高(gao)溫介電(dian)溫譜(pu)測試系統擴(kuo)展能(neng)力強可(ke)實現壹(yi)機多(duo)用(yong)！

   高溫介電(dian)溫譜(pu)測試系統擴(kuo)展能(neng)力強可(ke)實現壹(yi)機多(duo)用(yong)！

  高溫介電(dian)溫譜(pu)測試系統運(yun)用(yong)三電極法設計(ji)原(yuan)理(li)測量。並(bing)參(can)考(kao)美國 A.S.T.M標(biao)準。重(zhong)復(fu)性與穩定性更好，采(cai)用(yong)雙(shuang)屏蔽(bi)高頻測試線纜，提(ti)高(gao)測試參數的(de)精(jing)確(que)度(du)，同(tong)時抗幹擾(rao)能(neng)力更強。本設備(bei)也可(ke)應用(yong)於產品檢(jian)測以(yi)及新(xin)材料電學(xue)性能研究(jiu)等用(yong)途(tu)。搭配(pei)Labview系統開發的Huacepro軟(ruan)件(jian)，具備(bei)彈性的自定義功(gong)能(neng)，可(ke)進行(xing)介電(dian)溫譜(pu)、頻(pin)譜(pu)、升(sheng)溫速(su)度(du)、測量參數等(deng)設(she)置，符合壓電(dian)陶(tao)瓷與(yu)其它新(xin)材料測試多樣化的(de)需求(qiu)。過壓、過電流(liu)、超溫等(deng)異(yi)常(chang)情況(kuang)下以(yi)保證測試過程的安全(quan)；資(zi)料(liao)保存機制，當(dang)遇(yu)到(dao)電腦異常(chang)瞬(shun)時(shi)斷(duan)電(dian)可(ke)將(jiang)資料保存於控制器中，不丟(diu)失試驗(yan)數據(ju)，設備(bei)重(zhong)新(xin)啟動(dong)後可(ke)恢(hui)復原(yuan)有試驗(yan)數據(ju)。

   華測儀器通過多年研(yan)究(jiu)開發了壹(yi)種可(ke)實現高(gao)精(jing)度(du)，高(gao)反射率的(de)拋物面(mian)與(yu)高(gao)質(zhi)量的(de)加熱源(yuan)相(xiang)配(pei)置，在(zai)高(gao)速(su)加(jia)熱及高(gao)速冷(leng)卻(que)時(shi)，具(ju)有良(liang)好的(de)溫度(du)分(fen)布(bu)。 可(ke)實現寬(kuan)域均(jun)熱區，高速加熱、高速(su)冷卻(que) ，用(yong)石(shi)英管保護加熱試樣，無氣(qi)氛(fen)汙染。可(ke)在(zai)高(gao)真(zhen)空(kong)，高(gao)純度(du)氣(qi)體中加熱 。設備(bei)可(ke)組成(cheng)均(jun)熱高速(su)加熱爐(lu)，溫度(du)斜率爐(lu)，階段加熱爐(lu)。它提高(gao)了加(jia)熱試驗(yan)能力(li)。同(tong)電阻爐(lu)和其他爐(lu)相(xiang)比，紅(hong)外(wai)線(xian)反(fan)射爐(lu)節(jie)省了升(sheng)溫時(shi)間(jian)和保持時(shi)間(jian)及(ji)自(zi)然冷卻(que)到(dao)室溫所(suo)需時(shi)間(jian)，再(zai)試(shi)驗(yan)中也可(ke)改(gai)寫(xie)設(she)定溫度(du)值(zhi)。從各(ge)方(fang)面(mian)講(jiang)，都節(jie)省試(shi)驗(yan)時間(jian)並(bing)提(ti)高(gao)實驗(yan)速度(du)。同(tong)高頻爐(lu)相(xiang)比，不(bu)需特殊的(de)安(an)裝條件(jian)及對加熱試樣的要(yao)求(qiu)。同(tong)電阻爐(lu)壹樣安裝(zhuang)簡(jian)單，有冷卻(que)系(xi)統安全(quan)可(ke)靠(kao)。以(yi)提高(gao)試(shi)驗(yan)人員(yuan)的工作效率，實現全(quan)新(xin)的溫度(du)控(kong)制操(cao)作(zuo)！