產品(pin)名(ming)稱(cheng)：華測四(si)探針(zhen)測(ce)試儀(yi)

產品(pin)型號：HCTZ-2S

品牌(pai)：北京華測(ce)

壹、產品(pin)介紹

HCTZ-2S華測(ce)四探(tan)針(zhen)測(ce)試儀(yi)是(shi)運(yun)用四(si)探針(zhen)測(ce)量原理的(de)多用(yong)途(tu)綜(zong)合(he)測(ce)量(liang)設備(bei)。儀(yi)器由(you)主機(ji)、測試臺、四探針(zhen)探(tan)頭(tou)、計(ji)算機(ji)等部(bu)分組成，測量數(shu)據既(ji)可(ke)由(you)主機(ji)直接(jie)顯示(shi)，亦可(ke)由(you)計(ji)算機(ji)控制(zhi)測試采集(ji)測(ce)試數(shu)據到(dao)計(ji)算機(ji)中加(jia)以分析，然(ran)後以表(biao)格，圖形方式統計(ji)分析顯示(shi)測(ce)試結(jie)果(guo)。

HCTZ-2S雙電(dian)測(ce)數(shu)字式四(si)探(tan)針(zhen)試驗(yan)儀(yi)是(shi)運(yun)用直(zhi)線(xian)或(huo)方形(xing)四(si)探針(zhen)雙(shuang)位(wei)測量(liang)。利用電流探針(zhen)、電(dian)壓(ya)探針(zhen)的(de)變(bian)換(huan)，采(cai)用兩次(ci)電(dian)測(ce)量，對(dui)數(shu)據進行(xing)雙電測分析，自(zi)動(dong)消(xiao)除樣(yang)品(pin)幾(ji)何尺寸、邊界效(xiao)應(ying)以及探針(zhen)不(bu)等(deng)距(ju)和機(ji)械遊(you)移等(deng)因(yin)素對(dui)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的(de)影響(xiang)，它與(yu)單(dan)電(dian)測直線(xian)或(huo)方形(xing)四(si)探針(zhen)相(xiang)比，大(da)大提(ti)高精確度(du)，也(ye)可(ke)應(ying)用(yong)於(yu)產品(pin)檢測(ce)以及新材(cai)料(liao)電(dian)學研究等用途(tu)。

四探(tan)針(zhen)軟(ruan)件(jian)測(ce)試系統是壹個(ge)運(yun)行在計(ji)算機(ji)上擁(yong)有友(you)好測(ce)試界面(mian)的(de)用戶(hu)程(cheng)序，通(tong)過(guo)此(ci)測(ce)試程(cheng)序輔助使(shi)用戶(hu)簡(jian)便地進行(xing)各項測試及獲得(de)測試數(shu)據並(bing)對(dui)測(ce)試數(shu)據進行(xing)統計(ji)分析。

測試程(cheng)序控(kong)制(zhi)四探(tan)針(zhen)試驗(yan)儀(yi)進行(xing)測量並(bing)采集(ji)測(ce)試數(shu)據，把采集(ji)到(dao)的(de)數(shu)據在計(ji)算機(ji)中加(jia)以分析，然(ran)後把測試數(shu)據以表(biao)格，圖形直(zhi)觀地記(ji)錄(lu)、顯示(shi)出(chu)來。用戶(hu)可(ke)對(dui)采(cai)集(ji)到(dao)的(de)數(shu)據在電腦(nao)中保(bao)存(cun)或(huo)者(zhe)打印(yin)以備(bei)日後(hou)參考(kao)和查看，還可(ke)以把采集(ji)到(dao)的(de)數(shu)據輸(shu)出(chu)到(dao)Excel中，讓(rang)用戶(hu)對(dui)數(shu)據進行(xing)各種(zhong)數(shu)據分析。

二、四探針(zhen)測(ce)試探頭(tou)

1、使用(yong)幾(ji)何尺寸十分精確的(de)紅寶石軸承，量具(ju)精度的(de)硬質(zhi)合金探(tan)針(zhen)，在寶石(shi)導(dao)孔內(nei)運(yun)動(dong)，持久(jiu)耐(nai)磨，測量精(jing)度高(gao)、重(zhong)復(fu)性好。

A.探頭(tou)間(jian)距(ju)1.00㎜

B.探針(zhen)機(ji)械遊(you)率：±0.3%

C.探針(zhen)直(zhi)徑0.5㎜

D.探針(zhen)材(cai)料(liao)：碳(tan)化鎢(wu)，常(chang)溫不(bu)生(sheng)銹(xiu)

E探針(zhen)間(jian)及探針(zhen)與(yu)其他(ta)部分之(zhi)間(jian)的(de)絕緣(yuan)電阻大(da)於(yu)109歐姆(mu)。

2、手動(dong)測試架(jia)

手動(dong)測試架(jia)探頭(tou)上下(xia)由(you)手動(dong)操作(zuo)，可(ke)以用作斷面(mian)單(dan)晶棒(bang)和矽片(pian)測(ce)試，探針(zhen)頭(tou)可(ke)上(shang)下(xia)移動(dong)距離(li)：120mm，測試臺面(mian)200x200(mm)。

三(san)、產品應(ying)用(yong)

HCTZ-2S四探(tan)針(zhen)試驗(yan)儀(yi)采(cai)用(yong)四(si)探(tan)針(zhen)雙(shuang)電測量方法(fa)，適(shi)用於(yu)生產(chan)企(qi)業(ye)、高(gao)等(deng)院校、科研部(bu)門，是(shi)檢驗(yan)和分析導體(ti)材(cai)料(liao)和半(ban)導體(ti)材(cai)料(liao)在高溫、真空(kong)及氣(qi)氛條件下(xia)測(ce)量的(de)壹種(zhong)重(zhong)要(yao)的(de)工具(ju)。本儀(yi)器配(pei)置各(ge)類(lei)測量(liang)裝置(zhi)可(ke)以測試不(bu)同(tong)材(cai)料(liao)。液晶顯示(shi)，無(wu)需(xu)人(ren)工計(ji)算，並(bing)帶有溫度補(bu)償(chang)功能(neng)。采用(yong)芯片(pian)控(kong)制(zhi)，恒流輸出(chu)，結(jie)構(gou)合(he)理(li)、質(zhi)量輕(qing)便，配(pei)備(bei)10英寸觸摸(mo)屏(ping)，軟(ruan)件(jian)可(ke)保(bao)存(cun)和打印(yin)數(shu)據，自(zi)動(dong)生成(cheng)報表(biao)；本儀(yi)器可(ke)顯(xian)示(shi)電(dian)阻(zu)、電阻率、方阻(zu)、溫度、單(dan)位(wei)換算(suan)、溫度系數(shu)、電流、電壓(ya)、探針(zhen)形(xing)狀(zhuang)、探(tan)針(zhen)間(jian)距(ju)、厚度(du)、電(dian)導(dao)率(lv)，配(pei)備(bei)不(bu)同(tong)的(de)測試治具(ju)可(ke)以滿(man)足不(bu)同(tong)材(cai)料(liao)的(de)測試要(yao)求(qiu)。測試治具(ju)可(ke)以根(gen)據產(chan)品及測試項目(mu)要(yao)求(qiu)選購(gou)。

四、產(chan)品(pin)特點

    2.本儀(yi)器的(de)特點是(shi)主機(ji)配(pei)置三(san)個(ge)數(shu)字表(biao)，在測量(liang)電(dian)阻率(lv)的(de)同時(shi)，壹塊數(shu)字表(biao)適時(shi)監測全程(cheng)的(de)電流變(bian)化，及時掌控(kong)測(ce)量(liang)電流，壹塊顯(xian)示(shi)2、3探針(zhen)間(jian)的(de)測量(liang)電壓(ya)，另壹塊是(shi)顯(xian)示(shi)當(dang)前(qian)1、4探針(zhen)測(ce)量使用的(de)電壓(ya)，可(ke)以適當調整測(ce)量(liang)電壓(ya)避免材(cai)料(liao)耐(nai)壓(ya)不(bu)夠而電壓(ya)擊穿被測(ce)材(cai)料(liao)。

3.主機(ji)還提(ti)供精(jing)度為0.05%的(de)恒流源，使測(ce)量(liang)電(dian)流高度穩(wen)定。本機(ji)配(pei)有恒(heng)流源開關，在測量(liang)某些薄(bo)層材(cai)料(liao)時(shi)，可(ke)免除探(tan)針(zhen)尖與(yu)被測(ce)材(cai)料(liao)之(zhi)間(jian)接(jie)觸火(huo)花(hua)的(de)發生(sheng)，好地保(bao)護薄膜(mo)。采用低(di)通(tong)濾(lv)波(bo)電流檢測(ce)技(ji)術以保(bao)證采(cai)集(ji)電(dian)流的(de)有效(xiao)值 ，以及電流抗幹(gan)擾(rao)的(de)屏蔽(bi)。
    4.探針(zhen)采(cai)用碳化鎢(wu)硬質(zhi)合金，硬度高、常(chang)溫不(bu)生(sheng)銹(xiu)，探針(zhen)遊(you)移率(lv)在0.1～0.2%。保(bao)證了儀(yi)器測(ce)量電(dian)阻率(lv)的(de)重(zhong)復(fu)性和準確度(du)。本(ben)機(ji)如(ru)加(jia)配(pei)測量(liang)軟(ruan)件(jian)，測(ce)量(liang)矽片(pian)時(shi)可(ke)自(zi)動(dong)進行(xing)厚度、直徑、探針(zhen)間(jian)距(ju)的(de)修正，並(bing)計(ji)算、打印(yin)出(chu)矽片(pian)電(dian)阻率(lv)、徑向(xiang)電阻率(lv)的(de)大百(bai)分變(bian)化、平均百(bai)分變(bian)化、徑向(xiang)電阻率(lv)不(bu)均(jun)勻(yun)度(du)，給測(ce)量帶(dai)來很大方便。軟(ruan)件(jian)平臺

5.HCTZ-800系統搭配(pei)Labview系統開發的(de)hcpro軟(ruan)件(jian)，具(ju)備(bei)彈性(xing)的(de)自(zi)定義功能(neng)，可(ke)進行(xing)電壓(ya)、電流。

6.儀(yi)器通(tong)過(guo)USB轉(zhuan)RS232連接(jie)線(xian)與(yu)電腦(nao)連接(jie)，軟(ruan)件(jian)可(ke)對(dui)四(si)探(tan)針(zhen)電(dian)阻率測量(liang)數(shu)據進行(xing)處理並(bing)修正測(ce)量(liang)數(shu)據，特定數(shu)據存(cun)儲(chu)格式，顯(xian)示(shi)變(bian)化曲(qu)線(xian)，兼(jian)容(rong)性：適(shi)用於(yu)通用(yong)電腦(nao)

7.測試系統的(de)軟(ruan)件(jian)平臺hcpro，符合(he)導(dao)體(ti)、半(ban)導體(ti)材(cai)料(liao)的(de)各項(xiang)測試需求(qiu)，具(ju)備(bei)穩(wen)定性和安(an)an全性(xing)，並(bing)具(ju)備(bei)斷電(dian)資(zi)料的(de)保(bao)存(cun)功能(neng)，圖像(xiang)資料(liao)可(ke)保(bao)存(cun)恢復(fu)。兼容(rong)XP、win7、win10系統。

五(wu)、軟(ruan)件(jian)功能(neng)

具(ju)有試驗(yan)電(dian)壓(ya)設置功能(neng)；

可(ke)選擇試驗(yan)標(biao)準(zhun)

可(ke)選擇是(shi)否(fou)自(zi)定義或(huo)自(zi)動(dong)試驗(yan)

截止(zhi)條件：時間(jian)/電壓(ya)/電流;

語音提示(shi):可(ke)選擇是(shi)否(fou)語(yu)音提示(shi)功能(neng)。

統計(ji)報告：可(ke)自(zi)定報表(biao)格式

可(ke)生(sheng)出(chu)PDF、CSV、XLS文件(jian)格式

分析功能(neng)：可(ke)對(dui)測(ce)試的(de)數(shu)據進行(xing)統計(ji)。大/小(xiao)值、平均值(zhi)等。

六、技(ji)術參數(shu)

測量(liang)範圍(wei)

電  阻：1×10-4~2×105Ω，     分辨(bian)率：1×10-5~1×102Ω

電阻(zu)率(lv)：1×10-4~2×105Ω-cm，  分辨(bian)率：1×10-5~2×102Ω-cm

方  阻：5×10-4~2×105Ω/□，  分辨(bian)率：5×10-5~1×102Ω/□

數(shu)字電(dian)壓(ya)表(biao)

量程(cheng)：20.00mV~2000mV

誤差(cha)：±0.1%讀(du)數(shu)±2字

數(shu)控恒(heng)流源

量程(cheng)：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

誤差(cha)：±0.1%讀(du)數(shu)±2字

四探(tan)針(zhen)探(tan)頭(tou)

碳化鎢(wu)探針(zhen)：Ф0.5mm，直流探針(zhen)間(jian)距(ju)1.0mm，探針(zhen)壓(ya)力：0~2kg可(ke)調(tiao)

薄膜(mo)方阻(zu)探(tan)針(zhen)：Ф0.7mm，直流或(huo)方形(xing)探(tan)針(zhen)間(jian)距(ju)2.0mm，探針(zhen)壓(ya)力：0~0.6kg可(ke)調(tiao)

七、註意事(shi)項(xiang)

1、儀(yi)器操(cao)作前(qian)請(qing)您(nin)仔細閱(yue)讀(du)使用(yong)說明(ming)書，規範操(cao)作(zuo)

2、輕(qing)拿(na)輕(qing)放(fang)，避免儀(yi)器震動(dong)，水平放(fang)置，垂直測(ce)量

3、儀(yi)器不(bu)使(shi)用(yong)時(shi)請(qing)切斷電(dian)源(yuan)，連接(jie)線(xian)無(wu)需(xu)經常(chang)拔下(xia)，避免灰塵(chen)進入(ru)航空(kong)插(cha)引起(qi)短(duan)接(jie)等(deng)現(xian)象(xiang)

4、探針(zhen)筆(bi)測試結(jie)束(shu)，套好護(hu)套，避免人(ren)為斷針(zhen)