D33壓電系(xi)數(shu)測試(shi)儀_第(di)(4)頁(ye)-北京華測試(shi)驗(yan)儀器有(you)限(xian)公(gong)司(si)

當前位(wei)置：首頁(ye) > 產(chan)品(pin)中心 > 功(gong)能(neng)材料(liao)測試(shi)儀器 > D33壓(ya)電(dian)系(xi)數(shu)測試(shi)儀

產品(pin)分類(lei)

Product Category

功能(neng)材料(liao)測試(shi)儀器

壓(ya)電(dian)材料(liao)電場應(ying)變特(te)性的測試(shi)儀激光(guang)測振(zhen)儀傳感器(qi)多(duo)功(gong)能(neng)綜合(he)測(ce)試(shi)系(xi)統先進(jin)功能(neng)材料(liao)電測(ce)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)系(xi)統長期耐(nai)腐蝕(shi)老化試(shi)驗(yan)平(ping)臺- 高(gao)電場介電、損耗、漏(lou)電流(liu)測試(shi)系(xi)統阻抗(kang)分析儀鐵電(dian)綜(zong)合(he)材料(liao)測試(shi)系(xi)統鐵電分析儀高(gao)壓功率放(fang)大器 D33壓(ya)電系(xi)數(shu)測試(shi)儀高(gao)溫(wen)介電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀熱釋電測試(shi)儀 TSDC熱刺(ci)激(ji)電流測(ce)試(shi)儀高(gao)壓極化(hua)裝(zhuang)置高(gao)低溫(wen)冷(leng)熱(re)臺(tai) 簡(jian)易(yi)探(tan)針(zhen)臺(tai) 高(gao)溫(wen)四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)儀多(duo)通(tong)道電(dian)流采(cai)集(ji)系(xi)統高(gao)真空退(tui)火(huo)爐電(dian)學綜合(he)測(ce)試(shi)系(xi)統高(gao)溫(wen)管(guan)式爐測(ce)試(shi)儀漆(qi)包(bao)線擊穿(chuan)耐(nai)壓(ya)試(shi)驗(yan)儀電化(hua)學遷移(yi)測試(shi)系(xi)統水平垂(chui)直(zhi)燃(ran)燒(shao)測(ce)定(ding)機陶瓷材料(liao)閃燒(shao)試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置導通電評估系(xi)統差熱分析儀醫用接地(di)電阻(zu)

相關文章(zhang)

HCYD-800華測壓(ya)電(dian)材料(liao)居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)測(ce)試(shi)儀機電耦(ou)合(he)系(xi)數(shu)

更(geng)新(xin)時(shi)間：2024-06-12

型號(hao)：HCYD-800

瀏(liu)覽(lan)量：2117

華測壓(ya)電(dian)材料(liao)居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)測(ce)試(shi)儀機電耦(ou)合(he)系(xi)數(shu)可(ke)以分析被(bei)測樣品(pin)D33常(chang)數(shu)隨溫(wen)度(du)、頻率、時間變化的曲(qu)線。通(tong)過軟(ruan)件將(jiang)這(zhe)些(xie)變化曲(qu)線的溫(wen)度(du)譜(pu)、時(shi)間譜等(deng)集(ji)成(cheng)壹體並(bing)進(jin)行分析測量並(bing)可(ke)以直(zhi)接得(de)出(chu)樣(yang)品的壓電(dian)溫(wen)譜(pu)圖。對(dui)試(shi)樣(yang)大小(xiao)及(ji)形(xing)狀(zhuang)無(wu)特(te)殊(shu)要(yao)求(qiu)，圓(yuan)片(pian)、圓(yuan)環(huan)、圓管、方(fang)塊(kuai)、長(chang)條(tiao)、柱(zhu)形(xing)及(ji)半球殼等(deng)均可(ke)測(ce)量(liang)，可(ke)廣(guang)泛用於鐵(tie)電(dian)、壓電(dian)材料(liao)（壓電(dian)陶(tao)瓷、高(gao)分子）以及(ji)相關(guan)器件的評價(jia)與(yu)測試(shi)。
了(le)解(jie)詳(xiang)情(qing)
HPZT-200壓電(dian)材料(liao)居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)測(ce)試(shi)儀

更(geng)新(xin)時(shi)間：2023-08-29

型號(hao)：HPZT-200

瀏(liu)覽(lan)量：1993

壓(ya)電材料(liao)居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)測(ce)試(shi)儀可(ke)以分析被(bei)測樣品(pin)D33常(chang)數(shu)隨溫(wen)度(du)、頻率、時間變化的曲(qu)線。通(tong)過軟(ruan)件將(jiang)這(zhe)些(xie)變化曲(qu)線的溫(wen)度(du)譜(pu)、時(shi)間譜等(deng)集(ji)成(cheng)壹體並(bing)進(jin)行分析測量並(bing)可(ke)以直(zhi)接得(de)出(chu)樣(yang)品的壓電(dian)溫(wen)譜(pu)圖。對(dui)試(shi)樣(yang)大小(xiao)及(ji)形(xing)狀(zhuang)無(wu)特(te)殊(shu)要(yao)求(qiu)，圓(yuan)片(pian)、圓(yuan)環(huan)、圓管、方(fang)塊(kuai)、長(chang)條(tiao)、柱(zhu)形(xing)及(ji)半球殼等(deng)均可(ke)測(ce)量(liang)，可(ke)廣(guang)泛用於鐵(tie)電(dian)、壓電(dian)材料(liao)（壓電(dian)陶(tao)瓷、高(gao)分子）以及(ji)相關(guan)器件的評價(jia)與(yu)測試(shi)。
了(le)解(jie)詳(xiang)情(qing)
HPZT-200陶瓷(ci)功(gong)能(neng)材料(liao)靜(jing)態(tai)壓電(dian)常數(shu)測試(shi)儀

更(geng)新(xin)時(shi)間：2025-09-11

型號(hao)：HPZT-200

瀏(liu)覽(lan)量：3141

陶(tao)瓷功能(neng)材料(liao)靜(jing)態(tai)壓電(dian)常數(shu)測試(shi)儀，可(ke)以分析被(bei)測樣品(pin)D33常(chang)數(shu)隨溫(wen)度(du)、頻率、時間變化的曲(qu)線。通(tong)過軟(ruan)件將(jiang)這(zhe)些(xie)變化曲(qu)線的溫(wen)度(du)譜(pu)、時(shi)間譜等(deng)集(ji)成(cheng)壹體並(bing)進(jin)行分析測量並(bing)可(ke)以直(zhi)接得(de)出(chu)樣(yang)品的壓電(dian)溫(wen)譜(pu)圖。對(dui)試(shi)樣(yang)大小(xiao)及(ji)形(xing)狀(zhuang)無(wu)特(te)殊(shu)要(yao)求(qiu)，圓(yuan)片(pian)、圓(yuan)環(huan)、圓管、方(fang)塊(kuai)、長(chang)條(tiao)、柱(zhu)形(xing)及(ji)半球殼等(deng)均可(ke)測(ce)量(liang)，可(ke)廣(guang)泛用於鐵(tie)電(dian)、壓電(dian)材料(liao)（壓電(dian)陶(tao)瓷、高(gao)分子）以及(ji)相關(guan)器件的評價(jia)與(yu)測試(shi)。
了(le)解(jie)詳(xiang)情(qing)

共(gong) 27 條(tiao)記(ji)錄(lu)，當前 4 / 4 頁(ye) 首(shou)頁(ye) 上(shang)壹(yi)頁(ye) 下(xia)壹(yi)頁(ye) 末(mo)頁(ye) 跳轉(zhuan)到第(di)頁(ye)