壓電陶瓷壓電分析儀/鐵(tie)電/壓電

 壓電陶瓷壓電分析儀/鐵(tie)電/壓電

Huace FE-2000

   華測(ce)儀器(qi)  陶瓷(ci)壓電分析儀/鐵(tie)電/壓電產品(pin)介紹：

Huace FE系列鐵(tie)電測試(shi)系統(tong)是(shi)目前(qian)市場上(shang)較(jiao)xianjin的(de)設(she)備(bei)，有(you)著(zhe)寬(kuan)頻(pin)率響應(ying)範圍(wei)及(ji)寬(kuan)測試(shi)電壓範圍(wei)並且在世(shi)界(jie)鐵(tie)電測試(shi)領(ling)域高(gao)測試(shi)精(jing)度(du)能(neng)力shouquyizhi。在(zai)內(nei)置±10V電壓下，電滯回(hui)線測(ce)試(shi)頻(pin)率可(ke)高(gao)達(da)500KHz；此系統(tong)包含(han)HuacePro基(ji)本(ben)鐵(tie)電管理(li)測試(shi)軟(ruan)件。

 儀器(qi)配置：

Huace FE系列鐵(tie)電測試(shi)系統(tong)在±500V內(nei)置電壓下，電滯回(hui)線測(ce)試(shi)頻(pin)率可(ke)高(gao)達(da)500KHz；此外(wai)還(hai)可外(wai)部擴展電壓到(dao)4kV、10kV、20kV，Huace FE主(zhu)機在不改變樣(yang)品(pin)連接的情(qing)況(kuang)下可執行電滯回(hui)線，脈沖(chong)，漏電流(liu)，IV、CV、擊穿測試(shi)，也可加(jia)載(zai)選(xuan)件實現壓電、熱(re)釋(shi)電、TSDC和電卡(ka)、阻(zu)抗分(fen)析、電阻測量等特性測試(shi)功(gong)能(neng)。內(nei)置完整(zheng)的專(zhuan)用工控(kong)計算機主(zhu)機、測試(shi)版路、運(yun)算放大(da)器(qi)、數(shu)據處(chu)理(li)單元(yuan)等，包括專用工控(kong)計算機主(zhu)板(ban)、CPU(i5 或(huo)以(yi)上(shang))、RAM(8G 或(huo)以(yi)上(shang))、固(gu)態(tai)硬(ying)盤(250G 或(huo)以(yi)上(shang))、網(wang)卡(ka)、USB 接(jie)口、 VGA 接(jie)口、預(yu)裝 Windows 7操(cao)作系統(tong)、鐵(tie)電分析儀專(zhuan)用測試(shi)軟(ruan)件等。

可擴展部件：

可與高(gao)低溫(wen)冷熱(re)臺(tai)、高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)裝(zhuang)置、探(tan)針(zhen)臺(tai)、高(gao)壓(ya)放(fang)大(da)器(qi)、高阻(zu)計(ji)、阻(zu)抗分(fen)析儀、 激(ji)光(guang)幹(gan)涉儀、溫(wen)控(kong)控(kong)制器、數(shu)字源表(biao)等(deng)擴展。

Ø 塊體測試(shi)夾(jia)具(ju)：用於(yu)厚膜、塊體鐵(tie)電、擊穿測試(shi)可(ke)擴展變(bian)溫(wen)功能(neng)。

Ø 薄(bo)膜四(si)探(tan)針(zhen)探(tan)針(zhen)臺(tai)：室溫(wen)到(dao) 250℃可用於(yu)厚膜鐵(tie)電、壓電（e31）、熱(re)釋(shi)電測試(shi)。

Ø 薄(bo)膜寬(kuan)溫區(qu)探(tan)針(zhen)冷熱(re)臺(tai)：-196℃到(dao)+600℃可用於(yu)薄(bo)膜和厚(hou)膜變溫(wen)的(de)鐵(tie)電和熱(re)釋(shi)電測試(shi)。

Ø 薄(bo)膜探(tan)針(zhen)臺(tai)（國(guo)產(chan)）：室溫(wen)鐵(tie)電測試(shi)可用於(yu)薄(bo)膜和厚(hou)膜室溫(wen)鐵(tie)電性能(neng)測試(shi)。

  技術(shu)參數(shu)：

Ø內(nei)置電壓 (可外(wai)接高壓放大(da)器(qi)) ：±10V （可外(wai)接(jie)不(bu)同型號放(fang)大(da)器(qi)）

Ø可外(wai)接高壓放大(da)器(qi) （最(zui)大(da)可(ke)外接(jie)20KV高(gao)壓(ya)放大(da)器(qi)需配(pei)置高壓(ya)防護模(mo)塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV

ØADC位(wei)數(shu)：18位(wei)

Øzui小(xiao)電荷分(fen)辨率：<10fC

Øzui大(da)電荷分(fen)辨率：27.6mC

Øzui小(xiao)面積分辨率：<1μ²

Øzui大(da)面積分辨率：＞100cm²

Øzui大(da)電滯回(hui)線測(ce)試(shi)頻(pin)率：270KHz @10V

Øzuidi測試(shi)頻(pin)率：0.03Hz

Øzui小(xiao)脈沖(chong)寬(kuan)度 (此項指標(biao)優於(yu)進口設(she)備(bei)) ：0.5us

Øzui小(xiao)脈沖(chong)上(shang)升(sheng)時(shi)間(jian)(5V)(此項指標(biao)優於(yu)進口設(she)備(bei))：400ns

Øzui大(da)脈沖(chong)寬(kuan)度：1s

Ø脈沖(chong)間(jian)最(zui)大(da)延遲時(shi)間(jian)：40ks

Ø內(nei)部時(shi)鐘：25ns

Øzui小(xiao)的泄(xie)漏電流(liu) ：<1pA

Øzui大(da)小(xiao)信號上(shang)限(xian)頻(pin)率 (此項指標(biao)優於(yu)進口設(she)備(bei))：1MHz

Øzui小(xiao)小(xiao)信號上(shang)限(xian)頻(pin)率 (此項指標(biao)優於(yu)進口設(she)備(bei))：1MHz

Ø輸出(chu)上(shang)升(sheng)時(shi)間(jian)控(kong)制：10³ scaling

Ø輸入(ru)電容(rong)：~60fF

Ø阻抗輸入(ru)：Yes

鐵(tie)電系統(tong)主(zhu)機優勢在(zai)於(yu)他易(yi)於(yu)擴展、實用性，軟件系統(tong)兼容(rong)目前(qian)主(zhu)流(liu)品(pin)牌，軟件無縫(feng)切換。為用戶降(jiang)低(di)成(cheng)本(ben)。

█ 介電測試(shi)分(fen)析模塊

█ 熱(re)激(ji)發極化(hua)電流(liu)測試(shi)TSDC

█ 擊穿電壓測試(shi)

█ 高壓(ya)極化(hua)

█ 絕(jue)緣(yuan)電阻測試(shi)

█ 四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)

█ 壓電性能(neng)測試(shi)

█ 鐵(tie)電參數(shu)測試(shi)

█ 熱(re)釋(shi)電性能(neng)測試(shi)

█ 居裏(li)溫度(du)測試(shi)

價格說(shuo)明(ming)：所(suo)標(biao)價格均(jun)為參(can)考價格，可(ke)聯系客(ke)服或(huo)銷售人員具體報價。

售(shou)後(hou)服務:

1、保修(xiu)期(qi)內(nei)零部件免費換，保證(zheng)有(you)充足(zu)的部件或配件，並承擔(dan)修(xiu)理(li)、調換(huan)或退貨的實際費用，超過(guo)保修(xiu)期(qi)後(hou)，如需(xu)要換零部件時，已(yi)優惠價格8折(zhe)提供，僅收(shou)取配(pei)件費，在退換過程(cheng)中(zhong)我(wo)公司最(zui)多(duo)不超(chao)過(guo)2天(tian)，24小(xiao)時服務熱(re)線(xian)，1小(xiao)時內(nei)響應(ying)，維(wei)修(xiu)人員及時(shi)到(dao)達(da)現(xian)場維(wei)修(xiu)，排(pai)除故障(zhang)；如(ru)在(zai)12小(xiao)時內(nei)不(bu)能(neng)將故(gu)障(zhang)設(she)備(bei)修(xiu)好(hao)，將提(ti)供同等型(xing)號的(de)備(bei)用設備(bei)，待(dai)設(she)備修(xiu)好(hao)後(hou)，在收(shou)回備(bei)用設備(bei)。

2、提(ti)供完整的(de)隨(sui)機資料，包(bao)括完整(zheng)的(de)使用手冊等(deng)，並提供免費的培(pei)訓和資(zi)料。