產品(pin)名(ming)稱：北京華(hua)測(ce)四(si)探針測(ce)試(shi)儀

產品(pin)型號：HCTZ-2S

品(pin)牌：北京華(hua)測(ce)

壹(yi)、產品(pin)介(jie)紹(shao)

HCTZ-2S北京華(hua)測(ce)四(si)探針測(ce)試(shi)儀是(shi)運(yun)用(yong)四探針測(ce)量(liang)原理的(de)多用(yong)途綜合(he)測(ce)量(liang)設備。儀器(qi)由主(zhu)機、測(ce)試(shi)臺(tai)、四探針探頭、計算機等(deng)部(bu)分(fen)組(zu)成，測(ce)量(liang)數據既(ji)可(ke)由(you)主(zhu)機直接顯示(shi)，亦(yi)可(ke)由(you)計算機控制(zhi)測(ce)試(shi)采集(ji)測(ce)試(shi)數據到計算機中加以分(fen)析(xi)，然(ran)後以表格(ge)，圖形方(fang)式統(tong)計(ji)分(fen)析(xi)顯(xian)示測(ce)試(shi)結果。

HCTZ-2S雙(shuang)電(dian)測(ce)數字式四(si)探針試驗(yan)儀是(shi)運(yun)用(yong)直線(xian)或(huo)方(fang)形四(si)探針雙位(wei)測(ce)量(liang)。該利(li)用(yong)電流探針、電壓(ya)探針的(de)變換(huan)，采用(yong)兩次(ci)電測(ce)量(liang)，對數據進(jin)行(xing)雙電測(ce)分(fen)析(xi)，自(zi)動消除樣(yang)品(pin)幾(ji)何尺(chi)寸(cun)、邊(bian)界(jie)效(xiao)應以及探針不等(deng)距和機(ji)械遊(you)移等(deng)因素(su)對(dui)測(ce)量(liang)結果的(de)影響(xiang)，它與單(dan)電測(ce)直(zhi)線(xian)或(huo)方(fang)形四(si)探針相(xiang)比(bi)，大大提高精確(que)度，也可(ke)應用(yong)於產品(pin)檢(jian)測(ce)以及新材料(liao)電(dian)學(xue)研(yan)究等用(yong)途。

四(si)探針軟件測(ce)試(shi)系統是壹(yi)個運(yun)行(xing)在計(ji)算機上擁(yong)有友好(hao)測(ce)試(shi)界面的(de)用(yong)戶程(cheng)序(xu)，通過(guo)此(ci)測(ce)試(shi)程序(xu)輔助(zhu)使用(yong)戶簡(jian)便(bian)地(di)進(jin)行(xing)各項測(ce)試(shi)及獲得(de)測(ce)試(shi)數據並(bing)對測(ce)試(shi)數據進(jin)行(xing)統計分(fen)析(xi)。

測(ce)試(shi)程序(xu)控制(zhi)四探針試驗(yan)儀進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)並采(cai)集(ji)測(ce)試(shi)數據，把采(cai)集(ji)到的(de)數據在(zai)計算機中加以分(fen)析(xi)，然(ran)後把測(ce)試(shi)數據以表格(ge)，圖形直(zhi)觀地(di)記錄(lu)、顯示(shi)出來(lai)。用(yong)戶可(ke)對(dui)采集(ji)到的(de)數據在(zai)電腦中保存或(huo)者打印以備日後參考和查(zha)看，還可(ke)以把采(cai)集(ji)到的(de)數據輸(shu)出到Excel中，讓用(yong)戶對(dui)數據進(jin)行(xing)各種數據分(fen)析(xi)。

二(er)、四(si)探針測(ce)試(shi)探頭

1、使用(yong)幾(ji)何尺(chi)寸(cun)十(shi)分(fen)精確(que)的(de)紅寶石(shi)軸(zhou)承(cheng)，量(liang)具(ju)精度(du)的(de)硬質(zhi)合金探針，在寶石(shi)導孔(kong)內(nei)運(yun)動，持(chi)久(jiu)耐磨，測(ce)量(liang)精度(du)高、重復(fu)性(xing)好(hao)。

A.探頭間距1.00㎜

B.探針機械(xie)遊率：±0.3%

C.探針直徑(jing)0.5㎜

D.探針材料(liao)：碳(tan)化(hua)鎢(wu)，常溫(wen)不生銹

E探針間及探針與其(qi)他部分(fen)之間的(de)絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)大於109歐姆。

2、手動測(ce)試(shi)架(jia)

手動測(ce)試(shi)架(jia)探頭上下(xia)由(you)手動操作(zuo)，可(ke)以用(yong)作斷(duan)面單晶棒和矽(gui)片(pian)測(ce)試(shi)，探針頭可(ke)上下(xia)移動距離：120mm，測(ce)試(shi)臺(tai)面200x200(mm)。

三、產品(pin)應用(yong)

HCTZ-2S四(si)探針試驗(yan)儀采(cai)用(yong)四探針雙電(dian)測(ce)量(liang)方(fang)法，適(shi)用(yong)於生產企(qi)業、高等(deng)院(yuan)校(xiao)、科(ke)研部(bu)門(men)，是檢(jian)驗(yan)和分(fen)析(xi)導體材(cai)料(liao)和半導體材(cai)料(liao)在(zai)高溫(wen)、真空及氣氛(fen)條(tiao)件下(xia)測(ce)量(liang)的(de)壹(yi)種重要(yao)的(de)工具(ju)。本儀器(qi)配(pei)置(zhi)各(ge)類測(ce)量(liang)裝(zhuang)置(zhi)可(ke)以測(ce)試(shi)不同(tong)材料(liao)。液(ye)晶顯(xian)示，無(wu)需(xu)人(ren)工計(ji)算，並帶(dai)有溫(wen)度補償(chang)功能(neng)。采用(yong)芯(xin)片(pian)控制(zhi)，恒流(liu)輸(shu)出，結構合(he)理、質量(liang)輕(qing)便，配(pei)備10英寸(cun)觸(chu)摸(mo)屏，軟件可(ke)保(bao)存和打印數據，自(zi)動生成報(bao)表；本儀器(qi)可(ke)顯(xian)示電阻(zu)、電阻(zu)率(lv)、方(fang)阻、溫(wen)度、單位(wei)換(huan)算、溫(wen)度系數、電流(liu)、電壓(ya)、探針形狀、探針間距、厚(hou)度、電(dian)導率(lv)，配(pei)備不同(tong)的(de)測(ce)試(shi)治(zhi)具可(ke)以滿足(zu)不同(tong)材料(liao)的(de)測(ce)試(shi)要(yao)求(qiu)。測(ce)試(shi)治(zhi)具可(ke)以根據產品(pin)及測(ce)試(shi)項目(mu)要(yao)求(qiu)選(xuan)購(gou)。

四(si)、產品(pin)特點

    1.本儀器(qi)的(de)特點是(shi)主(zhu)機配(pei)置(zhi)三個數字表，在(zai)測(ce)量(liang)電阻(zu)率(lv)的(de)同(tong)時(shi)，壹(yi)塊(kuai)數字表適(shi)時(shi)監測(ce)全(quan)程的(de)電流(liu)變化，及時(shi)掌(zhang)控測(ce)量(liang)電流(liu)，壹(yi)塊(kuai)顯(xian)示(shi)2、3探針間的(de)測(ce)量(liang)電壓(ya)，另壹(yi)塊(kuai)是(shi)顯(xian)示當前1、4探針測(ce)量(liang)使用(yong)的(de)電壓(ya)，可(ke)以適當調(tiao)整測(ce)量(liang)電壓(ya)避免(mian)材(cai)料(liao)耐(nai)壓(ya)不夠(gou)而(er)電壓(ya)擊(ji)穿(chuan)被(bei)測(ce)材(cai)料(liao)。

2.主(zhu)機還提供(gong)精度(du)為0.05%的(de)恒流(liu)源(yuan)，使測(ce)量(liang)電流(liu)高度(du)穩定。本機(ji)配(pei)有恒流(liu)源(yuan)開(kai)關，在測(ce)量(liang)某些(xie)薄層材料(liao)時(shi)，可(ke)免(mian)除探針尖與被(bei)測(ce)材(cai)料(liao)之間接觸(chu)火(huo)花的(de)發生，好(hao)地(di)保護(hu)薄膜。采(cai)用(yong)低(di)通濾波電(dian)流(liu)檢(jian)測(ce)技術(shu)以保證采(cai)集(ji)電流(liu)的(de)有效(xiao)值(zhi) ，以及電流抗幹(gan)擾(rao)的(de)屏蔽(bi)。
    3.探針采用(yong)碳化鎢(wu)硬(ying)質(zhi)合(he)金(jin)，硬度高、常溫(wen)不生銹，探針遊移率(lv)在(zai)0.1～0.2%。保(bao)證了儀器(qi)測(ce)量(liang)電阻(zu)率(lv)的(de)重復(fu)性(xing)和準(zhun)確度(du)。本機(ji)如(ru)加(jia)配(pei)測(ce)量(liang)軟件，測(ce)量(liang)矽(gui)片(pian)時(shi)可(ke)自(zi)動進(jin)行(xing)厚(hou)度、直(zhi)徑、探針間距的(de)修正，並(bing)計(ji)算、打印出(chu)矽(gui)片(pian)電(dian)阻(zu)率(lv)、徑(jing)向電(dian)阻(zu)率的(de)最大百(bai)分(fen)變(bian)化、平均百(bai)分(fen)變(bian)化、徑向電(dian)阻(zu)率不均(jun)勻度，給(gei)測(ce)量(liang)帶(dai)來很(hen)大方(fang)便。軟件平(ping)臺(tai)

4.HCTZ-800系統搭(da)配(pei)Labview系統開(kai)發的(de)hcpro軟件，具(ju)備彈性(xing)的(de)自定義功能(neng)，可(ke)進(jin)行(xing)電壓(ya)、電流。

5.儀器(qi)通過(guo)USB轉RS232連(lian)接線(xian)與電(dian)腦連(lian)接，軟件可(ke)對(dui)四探針電阻(zu)率測(ce)量(liang)數據進(jin)行(xing)處理並修(xiu)正測(ce)量(liang)數據，特定數據存儲格式，顯(xian)示(shi)變(bian)化曲線(xian)，兼(jian)容(rong)性(xing)：適(shi)用(yong)於通(tong)用(yong)電腦

6.測(ce)試(shi)系統的(de)軟件平(ping)臺(tai)hcpro，符(fu)合(he)導體、半導體材(cai)料(liao)的(de)各項測(ce)試(shi)需(xu)求(qiu)，具(ju)備穩定性(xing)和性(xing)，並(bing)具(ju)備斷(duan)電資(zi)料(liao)的(de)保存功能(neng)，圖像資(zi)料(liao)可(ke)保(bao)存恢復(fu)。兼(jian)容(rong)XP、win7、win10系統。

五(wu)、軟件功能(neng)

具(ju)有試驗(yan)電(dian)壓(ya)設置(zhi)功能(neng)；

可(ke)選(xuan)擇試驗(yan)標(biao)準(zhun)

可(ke)選(xuan)擇是否(fou)自(zi)定義或自(zi)動試驗(yan)

截止(zhi)條(tiao)件：時(shi)間(jian)/電(dian)壓(ya)/電(dian)流(liu);

語(yu)音提(ti)示(shi):可(ke)選(xuan)擇是否(fou)語(yu)音提(ti)示(shi)功能(neng)。

統(tong)計(ji)報(bao)告：可(ke)自(zi)定報(bao)表格(ge)式

可(ke)生出PDF、CSV、XLS文件(jian)格(ge)式

分(fen)析(xi)功能(neng)：可(ke)對(dui)測(ce)試(shi)的(de)數據進(jin)行(xing)統計。最大/最小值(zhi)、平(ping)均值(zhi)等。

六、技術(shu)參數

測(ce)量(liang)範圍

電(dian)  阻(zu)：1×10-4~2×105Ω，     分(fen)辨(bian)率：1×10-5~1×102Ω

電(dian)阻(zu)率：1×10-4~2×105Ω-cm，  分(fen)辨(bian)率：1×10-5~2×102Ω-cm

方(fang)  阻(zu)：5×10-4~2×105Ω/□，  分(fen)辨(bian)率：5×10-5~1×102Ω/□

數字電壓(ya)表

量(liang)程(cheng)：20.00mV~2000mV

誤(wu)差(cha)：±0.1%讀(du)數±2字

數控恒流(liu)源(yuan)

量(liang)程(cheng)：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

誤(wu)差(cha)：±0.1%讀(du)數±2字

四(si)探針探頭

碳(tan)化(hua)鎢(wu)探針：Ф0.5mm，直(zhi)流(liu)探針間距1.0mm，探針壓(ya)力：0~2kg可(ke)調(tiao)

薄膜方(fang)阻探針：Ф0.7mm，直(zhi)流(liu)或方(fang)形探針間距2.0mm，探針壓(ya)力：0~0.6kg可(ke)調(tiao)

七(qi)、註(zhu)意(yi)事項

1、儀器(qi)操作(zuo)前請(qing)您仔(zai)細閱(yue)讀(du)使用(yong)說明書(shu)，規範操作

2、輕(qing)拿(na)輕放，避免(mian)儀器(qi)震動，水平(ping)放置(zhi)，垂(chui)直測(ce)量(liang)

3、儀器(qi)不使用(yong)時(shi)請(qing)切斷(duan)電源，連(lian)接線(xian)無(wu)需(xu)經常拔(ba)下(xia)，避免(mian)灰(hui)塵(chen)進(jin)入(ru)航(hang)空插引起(qi)短(duan)接等現(xian)象

4、探針筆測(ce)試(shi)結束，套(tao)好(hao)護(hu)套，避免(mian)人(ren)為斷(duan)針