北京華測(ce)*四(si)探針測(ce)試(shi)儀(yi)

四探針測(ce)試(shi)儀(yi)

產(chan)品名稱：四探(tan)針測(ce)試(shi)儀(yi)

產(chan)品型(xing)號(hao)：HCTZ-2S

品牌：北京(jing)華測(ce)

產(chan)品介(jie)紹(shao)

HCTZ-2S北(bei)京(jing)華測(ce)*四探針測(ce)試(shi)儀(yi)是運用(yong)四(si)探針測(ce)量(liang)原(yuan)理的(de)多(duo)用(yong)途(tu)綜合測(ce)量(liang)設備。儀器由主(zhu)機、測(ce)試(shi)臺(tai)、四探針探(tan)頭(tou)、計算(suan)機等部分組成，測(ce)量(liang)數據(ju)既(ji)可由主(zhu)機直(zhi)接顯(xian)示，亦(yi)可由計(ji)算(suan)機控制(zhi)測(ce)試(shi)采集測(ce)試(shi)數(shu)據到(dao)計算(suan)機中加以(yi)分析，然(ran)後(hou)以(yi)表格(ge)，圖形(xing)方(fang)式統(tong)計(ji)分析顯示測(ce)試(shi)結(jie)果。

HCTZ-2S雙電測(ce)數(shu)字(zi)式北(bei)京(jing)華測(ce)*四(si)探針測(ce)試(shi)儀(yi)是運用(yong)直(zhi)線(xian)或方形四探(tan)針雙位(wei)測(ce)量(liang)。利(li)用(yong)電流探(tan)針、電壓探(tan)針的(de)變(bian)換，采用兩次(ci)電測(ce)量(liang)，對(dui)數據(ju)進行(xing)雙電測(ce)分析，自(zi)動(dong)消(xiao)除(chu)樣(yang)品幾(ji)何尺(chi)寸(cun)、邊(bian)界效(xiao)應(ying)以(yi)及探(tan)針不(bu)等距(ju)和機(ji)械遊移等因(yin)素(su)對(dui)測(ce)量(liang)結果(guo)的(de)影響，它(ta)與單電測(ce)直(zhi)線(xian)或方形四探(tan)針相(xiang)比(bi)，大(da)大(da)提高(gao)準確(que)度，也可(ke)應(ying)用(yong)於(yu)產(chan)品檢(jian)測(ce)以(yi)及新(xin)材料(liao)電學研究等用(yong)途(tu)。

四探針軟件測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)是(shi)壹個(ge)運行(xing)在(zai)計算(suan)機上擁有友(you)好測(ce)試(shi)界面(mian)的(de)用(yong)戶程序(xu)，通(tong)過(guo)此測(ce)試(shi)程序(xu)輔(fu)助使用戶簡(jian)便(bian)地進行(xing)各項測(ce)試(shi)及獲得(de)測(ce)試(shi)數(shu)據並(bing)對(dui)測(ce)試(shi)數(shu)據進行(xing)統(tong)計(ji)分析。

測(ce)試(shi)程序(xu)控(kong)制(zhi)四(si)探針進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)並(bing)采集測(ce)試(shi)數(shu)據，把(ba)采集到(dao)的數(shu)據(ju)在(zai)計(ji)算(suan)機中加以(yi)分析，然(ran)後(hou)把(ba)測(ce)試(shi)數(shu)據以(yi)表格(ge)，圖形(xing)直(zhi)觀(guan)地記錄(lu)、顯示出(chu)來。用戶可(ke)對(dui)采集到(dao)的數(shu)據(ju)在(zai)電腦中(zhong)保(bao)存或者打印以(yi)備日(ri)後(hou)參考和查(zha)看，還(hai)可(ke)以(yi)把(ba)采集到(dao)的數(shu)據(ju)輸(shu)出(chu)到(dao)Excel中，讓(rang)用戶對(dui)數據(ju)進行(xing)各種數據分析。

產(chan)品應(ying)用(yong)

HCTZ-2S四探針采用四探(tan)針雙電測(ce)量(liang)方法，適(shi)用於(yu)生產(chan)企(qi)業(ye)、高(gao)等院校(xiao)、科研部門(men)，是檢(jian)驗和分析導(dao)體材料(liao)和半導(dao)體材料(liao)在(zai)高溫、真(zhen)空及氣(qi)氛(fen)條(tiao)件下(xia)測(ce)量(liang)的壹種重要(yao)的(de)工具。本儀器(qi)配(pei)置各類測(ce)量(liang)裝置(zhi)可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)不(bu)同材料。液晶(jing)顯(xian)示，無(wu)需人工計算(suan)，並(bing)帶有溫度(du)補償(chang)功(gong)能(neng)。采用芯(xin)片控制(zhi)，恒(heng)流輸(shu)出，結(jie)構(gou)合理、質(zhi)量(liang)輕便(bian)，配備10英寸(cun)觸摸屏，軟件可(ke)保(bao)存和打(da)印數據(ju)，自(zi)動(dong)生成報表；本儀器(qi)可(ke)顯示電阻、電阻率(lv)、方(fang)阻、溫度(du)、單位(wei)換算(suan)、溫度(du)系(xi)數、電流、電壓、探(tan)針形(xing)狀、探(tan)針間(jian)距(ju)、厚度(du)、電導(dao)率，配備不(bu)同的測(ce)試(shi)治具可以(yi)滿(man)足不同材料的(de)測(ce)試(shi)要(yao)求(qiu)。測(ce)試(shi)治具可以(yi)根(gen)據產(chan)品及測(ce)試(shi)項目要(yao)求(qiu)選(xuan)購(gou)。

產(chan)品特點(dian)

2.多(duo)級循(xun)環溫度(du)采集技(ji)術(shu)： 設備采用PID算(suan)法，以(yi)及多(duo)級循(xun)環溫度(du)采集以(yi)保(bao)證(zheng)溫度(du)的(de)有效(xiao)值。控溫和測(ce)溫采用同壹個(ge)傳感器(qi)，保(bao)證(zheng)樣(yang)品(pin)每(mei)次(ci)采集的(de)溫度(du)都(dou) 是樣品(pin)實際(ji)溫度(du).
3.雙系統(tong)互(hu)鎖(suo)技(ji)術(shu)及隔(ge)離(li)屏蔽(bi)技(ji)術： 本設備不(bu)僅具(ju)備過(guo)壓、過(guo)流保(bao)護系統(tong)，它(ta)*的(de)雙系統(tong)互(hu)鎖(suo)機(ji)制(zhi)，當(dang)任(ren)何元(yuan)器(qi)件出(chu)現(xian)問(wen)題(ti)或單系統(tong)出(chu)現(xian)故障時，將瞬間(jian)切斷 電源。采用低通(tong)濾波電流檢(jian)測(ce)技(ji)術以(yi)保(bao)證(zheng)采集電流的(de)有(you)效值 ，以(yi)及電流抗(kang)幹擾(rao)的屏(ping)蔽(bi)。
4.SPWM電子升(sheng)壓(ya)技(ji)術 目前(qian)設備大(da)都(dou)采用SPWM電子升(sheng)壓(ya)技(ji)術，這壹技(ji)術具有(you)升(sheng)壓(ya)速(su)度(du)平(ping)穩(wen)，精度(du)高。便(bian)於(yu)維護等優(you)點(dian)是(shi)調壓器*的。

軟件平(ping)臺

HCTZ-800系統(tong)搭(da)配(pei)Labview系統(tong)開發的hcpro軟件，具(ju)備彈(dan)性的(de)自(zi)定義功(gong)能(neng)，可進行(xing)電壓、電流、溫度(du)、時(shi)間等設置，符(fu)合導(dao)體、半導(dao)體材料(liao)與其(qi)他新(xin)材料(liao)測(ce)試(shi)多(duo)樣(yang)化(hua)的需求。

測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的(de)軟件平(ping)臺hcpro，采用labview系統(tong)開發，符(fu)合導(dao)體、半導(dao)體材料(liao)的(de)各項測(ce)試(shi)需求，具(ju)備穩(wen)定性和an全(quan)性，並(bing)具備斷電資料(liao)的(de)保(bao)存功(gong)能(neng)，圖像(xiang)資(zi)料可(ke)保(bao)存恢(hui)復(fu)，兼(jian)容XP、win7、win10系統(tong)。

軟件功(gong)能

1. 可編輯(ji)樣品名(ming)稱、牌號、試(shi)驗條(tiao)件、試(shi)驗單位(wei)等；

2. 具有試(shi)驗電壓設置功能；

3. 可選(xuan)擇試(shi)驗標準

4. 可選(xuan)擇是否自(zi)定義或自(zi)動(dong)試(shi)驗

5. 截止(zhi)條件(jian)：時(shi)間/電壓/電流/溫度(du);

6. 語(yu)音提示:可(ke)選(xuan)擇是否語(yu)音提示功(gong)能。

7. 統(tong)計(ji)報(bao)告：可自(zi)定報表格(ge)式(shi)

8. 可生出(chu)PDF、CSV、XLS文件格(ge)式

9. 分析功能：可對(dui)測(ce)試(shi)的(de)數據進(jin)行(xing)統(tong)計(ji)。

技術(shu)參數

測(ce)量(liang)範圍

電  阻：1×10^-4~2×10⁵Ω，     分辨率(lv)：1×10^-5~1×10²Ω

電阻率(lv)：1×10^-4~2×10⁵Ω-cm，  分辨率(lv)：1×10^-5~2×10²Ω-cm

方  阻：5×10^-4~2×10⁵Ω/□，  分辨率(lv)：5×10^-5~1×10²Ω/□

數字(zi)電壓表

1. 量程：20.00mV~2000mV

2. 誤差：±0.1%讀數±2字(zi)

數控恒(heng)流源

1. 量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

2. 誤差：±0.1%讀數±2字(zi)

四探針探(tan)頭(tou)

1. 碳化(hua)鎢探(tan)針：Ф0.5mm，直(zhi)流(liu)探(tan)針間(jian)距(ju)1.0mm，探針壓(ya)力(li)：0~2kg可調

2. 薄(bo)膜(mo)方(fang)阻(zu)探(tan)針：Ф0.7mm，直(zhi)流(liu)或方形探針間(jian)距(ju)2.0mm，探針壓(ya)力(li)：0~0.6kg可調

註意事(shi)項

1、儀器操(cao)作(zuo)前(qian)請您仔(zai)細(xi)閱讀使用說(shuo)明(ming)書，規(gui)範操(cao)作(zuo)

2、輕拿(na)輕放(fang)，避(bi)免儀器(qi)震動，水平(ping)放(fang)置(zhi)，垂(chui)直(zhi)測(ce)量(liang)

3、儀器不(bu)使用時請切斷電源，連接線(xian)無(wu)需經常(chang)拔(ba)下(xia)，避免灰塵(chen)進(jin)入(ru)航(hang)空插引(yin)起短接等現(xian)象(xiang)

4、探針筆(bi)測(ce)試(shi)結(jie)束，套好護套，避免人為斷針