zhuang)置(zhi)、探針(zhen)臺、高(gao)壓(ya)放(fang)大器、高(gao)阻(zu)計(ji)、阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)、 激光幹涉儀、溫(wen)控(kong)控制器、數字(zi)源(yuan)表(biao)等擴(kuo)展。

Ø 塊(kuai)體(ti)測試夾具：用(yong)於厚膜(mo)、塊(kuai)體(ti)鐵(tie)電(dian)、擊(ji)穿測試可擴展變(bian)溫(wen)功(gong)能(neng)。

Ø 薄(bo)膜(mo)四探針(zhen)探針(zhen)臺：室溫(wen)到 250℃可(ke)用(yong)於厚膜(mo)鐵(tie)電(dian)、壓(ya)電(dian)（e31）、熱(re)釋電(dian)測試。

Ø 薄(bo)膜(mo)寬溫區探針(zhen)冷(leng)熱臺：-196℃到+600℃可(ke)用(yong)於薄膜(mo)和厚膜(mo)變(bian)溫(wen)的(de)鐵(tie)電(dian)和熱釋電(dian)測試。

Ø 薄(bo)膜(mo)探針(zhen)臺（國產）：室溫(wen)鐵(tie)電(dian)測試可(ke)用(yong)於薄膜(mo)和厚膜(mo)室溫(wen)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)測試。

  技(ji)術參數：

Ø內(nei)置電(dian)壓(ya) (可(ke)外接高(gao)壓(ya)放(fang)大器) ：±10V （可(ke)外(wai)接不(bu)同型(xing)號(hao)放(fang)大器）

Ø可(ke)外接高(gao)壓(ya)放(fang)大器 （最(zui)大可(ke)外接20KV高(gao)壓(ya)放(fang)大器需配(pei)置(zhi)高(gao)壓(ya)防(fang)護(hu)模塊(kuai)）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV

ØADC位(wei)數：18位(wei)

Øzui小(xiao)電(dian)荷(he)分(fen)辨率：<10fC

Øzui大電(dian)荷(he)分(fen)辨率：27.6mC

Øzui小(xiao)面積(ji)分(fen)辨率：<1μ²

Øzui大面(mian)積(ji)分(fen)辨率：＞100cm²

Øzui大電(dian)滯回線測試頻率：270KHz @10V

Øzuidi測試頻率：0.03Hz

Øzui小(xiao)脈沖(chong)寬度 (此(ci)項(xiang)指(zhi)標優(you)於進口設(she)備) ：0.5us

Øzui小(xiao)脈沖(chong)上升(sheng)時(shi)間(jian)(5V)(此(ci)項(xiang)指(zhi)標優(you)於進口設(she)備)：400ns

Øzui大脈(mai)沖(chong)寬度：1s

Ø脈(mai)沖(chong)間(jian)最(zui)大延(yan)遲時間(jian)：40ks

Ø內(nei)部時鐘(zhong)：25ns

Øzui小(xiao)的泄(xie)漏電(dian)流(liu) ：<1pA

Øzui大小(xiao)信號(hao)上(shang)限(xian)頻率 (此(ci)項(xiang)指(zhi)標優(you)於進口設(she)備)：1MHz

Øzui小(xiao)小(xiao)信號(hao)上(shang)限(xian)頻率 (此(ci)項(xiang)指(zhi)標優(you)於進口設(she)備)：1MHz

Ø輸(shu)出(chu)上(shang)升(sheng)時(shi)間(jian)控(kong)制(zhi)：10³ scaling

Ø輸(shu)入電(dian)容(rong)：~60fF

Ø阻(zu)抗(kang)輸(shu)入：Yes

鐵(tie)電(dian)系(xi)統主機優(you)勢在於他易於擴展、實用(yong)性，軟(ruan)件系(xi)統兼容(rong)目前主流品(pin)牌，軟(ruan)件無(wu)縫(feng)切(qie)換。為用(yong)戶降低成(cheng)本。

█ 介電(dian)測試分(fen)析模(mo)塊(kuai)

█ 熱(re)激發極化電(dian)流(liu)測試TSDC

█ 擊(ji)穿電(dian)壓(ya)測試

█ 高(gao)壓(ya)極化

█ 絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試

█ 四(si)探針(zhen)測試

█ 壓(ya)電(dian)性(xing)能(neng)測試

█ 鐵(tie)電(dian)參數測試

█ 熱(re)釋電(dian)性(xing)能(neng)測試

█ 居(ju)裏溫(wen)度測試