MLCC多通(tong)道介電溫譜儀(yi)/陶瓷(ci)薄(bo)膜(mo)半導(dao)體(ti)塊狀

      MLCC多(duo)通(tong)道介電溫譜儀(yi)/陶瓷(ci)薄(bo)膜(mo)半導(dao)體(ti)塊狀

壹(yi)、升(sheng)溫迅(xun)速(su)高溫介電溫譜儀(yi)組成部(bu)分

它(ta)由硬(ying)件設(she)備和(he)測(ce)量軟件組成，包括高溫測(ce)試平臺(tai)、高溫測(ce)試夾(jia)具、阻抗分析儀(yi)和(he)高溫介電測(ce)量系統軟件四(si)個組成部(bu)分。它(ta)為(wei)樣品提供壹(yi)個高溫環(huan)境(jing)；高溫測(ce)試夾(jia)具提供待(dai)測(ce)試樣品的測(ce)試平臺(tai)；阻抗分析儀(yi)則負責(ze)測(ce)試各組參數(shu)數(shu)據。後(hou)，再(zai)通(tong)過測(ce)量軟件將這些(xie)硬(ying)件設(she)備的(de)功能(neng)整合(he)在(zai)壹(yi)起，形成(cheng)壹(yi)套(tao)由實(shi)驗方(fang)案設(she)計(ji)到(dao)溫度控制(zhi)、參數(shu)測(ce)量、圖(tu)形(xing)數(shu)據顯(xian)示(shi)與(yu)數(shu)據分析於壹(yi)體的測(ce)量系統。

      二(er)、升(sheng)溫(wen)迅(xun)速(su)高溫介電溫譜儀(yi)特點(dian)

　　可(ke)以實(shi)現常(chang)溫(wen)、高溫、低(di)頻條(tiao)件(jian)下(xia)測(ce)量塊體樣品的介電；

　　可(ke)以測(ce)量阻抗Z、電抗X、導(dao)納(na)Y、電導G、電納(na)B、電感L、介電損(sun)耗(hao)D等(deng)物理(li)量；

　　可(ke)以直(zhi)接(jie)測(ce)量介電常(chang)數(shu)和(he)損(sun)耗(hao)，阻(zu)抗譜Cole-Cole圖(tu)；

　　集(ji)成壹(yi)體化設(she)計(ji)，觸摸屏控制(zhi)和顯(xian)示(shi)，具有(you)易用(yong)性(xing)；

　　電動升(sheng)降平臺(tai)，彈(dan)簧(huang)電極系(xi)統，操作(zuo)簡(jian)單(dan)，使(shi)用(yong)方(fang)便(bian)；

　　系(xi)統自(zi)帶(dai)溫(wen)度功能(neng)，讓測(ce)量溫度(du)盡可(ke)能(neng)與(yu)樣品實際(ji)溫(wen)度保(bao)持壹(yi)致；

　　系(xi)統采用(yong)PID模(mo)糊算(suan)法(fa)，具有(you)控溫(wen)、超溫(wen)保(bao)護、壹(yi)鍵自(zi)整(zheng)定、故(gu)障診(zhen)斷(duan)功能(neng)；

高溫條(tiao)件(jian)下(xia)模(mo)擬(ni)導(dao)線，可(ke)有(you)效增(zeng)加(jia)測(ce)試的(de)頻率帶(dai)寬(kuan)，減小(xiao)電爐絲的(de)交流幹擾

三(san)、技術(shu)指標(biao)

溫(wen)度範(fan)圍：室溫(wen)-800℃，（反(fan)射爐加溫(wen)）配水冷(leng)機）；

控(kong)溫精度：±0.5℃；

測(ce)量精度：±0.25℃；

升(sheng)溫斜(xie)率：1-800℃/min（*快可(ke)10秒(miao)達800度(du)）；

降溫(wen)斜(xie)率：1-200℃/min（可(ke)自(zi)調(tiao)整(zheng)）；

頻率範(fan)圍：20Hz-1MHz；

測(ce)量精度：0.05%；

樣品規(gui)格(ge)：直徑(jing)：20mm以內(nei)；厚度：5mm以內；

電極材(cai)料：鉑金(jin)；

測(ce)量方(fang)式(shi)：2線-4線測(ce)量方(fang)式(shi)；

供電：220V±10%，50Hz；

工(gong)作環(huan)境(jing)：0℃-55℃；

存(cun)儲(chu)條(tiao)件(jian)：-40℃-70℃；

尺(chi)寸(cun)：750mmX660mm×360mm；

重(zhong)量：25kg

四(si)、產品優(you)勢(shi)

華測(ce)公司為(wei)針(zhen)對新材料電檢(jian)測(ce)儀(yi)器(qi)全系列廠(chang)家，試驗效率高。

可(ke)實現高溫下(xia)的(de)勻(yun)速、階梯(ti)、降溫(wen)下(xia)的(de)全(quan)溫度範(fan)圍的測(ce)試。

可(ke)實現小(xiao)於(yu)±0.5℃溫度測(ce)量誤差(cha)（限反(fan)射爐），jing度控(kong)制(zhi)在(zai)±0.25℃以內(nei)。

五、使(shi)用(yong)範(fan)圍

可(ke)測(ce)量陶瓷(ci)、薄(bo)膜(mo)、半導(dao)體(ti)等(deng)塊狀材料高溫介電特性(xing)，可同(tong)時(shi)測(ce)量及(ji)輸(shu)出(chu)頻率譜、電壓譜、偏壓(ya)譜、溫度(du)譜、介電溫譜的測(ce)量數(shu)據與(yu)圖(tu)形(xing)。