鐵電(dian)分(fen)析(xi)儀(yi)的關鍵(jian)組(zu)成部(bu)分(fen)詳解

壹、基(ji)本(ben)概(gai)述(shu)

鐵電(dian)分(fen)析(xi)儀(yi)是(shi)壹(yi)種(zhong)用(yong)於(yu)測(ce)量鐵電(dian)、壓電(dian)、熱(re)釋(shi)電(dian)等電(dian)子材(cai)料電(dian)特性參數(shu)的測(ce)試(shi)設備。

二(er)、工作原(yuan)理(li)

鐵電(dian)分(fen)析(xi)儀(yi)通(tong)過向(xiang)材料施加可(ke)控電(dian)場(chang)，並測(ce)量(liang)其極(ji)化(hua)響(xiang)應(ying)，以(yi)獲取(qu)材料(liao)的(de)電(dian)學性能參數(shu)。工作流(liu)程(cheng)主(zhu)要(yao)包(bao)括電(dian)場(chang)施加、極化(hua)測量(liang)、極化(hua)曲(qu)線記(ji)錄、阻抗增(zeng)益(yi)測量、頻率選擇(ze)、電(dian)壓控制及(ji)數(shu)據處(chu)理(li)等步驟(zhou)。

三(san)、主(zhu)要(yao)組(zu)成

鐵電(dian)分(fen)析(xi)儀(yi)基礎包(bao)含以下(xia)組成部(bu)分(fen)：

基(ji)本(ben)單元與(yu)FE標準模塊(kuai)：提(ti)供基(ji)礎(chu)測試(shi)功能與(yu)標準測試(shi)方(fang)法(fa)。

薄(bo)膜(mo)探針臺：用(yong)於(yu)薄(bo)膜(mo)樣品的電(dian)學測試(shi)。

高(gao)壓放大(da)器(qi)：提(ti)供測(ce)試(shi)所(suo)需的(de)高(gao)電(dian)壓輸(shu)出(chu)。

樣品測(ce)試(shi)盒：用(yong)於(yu)放(fang)置並固定(ding)待(dai)測(ce)樣(yang)品。

激(ji)光(guang)幹涉儀(yi)（可(ke)選配(pei)件(jian)）。

四(si)、測試(shi)參數(shu)與範圍(wei)

測(ce)試(shi)溫度範圍(wei)：RT至(zhi)250℃，-185~550℃，支持更(geng)寬(kuan)溫區測(ce)試(shi)。

測試(shi)電(dian)壓範圍(wei)：0V至(zhi)50kV。

測試(shi)頻率範圍(wei)：1mHz至(zhi)1MHz。

五、測試(shi)功能

鐵電(dian)分(fen)析(xi)儀(yi)支持多(duo)種(zhong)測(ce)試(shi)模式(shi)，主(zhu)要(yao)包(bao)括：

電(dian)滯回線測(ce)試(shi)：包括動(dong)態、靜態及(ji)初(chu)始(shi)電(dian)滯回線。

脈沖測試(shi)：測量材(cai)料在脈沖電(dian)場(chang)下的響(xiang)應(ying)特性。

漏電(dian)流測(ce)試(shi)：評估材(cai)料(liao)的(de)絕緣性能。

疲勞測(ce)試(shi)：研究材料在(zai)多(duo)次電(dian)場(chang)循(xun)環下的(de)穩定性。

保持力(li)測試(shi)：測量極(ji)化(hua)狀(zhuang)態的保(bao)持能力(li)。

印跡(ji)測(ce)試(shi)：評估材(cai)料(liao)極(ji)化(hua)後的(de)印跡(ji)效應。

C-V測(ce)試(shi)：電(dian)容-電(dian)壓特性分(fen)析(xi)。

I-V測試(shi)：電(dian)流-電(dian)壓特性分(fen)析(xi)。

壓電(dian)性能測試(shi)：如(ru)蝴(hu)蝶(die)曲(qu)線、小(xiao)信(xin)號d33-V曲(qu)線等。

擊(ji)穿(chuan)測(ce)試(shi)：擊(ji)穿(chuan)強(qiang)度(du)測試(shi)。

六、應用(yong)領域(yu)

材料(liao)科(ke)學：研究鐵電(dian)、壓電(dian)、熱(re)釋(shi)電(dian)等材料(liao)的電(dian)學性能。

物理(li)學：分(fen)析(xi)材料(liao)的(de)電(dian)學、磁學及(ji)熱(re)學等物理(li)性質。

工業領域(yu)：用(yong)於(yu)電(dian)子陶(tao)瓷、鐵電(dian)傳感器(qi)、執(zhi)行器(qi)及(ji)存(cun)儲(chu)器(qi)等產(chan)品(pin)的(de)性能測試(shi)與質量(liang)控制。