D33壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)_第(di)(2)頁-北(bei)京(jing)華測(ce)試驗(yan)儀(yi)器(qi)有(you)限(xian)公司(si)

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功(gong)能材(cai)料測(ce)試儀(yi)器(qi)

壓(ya)電(dian)材(cai)料電(dian)場應(ying)變(bian)特性的測試(shi)儀(yi) 激(ji)光測振(zhen)儀(yi) 傳(chuan)感(gan)器多(duo)功能綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統先進(jin)功(gong)能材(cai)料電(dian)測綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統長(chang)期耐腐(fu)蝕(shi)老化試驗(yan)平(ping)臺(tai)- 高(gao)電(dian)場介電(dian)、損耗(hao)、漏(lou)電(dian)流測(ce)試(shi)系(xi)統阻抗分(fen)析(xi)儀(yi) 鐵(tie)電(dian)綜(zong)合材(cai)料測(ce)試系(xi)統鐵電(dian)分析(xi)儀(yi) 高(gao)壓(ya)功率(lv)放(fang)大(da)器 D33壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi) 高(gao)溫(wen)介電(dian)溫(wen)譜測試儀(yi) 熱(re)釋(shi)電(dian)測試(shi)儀(yi) TSDC熱(re)刺(ci)激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀(yi) 高(gao)壓(ya)極化裝置(zhi) 高(gao)低(di)溫(wen)冷熱(re)臺(tai) 簡易探針臺(tai) 高(gao)溫(wen)四探針測(ce)試儀(yi) 多(duo)通(tong)道(dao)電(dian)流采(cai)集(ji)系(xi)統高(gao)真(zhen)空退(tui)火爐(lu) 電(dian)學綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統高(gao)溫(wen)管式爐(lu)測(ce)試(shi)儀(yi) 漆包線擊(ji)穿耐壓(ya)試驗(yan)儀(yi) 電(dian)化學遷(qian)移測試(shi)系(xi)統水平垂(chui)直燃燒(shao)測定(ding)機(ji) 陶(tao)瓷(ci)材(cai)料閃燒(shao)試驗(yan)裝置(zhi) 導(dao)通(tong)電(dian)評估(gu)系(xi)統差(cha)熱(re)分(fen)析(xi)儀(yi) 醫用(yong)接地(di)電(dian)阻

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HPZT-800高(gao)溫(wen)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi) 適(shi)用(yong)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci) 高(gao)分(fen)子

更新時間(jian)：2024-12-12

型(xing)號：HPZT-800

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高(gao)溫(wen)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi) 適(shi)用(yong)壓(ya)電(dian)陶(tao)瓷(ci) 高(gao)分(fen)子，可測量(liang)壓(ya)電(dian)材(cai)料的介電(dian)常數(shu)、居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)、熱(re)釋(shi)電(dian)系(xi)數(shu)、縱向壓(ya)電(dian)應變(bian)常數(shu)d33、機(ji)電(dian)耦合系(xi)數(shu)等參數(shu),它是壹款(kuan)功(gong)能壓(ya)電(dian)材(cai)料測(ce)試裝置(zhi)。
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居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)

更(geng)新時間(jian)：2023-12-14

型(xing)號：

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居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)運用(yong)三電(dian)極法(fa)設計(ji)原理測(ce)量(liang)。重復性與(yu)穩(wen)定性好(hao)，采(cai)用(yong)雙(shuang)屏蔽(bi)高(gao)頻(pin)測試(shi)線(xian)纜(lan)，提高(gao)測(ce)試(shi)參(can)數(shu)的精(jing)確(que)度(du)，同時抗(kang)擾(rao)能力(li)強。本(ben)設(she)備(bei)也可應用(yong)於(yu)產(chan)品(pin)檢(jian)測(ce)以(yi)及新材(cai)料電(dian)學研究(jiu)等用(yong)途(tu)。
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HPZT-200華測(ce)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)

更(geng)新時間(jian)：2025-01-14

型(xing)號：HPZT-200

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華測(ce)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)采(cai)用(yong)利用(yong)數(shu)字(zi)合成(cheng)DDS芯片(pian)的函(han)數(shu)發(fa)生(sheng)器(qi)，為(wei)激(ji)振(zhen)器提供穩(wen)定頻(pin)率。采(cai)用(yong)激(ji)振器，以(yi)實(shi)現(xian)振動(dong)頻(pin)率。電(dian)荷(he)采(cai)用(yong)采(cai)用(yong)高(gao)阻(zu)放(fang)電(dian)荷(he)放(fang)大(da)器。以(yi)保證(zheng)測(ce)試數(shu)據(ju)的精(jing)度(du)。
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HPZT-200體(ti)積(ji)小的靜態(tai)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)d33測(ce)量(liang)儀(yi)

更(geng)新時間(jian)：2025-09-15

型(xing)號：HPZT-200

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體(ti)積(ji)小的靜態(tai)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)d33測(ce)量(liang)儀(yi) ，其分(fen)辨率(lv)可達(da)0.01pC/N\,采(cai)用(yong)多(duo)種測量(liang)模(mo)式(shi)，在測量(liang)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)的同時，可記(ji)錄d3 1 , d15 , 電(dian)容、電(dian)量(liang)、tan δ等參數(shu)，並(bing)也可計(ji)算g33 、介電(dian)常數(shu)和(he)εT3 3等。可廣泛用(yong)於(yu)鐵(tie)電(dian)、壓(ya)電(dian)材(cai)料以(yi)及相(xiang)關(guan)器(qi)件的評價(jia)與(yu)測(ce)試；
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HPZT-200靜態(tai)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)d33測(ce)量(liang)儀(yi)

更(geng)新時間(jian)：2025-09-18

型(xing)號：HPZT-200

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靜態(tai)壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)d33測(ce)量(liang)儀(yi)本(ben)儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)利用(yong)數(shu)字(zi)合成(cheng)DDS芯片(pian)的函(han)數(shu)發(fa)生(sheng)器(qi)，為(wei)激(ji)振(zhen)器提供穩(wen)定頻(pin)率。采(cai)用(yong)激(ji)振器，以(yi)實(shi)現(xian)精(jing)準(zhun)的振動(dong) 頻(pin)率。電(dian)荷(he)采(cai)用(yong)采(cai)用(yong)高(gao)阻(zu)放(fang)電(dian)荷(he)放(fang)大(da)器。以(yi)保證(zheng)測(ce)試數(shu)據(ju)的精(jing)度(du)。
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COMTESSE熱(re)電(dian)測試(shi)儀(yi)器(qi)

更(geng)新時間(jian)：2023-08-07

型(xing)號：COMTESSE

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熱(re)電(dian)測試(shi)儀(yi)器(qi)主(zhu)要用(yong)於(yu)熱(re)電(dian)測試(shi)。包括：熱(re)導(dao)率(lv)thermal conductivity, 電(dian)導率(lv)electrical conductivity, Harman ZT等隨(sui)溫(wen)度(du)的變(bian)化。
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huaceCMA陶(tao)瓷(ci)多(duo)層(ceng)執行(xing)器(qi)測(ce)試儀(yi)

更(geng)新時間(jian)：2023-08-07

型(xing)號：huaceCMA

瀏覽(lan)量(liang)：1746

陶(tao)瓷(ci)多(duo)層(ceng)執行(xing)器(qi)測(ce)試儀(yi)本(ben)設(she)備(bei)專(zhuan)門用(yong)於(yu)陶(tao)瓷(ci)多(duo)層(ceng)執行(xing)器(qi)在動態(tai)加載(zai)力(li)和(he)靜態(tai)加載(zai)力(li)條件下(xia)的研究(jiu)，並(bing)且可以從(cong)室(shi)溫(wen)到200℃的測試(shi)。
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huacePES-Cryo低(di)溫(wen)塊(kuai)體(ti)壓(ya)電(dian)分析(xi)儀(yi)/其他(ta)

更新時間(jian)：2023-08-07

型(xing)號：huacePES-Cryo

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低(di)溫(wen)塊(kuai)體(ti)壓(ya)電(dian)分析(xi)儀(yi)/其他(ta)主要用(yong)於(yu)高(gao)低(di)溫(wen)下(xia)的壓(ya)電(dian)塊體(ti)陶(tao)瓷(ci)樣(yang)品(pin)的全面(mian)電(dian)和(he)機(ji)電(dian)的表征。壓(ya)電(dian)測試(shi)溫(wen)度(du)可以達(da)到-100℃到+600℃。
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