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熱門(men)關鍵詞：功能(neng)材(cai)料電學(xue)綜合測試(shi)系統(tong)、絕(jue)緣(yuan)診斷(duan)測試(shi)系統(tong)、高(gao)低溫(wen)介電溫譜(pu)測(ce)試(shi)儀、極化(hua)裝(zhuang)置(zhi)與電源、高壓放大器(qi)、PVDV薄(bo)膜極(ji)化(hua)、高(gao)低(di)溫冷(leng)熱臺(tai)、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣(yuan)材(cai)料電學(xue)性能(neng)綜合測試(shi)平(ping)臺(tai)、電擊(ji)穿強(qiang)度(du)試驗(yan)儀、耐(nai)電弧(hu)試驗(yan)儀、高壓(ya)漏電起痕測(ce)試(shi)儀、沖擊(ji)電壓試驗(yan)儀、儲能材(cai)料電學(xue)測控(kong)系統(tong)、壓(ya)電傳感器(qi)測控系統(tong)。

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溫控探(tan)針臺(tai)冷(leng)熱臺(tai)測試(shi)儀器(qi)

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溫(wen)控探(tan)針臺(tai)冷(leng)熱臺(tai)測試(shi)儀器(qi)，通過杠桿式(shi)支(zhi)架，使用的是(shi)彎針探(tan)針。相(xiang)比傳統(tong)的直針探(tan)針，這種設計(ji)不僅(jin)點針準確(que)，而且(qie)點(dian)針力度(du)大，和(he)樣(yang)品的電接(jie)觸(chu)性較(jiao)好。
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華測(ce)儀器(qi)系列(lie)半(ban)導體封裝材(cai)料高低(di)溫(wen)冷(leng)熱臺(tai)

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華(hua)測儀器(qi)系列(lie)半(ban)導體封裝材(cai)料高低(di)溫(wen)冷(leng)熱臺(tai)，它(ta)能夠(gou)在不(bu)同測(ce)量條件(jian)和(he)測量(liang)模(mo)式(shi)下(xia)進(jin)行連(lian)續和(he)高(gao)速的測量。冷(leng)熱臺(tai)可配(pei)合阻抗分析儀、高阻計、電化(hua)學(xue)工作(zuo) 站、數(shu)字原表設備(bei)進(jin)行功能(neng)材(cai)料電學(xue)的相(xiang)關測試(shi)，采用直接(jie)聯(lian)接(jie)測(ce)試儀表以(yi)減少測試導線的影響，同時(shi)電極加熱采用直流(liu)電極加熱方(fang)式(shi)，減少電網諧(xie)波對測量(liang)儀表的幹擾。
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