產(chan)品(pin)名稱(cheng)：北(bei)京(jing)華(hua)測(ce)試(shi)驗儀(yi)器四探針(zhen)測試(shi)儀

產(chan)品(pin)型號：HCTZ-2S

品(pin)牌：北京(jing)華(hua)測(ce)

壹、產(chan)品(pin)介紹(shao)

HCTZ-2S北京(jing)華(hua)測(ce)試(shi)驗儀(yi)器四探針(zhen)測試(shi)儀是(shi)運(yun)用四探針(zhen)測量(liang)原(yuan)理的多用途綜合(he)測量(liang)設(she)備(bei)。儀器由主機(ji)、測(ce)試(shi)臺、四探(tan)針(zhen)探頭(tou)、計算機等部分(fen)組成，測(ce)量數據既(ji)可由(you)主機(ji)直接顯示，亦可由(you)計(ji)算機(ji)控制測試(shi)采集測(ce)試(shi)數據到(dao)計(ji)算機(ji)中加以分(fen)析(xi)，然(ran)後(hou)以(yi)表(biao)格(ge)，圖形(xing)方式統(tong)計(ji)分(fen)析(xi)顯示測(ce)試(shi)結果。

HCTZ-2S雙電測(ce)數(shu)字(zi)式四探針(zhen)試(shi)驗儀(yi)是(shi)運(yun)用直線或(huo)方形(xing)四(si)探(tan)針(zhen)雙位測(ce)量。利用電(dian)流(liu)探(tan)針(zhen)、電壓(ya)探針(zhen)的變(bian)換(huan)，采用兩次(ci)電(dian)測量，對數(shu)據進(jin)行(xing)雙電(dian)測(ce)分(fen)析(xi)，自(zi)動(dong)消(xiao)除(chu)樣(yang)品(pin)幾何尺(chi)寸(cun)、邊界(jie)效(xiao)應以(yi)及(ji)探(tan)針(zhen)不(bu)等距和機(ji)械遊(you)移(yi)等因素(su)對測(ce)量(liang)結果的影響，它與單(dan)電測直線或(huo)方形(xing)四(si)探(tan)針(zhen)相比(bi)，大大提高精(jing)確(que)度，也可應(ying)用(yong)於產(chan)品(pin)檢(jian)測(ce)以及(ji)新(xin)材(cai)料電學(xue)研究(jiu)等用途。

四探針(zhen)軟件(jian)測試(shi)系統(tong)是(shi)壹(yi)個(ge)運(yun)行(xing)在(zai)計算機(ji)上擁有(you)友好(hao)測試(shi)界(jie)面的用戶(hu)程序(xu)，通過此測試(shi)程序(xu)輔助(zhu)使用(yong)戶簡(jian)便地進行(xing)各項(xiang)測(ce)試(shi)及(ji)獲(huo)得測(ce)試(shi)數據並(bing)對測(ce)試(shi)數據進(jin)行(xing)統(tong)計(ji)分(fen)析(xi)。

測試(shi)程序(xu)控制四探(tan)針(zhen)試(shi)驗儀(yi)進行(xing)測量(liang)並(bing)采(cai)集測(ce)試(shi)數據，把(ba)采集到(dao)的數據在(zai)計算機(ji)中加以分(fen)析(xi)，然(ran)後(hou)把(ba)測試(shi)數據以(yi)表(biao)格(ge)，圖形(xing)直觀地記錄(lu)、顯示出(chu)來。用(yong)戶(hu)可對采(cai)集到(dao)的數據在(zai)電腦中(zhong)保存或(huo)者打印(yin)以備(bei)日後參(can)考(kao)和查看(kan)，還可以(yi)把(ba)采集到(dao)的數據輸(shu)出到(dao)Excel中，讓(rang)用戶對數(shu)據進(jin)行(xing)各種(zhong)數(shu)據分(fen)析(xi)。

二(er)、四(si)探(tan)針(zhen)測試(shi)探頭(tou)

1、使用幾(ji)何(he)尺(chi)寸(cun)十(shi)分(fen)精(jing)確(que)的紅(hong)寶(bao)石(shi)軸(zhou)承(cheng)，量具(ju)精(jing)度的硬質合(he)金探(tan)針(zhen)，在(zai)寶(bao)石(shi)導孔(kong)內(nei)運(yun)動，持(chi)久(jiu)耐磨(mo)，測(ce)量精(jing)度高、重復(fu)性(xing)好(hao)。

A.探頭間(jian)距(ju)1.00㎜

B.探針(zhen)機械遊(you)率：±0.3%

C.探針(zhen)直徑0.5㎜

D.探針(zhen)材料(liao)：碳化鎢，常(chang)溫不(bu)生銹

E探針(zhen)間及(ji)探(tan)針(zhen)與其(qi)他部分(fen)之間(jian)的絕緣電阻大於109歐姆(mu)。

2、手動測(ce)試(shi)架

手動測(ce)試(shi)架探頭(tou)上下(xia)由(you)手動操(cao)作，可以(yi)用(yong)作斷(duan)面(mian)單(dan)晶棒和矽(gui)片測試(shi)，探針(zhen)頭可上下(xia)移(yi)動距離(li)：120mm，測試(shi)臺面200x200(mm)。

三、產(chan)品(pin)應用

HCTZ-2S四探針(zhen)試(shi)驗儀(yi)采用(yong)四探針(zhen)雙電(dian)測量方法，適用於生產(chan)企業、高(gao)等院(yuan)校(xiao)、科(ke)研部(bu)門，是(shi)檢(jian)驗(yan)和分(fen)析(xi)導體(ti)材(cai)料(liao)和半(ban)導體(ti)材(cai)料(liao)在(zai)高溫、真(zhen)空及(ji)氣(qi)氛條(tiao)件(jian)下(xia)測(ce)量(liang)的壹種(zhong)重要(yao)的工具(ju)。本(ben)儀器配(pei)置各類(lei)測(ce)量(liang)裝置可以(yi)測(ce)試(shi)不(bu)同(tong)材(cai)料。液晶顯示，無需人(ren)工計(ji)算(suan)，並帶(dai)有(you)溫度補償功(gong)能。采(cai)用(yong)芯(xin)片控制，恒(heng)流(liu)輸(shu)出，結(jie)構合(he)理、質量(liang)輕(qing)便(bian)，配(pei)備10英寸(cun)觸摸屏(ping)，軟(ruan)件(jian)可保存和打印(yin)數據，自(zi)動(dong)生成報(bao)表(biao)；本儀(yi)器可顯示電(dian)阻、電阻率、方阻、溫度、單位換(huan)算、溫度系數(shu)、電流(liu)、電壓(ya)、探針(zhen)形(xing)狀、探針(zhen)間距(ju)、厚度、電導率，配(pei)備不(bu)同(tong)的測試(shi)治具(ju)可以(yi)滿(man)足(zu)不(bu)同(tong)材(cai)料的測試(shi)要(yao)求(qiu)。測(ce)試(shi)治具(ju)可以(yi)根(gen)據產(chan)品(pin)及(ji)測(ce)試(shi)項目(mu)要(yao)求(qiu)選購(gou)。

四、產(chan)品(pin)特點(dian)
   
    2.本儀器的特點(dian)是(shi)主機(ji)配(pei)置三個(ge)數(shu)字(zi)表(biao)，在(zai)測量電(dian)阻率的同(tong)時(shi)，壹(yi)塊(kuai)數(shu)字(zi)表(biao)適時(shi)監(jian)測全(quan)程的電流(liu)變(bian)化(hua)，及(ji)時(shi)掌(zhang)控測量電(dian)流，壹(yi)塊(kuai)顯示2、3探針(zhen)間的測量(liang)電壓，另(ling)壹塊(kuai)是(shi)顯示當(dang)前1、4探針(zhen)測量(liang)使用的電壓(ya)，可以(yi)適當調整(zheng)測(ce)量(liang)電壓避(bi)免材料耐壓不(bu)夠而電壓(ya)擊(ji)穿(chuan)被測(ce)材料。

3.主機(ji)還(hai)提供(gong)精(jing)度為0.05%的恒(heng)流(liu)源，使測量(liang)電(dian)流高(gao)度穩定。本(ben)機配(pei)有恒(heng)流(liu)源開(kai)關，在(zai)測量某(mou)些薄層材(cai)料(liao)時(shi)，可免除(chu)探針(zhen)尖與被測(ce)材料之間(jian)接(jie)觸(chu)火(huo)花(hua)的發生，好(hao)地保護薄(bo)膜。采用(yong)低通濾波(bo)電流(liu)檢(jian)測(ce)技術以保證(zheng)采集電(dian)流(liu)的有效(xiao)值(zhi) ，以及(ji)電(dian)流(liu)抗(kang)幹(gan)擾的屏(ping)蔽(bi)。
    4.探針(zhen)采用(yong)碳化鎢硬質合(he)金，硬(ying)度高、常(chang)溫不(bu)生銹，探針(zhen)遊(you)移(yi)率在(zai)0.1～0.2%。保證(zheng)了儀器測量電阻率的重復(fu)性(xing)和準確度。本機(ji)如加(jia)配(pei)測量軟件(jian)，測量(liang)矽片時(shi)可自(zi)動(dong)進行(xing)厚度、直徑、探針(zhen)間距(ju)的修正，並計算、打印(yin)出矽(gui)片電阻率、徑向(xiang)電(dian)阻率的大百(bai)分(fen)變(bian)化(hua)、平(ping)均百(bai)分(fen)變(bian)化(hua)、徑向電阻率不(bu)均勻度，給(gei)測量帶(dai)來(lai)很(hen)大(da)方便。軟(ruan)件(jian)平(ping)臺

5.HCTZ-800系統(tong)搭(da)配(pei)Labview系統(tong)開(kai)發的hcpro軟件(jian)，具(ju)備(bei)彈性(xing)的自定(ding)義功能，可進(jin)行(xing)電壓(ya)、電(dian)流(liu)。

6.儀器通過USB轉RS232連(lian)接線(xian)與(yu)電(dian)腦連(lian)接，軟(ruan)件(jian)可對四(si)探(tan)針(zhen)電阻率測量(liang)數(shu)據進(jin)行(xing)處理並修正測量數據，特定(ding)數(shu)據存(cun)儲格(ge)式，顯示變(bian)化(hua)曲線，兼容(rong)性(xing)：適用於通用電(dian)腦(nao)

7.測試(shi)系統(tong)的軟件(jian)平(ping)臺hcpro，采用labview系統(tong)開(kai)發，符合(he)導體(ti)、半(ban)導體(ti)材(cai)料(liao)的各項(xiang)測試(shi)需求(qiu)，具(ju)備(bei)穩定性(xing)和性(xing)，並(bing)具(ju)備(bei)斷(duan)電(dian)資(zi)料(liao)的保存功(gong)能，圖像資(zi)料(liao)可保存恢(hui)復(fu)，兼容(rong)XP、win7、win10系統(tong)。

五(wu)、軟件(jian)功能

具(ju)有(you)試(shi)驗電(dian)壓設(she)置(zhi)功(gong)能；

可選擇(ze)試(shi)驗標準

可選擇(ze)是(shi)否(fou)自(zi)定(ding)義(yi)或(huo)自動(dong)試(shi)驗

截(jie)止(zhi)條(tiao)件(jian)：時(shi)間(jian)/電壓/電流;

語音提(ti)示:可選擇(ze)是(shi)否(fou)語音提(ti)示功(gong)能。

統(tong)計(ji)報(bao)告(gao)：可自(zi)定(ding)報(bao)表(biao)格(ge)式

可生(sheng)出(chu)PDF、CSV、XLS文件(jian)格(ge)式

分(fen)析(xi)功(gong)能：可對測(ce)試(shi)的數據進(jin)行(xing)統(tong)計(ji)。大/小值(zhi)、平(ping)均值(zhi)等。

六、技術參數(shu)

測量範(fan)圍(wei)

電  阻：1×10-4~2×105Ω，     分(fen)辨率：1×10-5~1×102Ω

電阻率：1×10-4~2×105Ω-cm，  分(fen)辨率：1×10-5~2×102Ω-cm

方  阻：5×10-4~2×105Ω/□，  分(fen)辨率：5×10-5~1×102Ω/□

數字(zi)電壓(ya)表(biao)

量程：20.00mV~2000mV

誤差：±0.1%讀數±2字(zi)

數控恒(heng)流(liu)源

量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

誤差：±0.1%讀數±2字(zi)

四探針(zhen)探頭(tou)

碳化鎢(wu)探(tan)針(zhen)：Ф0.5mm，直流探針(zhen)間距(ju)1.0mm，探針(zhen)壓力(li)：0~2kg可調(tiao)

薄膜方阻探針(zhen)：Ф0.7mm，直流或(huo)方形(xing)探(tan)針(zhen)間距(ju)2.0mm，探針(zhen)壓力(li)：0~0.6kg可調(tiao)

七、註(zhu)意(yi)事項(xiang)

1、儀器操(cao)作前(qian)請您(nin)仔細(xi)閱讀使用說(shuo)明(ming)書(shu)，規(gui)範(fan)操(cao)作

2、輕拿(na)輕(qing)放，避免儀器震(zhen)動，水(shui)平(ping)放置，垂(chui)直測量

3、儀器不(bu)使用時(shi)請切斷(duan)電(dian)源(yuan)，連(lian)接線(xian)無需經常(chang)拔下(xia)，避(bi)免灰(hui)塵進(jin)入(ru)航(hang)空插(cha)引起短(duan)接(jie)等(deng)現象

4、探針(zhen)筆(bi)測試(shi)結束，套好(hao)護套(tao)，避(bi)免人(ren)為斷(duan)針(zhen)