華測(ce)儀(yi)器(qi)系列半導體封(feng)裝材料(liao)高低(di)溫冷(leng)熱臺(tai)

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華測(ce)儀(yi)器(qi)Huace650T系列高低(di)溫冷(leng)熱臺(tai)

華測(ce)儀(yi)器(qi)系列半導體封(feng)裝材料(liao)高低(di)溫冷(leng)熱臺(tai)

Huace650T高低(di)溫冷(leng)熱臺(tai)由華測(ce)儀(yi)器(qi)多位工(gong)程師(shi)多年開(kai)發，冷(leng)熱臺(tai)可配合阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)、高阻計(ji)、電化(hua)學(xue)工(gong)作 站、數(shu)字(zi)原(yuan)表設(she)備進行功(gong)能(neng)材料(liao)電(dian)學(xue)的(de)相關測(ce)試(shi)，采(cai)用直(zhi)接聯(lian)接(jie)測(ce)試(shi)儀(yi)表(biao)以減少(shao)測(ce)試(shi)導線(xian)的(de)影(ying)響，同時(shi)電(dian)極(ji)加(jia)熱(re)采(cai)用直(zhi)流電(dian)極加(jia)熱(re)方(fang)式(shi)，減少(shao)電網(wang)諧波(bo)對(dui)測(ce)量(liang)儀(yi)表(biao)的(de)幹(gan)擾。同時(shi)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)上(shang)也增(zeng)加(jia)了電阻(zu)測(ce)試(shi)、TSDC等測(ce)量(liang)功(gong)能(neng)。它(ta)能(neng)夠在不(bu)同(tong)測(ce)量(liang)條件和測(ce)量(liang)模(mo)式(shi)下(xia)進行連(lian)續和(he)高速(su)的(de)測(ce)量(liang)。

公司(si)主營產品(pin)：

材料(liao)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)：鐵電參數(shu)分(fen)析(xi)儀(yi)、高溫壓電(dian)系數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)、高溫介(jie)電(dian)溫譜儀(yi)、高壓極(ji)化(hua)裝置、高溫退火(huo)爐(lu)、高溫閃燒試(shi)驗、壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci)極(ji)化(hua)裝置、壓(ya)電(dian)系數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)、壓(ya)電薄膜極(ji)化(hua)裝置、阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)、高阻計(ji)、靜(jing)電計(ji)、功(gong)能(neng)材料(liao)綜(zong)合測(ce)試(shi)系統(tong)等。

絕(jue)緣材料(liao)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)：絕(jue)緣診(zhen)斷測(ce)試(shi)儀(yi)、電(dian)壓擊穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)、絕(jue)緣材料(liao)無(wu)局(ju)放(fang)測(ce)量(liang)裝置、耐(nai)電(dian)弧(hu)試(shi)驗儀(yi)、表(biao)面/體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)、高阻計(ji)、低(di)壓漏電起痕(hen)試(shi)驗儀(yi)、高壓漏電起痕(hen)試(shi)驗儀(yi)、電(dian)弱點測(ce)試(shi)儀(yi)、絕(jue)緣材料(liao)空(kong)間電(dian)荷測(ce)試(shi)儀(yi)、漆包(bao)線(xian)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀(yi)、絕(jue)緣油介(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)及體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)、絕(jue)緣油擊(ji)穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)等(deng)。