高溫(wen)四(si)探針(zhen)測試儀采(cai)用(yong)四(si)探針(zhen)雙電(dian)測量(liang)方(fang)法，適用於生(sheng)產企業、高等院(yuan)校、科(ke)研部(bu)門(men)，是(shi)檢驗(yan)和(he)分析導(dao)體材(cai)料和(he)半導(dao)體材(cai)料在(zai)高溫(wen)、真空及氣(qi)氛條(tiao)件(jian)下(xia)測量(liang)的(de)壹種(zhong)重(zhong)要的工(gong)具(ju)。本(ben)儀器(qi)配(pei)置各類(lei)測量(liang)裝(zhuang)置可(ke)以測試不同(tong)材(cai)料。液晶顯示(shi)，無(wu)需(xu)人(ren)工(gong)計(ji)算(suan)，並(bing)帶有溫(wen)度補(bu)償(chang)功能。
是(shi)為(wei)了滿足(zu)材(cai)料在(zai)高溫(wen)環境下(xia)的阻抗特性(xing)測量(liang)需(xu)求(qiu)而設(she)計(ji)的。它(ta)由(you)硬件(jian)設(she)備和(he)測量(liang)軟(ruan)件(jian)組成(cheng)，包(bao)括高溫(wen)測試平(ping)臺、高溫(wen)四(si)探針(zhen)夾(jia)具(ju)、電阻率測試儀和(he)高溫(wen)電阻率測量(liang)系(xi)統軟(ruan)件(jian)四(si)個(ge)組成(cheng)部(bu)分。
測試應(ying)用範圍
高溫(wen)四(si)探針(zhen)測試儀是(shi)運(yun)用(yong)四(si)探針(zhen)測量(liang)原(yuan)理(li)測試電(dian)阻率/方阻的(de)多用(yong)途綜合測量(liang)儀器(qi)。根據(ju)不同(tong)材(cai)料特性(xing)需(xu)要，配有多款(kuan)測試探頭(tou)：
1）高耐磨碳(tan)化鎢(wu)探針(zhen)探頭(tou)，測量(liang)矽類半導(dao)體、金(jin)屬(shu)、導(dao)電塑料(liao)類(lei)等硬質(zhi)材(cai)料的(de)電阻率/方阻；
2）球形(xing)鍍(du)金(jin)銅合金(jin)探針(zhen)探頭(tou)，測量(liang)柔(rou)性材(cai)料導(dao)電薄(bo)膜(mo)、金(jin)屬(shu)塗層或薄(bo)膜(mo)、陶瓷或玻璃等基底(di)上(shang)導(dao)電膜(mo)（ITO膜(mo)）或納米(mi)塗層等半導(dao)體材(cai)料的(de)電阻率/方阻；
3）配(pei)合(he)四(si)端子測試夾(jia)具(ju)，測量(liang)電(dian)阻器(qi)體電(dian)阻、金(jin)屬(shu)導(dao)體的(de)低、中值(zhi)電阻以及開(kai)關(guan)類(lei)接(jie)觸(chu)電阻；
4）高溫(wen)四(si)探針(zhen)測試儀探頭(tou)可(ke)測試電(dian)池(chi)極(ji)片(pian)等箔(bo)上(shang)塗層電(dian)阻率/方阻。
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