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簡(jian)要描述(shu):華測(ce)專(zhuan)業定制高性(xing)價比(bi)高(gao)低溫(wen)控探針臺(tai)冷熱(re)臺(tai)是壹(yi)款溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)-190℃-600℃的(de)。使用(yong)時還(hai)可(ke)對樣(yang)品(pin)氣(qi)氛(fen)進行控(kong)制。這樣(yang)既(ji)可(ke)以保(bao)證,即使(shi)在(zai)極低溫(wen)度(du)下,腔(qiang)體(ti)也(ye)不(bu)產(chan)生結霜影響實驗(yan),又(you)可(ke)以防止(zhi)樣(yang)品(pin)發生氧化。通過(guo)杠(gang)桿(gan)式支(zhi)架,使(shi)用的(de)是彎(wan)針探針。相(xiang)比(bi)傳統的(de)直針探針,這種(zhong)設(she)計不(bu)僅(jin)點針準確(que),而且(qie)點針力(li)度(du)大(da)。
產(chan)品(pin)分類(lei)
Product Category相(xiang)關文章(zhang)
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| 品(pin)牌(pai) | 華測(ce)儀器(qi) |
|---|
溫(wen)控探針臺(tai)是壹(yi)款溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)-190℃-600℃的(de)。使用(yong)時還(hai)可(ke)對樣(yang)品(pin)氣(qi)氛(fen)進行控(kong)制。這樣(yang)既(ji)可(ke)以保(bao)證,即使(shi)在(zai)極低溫(wen)度(du)下,腔(qiang)體(ti)也(ye)不(bu)產(chan)生結霜影響實驗(yan),又(you)可(ke)以防止(zhi)樣(yang)品(pin)發生氧化。通過(guo)杠(gang)桿(gan)式支(zhi)架,使(shi)用的(de)是彎(wan)針探針。相(xiang)比(bi)傳統的(de)直針探針,這種(zhong)設(she)計不(bu)僅(jin)點針準確(que),而且(qie)點針力(li)度(du)大(da)。
高低溫(wen)冷熱(re)臺(tai)可(ke)單(dan)獨使用,也(ye)可(ke)搭配(pei)顯(xian)微鏡(jing)/光(guang)譜(pu)儀使用。其可(ke)在(zai)-190°C ~ 600°C範(fan)圍(wei)內控(kong)溫(wen),同時(shi)允許探針電測(ce)試、光(guang)學觀(guan)察(cha)和樣品(pin)氣(qi)體(ti)環(huan)境(jing)控制。探針臺(tai)上蓋與(yu)底殼構成(cheng)壹個(ge)氣(qi)密(mi)腔(qiang),可(ke)往(wang)內充入(ru)氮氣(qi)等保(bao)護氣(qi)體(ti),來(lai)防(fang)止(zhi)樣(yang)品(pin)在(zai)負(fu)溫(wen)下結(jie)霜,或(huo)高溫(wen)下氧化。
壹、產(chan)品(pin)參數:
項目 | 類(lei)別 | 參數 |
溫(wen)控參數 | 溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei) | 負(fu)190℃-600℃(負(fu)溫(wen)需(xu)配(pei)液(ye)氮(dan)制冷系(xi)統(tong)) |
傳感器(qi)/溫(wen)控方(fang)式 | 100Ω鉑RTD/PID控制(含(han)LVDC降噪電(dian)源(yuan)) | |
大(da)加(jia)熱(re)/制冷速(su)度(du) | +80℃/min(100℃時),-50℃/min(100℃時) | |
小加(jia)熱(re)/制冷速(su)度(du) | ±0.01℃/min | |
溫(wen)度(du)穩(wen)定性(xing) | ±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃) | |
軟件功(gong)能 | 可(ke)設(she)溫(wen)控速(su)率(lv),可(ke)設(she)溫(wen)控程序(xu),可(ke)記(ji)錄溫(wen)控曲(qu)線 | |
電學參數 | 探針 | 默認為(wei)錸(lai)鎢材(cai)質(zhi)的(de)彎(wan)針探針可(ke)選(xuan)其他種(zhong)類(lei)探針 |
探針座 | 杠(gang)桿(gan)式探針支(zhi)架,點針力(li)度(du)大(da),電(dian)接觸(chu)性(xing)好 | |
點針 | 手動點針,每個(ge)探針座都(dou)可(ke)點到樣品(pin)區(qu)上任(ren)意(yi)位(wei)置 | |
探針接口 | 默認BNC接頭(tou)(可(ke)選(xuan)三(san)同軸)可(ke)增(zeng)設(she)腔(qiang)內接線柱(zhu)(樣品(pin)接電引(yin)線(xian)) | |
臺(tai)面電(dian)位(wei) | 默認為(wei)電(dian)接地(di),可(ke)選(xuan)電(dian)懸(xuan)空(作背(bei)電(dian)極(ji)),可(ke)選(xuan)三(san)同軸接口 | |
結構參數 | 加(jia)熱(re)區(qu)/樣品(pin)區(qu) | 28mm X 30mm |
樣品(pin)腔(qiang)高(gao) | 6.3MM 樣品(pin)大(da)厚(hou)度(du)由探針決定(ding) | |
放樣 | 打(da)開上蓋後置入(ru)樣品(pin)再點針,關上(shang)蓋後無(wu)法移動探針 | |
氣(qi)氛(fen)控(kong)制 | 氣(qi)密(mi)腔(qiang),可(ke)充入(ru)保(bao)護氣(qi)體(ti) 另(ling)有真(zhen)空(kong)腔(qiang)型(xing)號 | |
外(wai)殼(ke)冷卻 | 可(ke)通循環水(shui),以維持(chi)外(wai)殼(ke)溫(wen)度(du)在(zai)常(chang)溫(wen)附近(jin) | |
臺(tai)體尺(chi)寸(cun)/重量(liang) | 180mm X 130mm X26mm /1500g | |
配(pei)置(zhi)列(lie)表(biao) | 基本(ben)配(pei)置(zhi) | 溫(wen)控探針臺(tai)、mK200B溫(wen)控器(qi)、外(wai)殼(ke)循環水(shui)冷(leng)系(xi)統 |
可(ke)選(xuan)配(pei)件 | 測試源(yuan)表(biao)、真(zhen)空(kong)系統(tong)(僅(jin)用(yong)於(yu)真(zhen)空(kong)型(xing)號)、三同(tong)軸BNC接口、臺(tai)面電(dian)懸(xuan)空、樣(yang)品(pin)接電引(yin)線(xian) |
二(er)、功(gong)能特(te)點:
可(ke)編程精(jing)密控(kong)溫(wen)。可(ke)獨立(li)控(kong)制,也(ye)可(ke)從(cong)上(shang)位(wei)機軟件控(kong)制
探針需(xu)開蓋移動,樣品(pin)臺(tai)面電(dian)接地(di)
探針,分別導通冷熱(re)臺(tai)外(wai)殼(ke)上的(de)4個BNC接口
杠(gang)桿(gan)式探針支(zhi)架,點針力(li)度(du)大(da),電(dian)接觸(chu)性(xing)好
彎(wan)針探針,點針準
默認(ren)氣(qi)密(mi)腔(qiang)室(shi),通問2個快(kuai)速自鎖接頭(tou),可(ke)充保(bao)護氣(qi)體(ti)
上蓋帶(dai)有樣(yang)品(pin)觀察(cha)窗(chuang)
臺(tai)體內置(zhi)幹(gan)燥(zao)氣(qi)體(ti)管(guan)道,用於(yu)負(fu)溫(wen)時對視(shi)窗(chuang)的(de)除霜
視窗(chuang)可(ke)拆(chai)卸與換,可(ke)用(yong)不(bu)同材(cai)質(zhi)窗(chuang)片(pian)實現不(bu)同(tong)波段(duan)光(guang)觀(guan)察
軟件可(ke)拓(tuo)展性(xing)強,可(ke)提(ti)供(gong)LabView等語言的(de)SDK
三、可(ke)定(ding)制多測(ce)試功(gong)能:
介電(dian)溫(wen)譜測(ce)試
四探針電阻率(lv)測試
絕緣(yuan)電阻測試
四、設(she)備優(you)勢:
1.高速(su)加(jia)熱(re)與(yu)冷(leng)卻(que)方式
高能量(liang)的(de)紅外(wai)燈(deng)和鍍金(jin)反射方式允許高(gao)速加(jia)熱(re)到高溫(wen)。同時(shi)爐體可(ke)配(pei)置(zhi)水(shui)冷(leng)系(xi)統,增(zeng)設(she)氣(qi)體(ti)冷(leng)卻(que)裝置(zhi),可(ke)實現快(kuai)速(su)冷卻。
2.溫(wen)度(du)控制
近(jin)紅外(wai)鍍(du)金聚(ju)焦爐和(he)溫(wen)度(du)控制器的(de)組合使(shi)用(yong),可(ke)以準確(que)控制樣品(pin)的(de)溫(wen)度(du)。
3.不同(tong)環(huan)境(jing)下的(de)加(jia)熱(re)與(yu)冷(leng)卻(que)
加(jia)熱(re)/冷(leng)卻(que)可(ke)用(yong)真(zhen)空(kong)、氣(qi)氛(fen)環(huan)境(jing)、低溫(wen)(高純度(du)惰(duo)性(xing)氣(qi)體(ti)靜(jing)態或(huo)流動),操(cao)作簡(jian)單(dan),使用石(shi)英(ying)玻(bo)璃制成(cheng)。紅外(wai)線(xian)可(ke)傳送到加(jia)熱(re)/冷(leng)卻(que)室(shi)。

公(gong)司(si)主(zhu)營產(chan)品(pin):
幾(ji)大(da)系(xi)列:介電(dian)擊(ji)穿(chuan)強度(du)試驗(yan)儀(yi)(電(dian)壓擊(ji)穿(chuan)試驗(yan)儀(yi))、表(biao)面體(ti)積(ji)電阻率(lv)測度(du)儀、電(dian)痕(hen)化指(zhi)數(shu)試驗(yan)儀(yi)、耐(nai)電(dian)弧試驗(yan)儀(yi)、沖(chong)擊(ji)電壓試驗(yan)儀(yi)、萬(wan)能材(cai)料(liao)試驗(yan)機(ji)、薄膜沖擊(ji)試驗(yan)機(ji)、落(luo)錘(chui)式沖擊(ji)試驗(yan)機(ji)、馬丁耐(nai)熱(re)試驗(yan)儀(yi)、熔(rong)體(ti)流動速率(lv)測定儀、軟磁交流(liu)測(ce)試系(xi)統、軟磁直流(liu)測(ce)試系(xi)統、納(na)米犬分(fen)析(xi)測(ce)試儀(yi)、多功(gong)能精(jing)密電(dian)池(chi)測試分(fen)析(xi)儀(yi)、霍尼(ni)韋爾(er)便(bian)攜氣(qi)體(ti)檢(jian)測(ce)儀(yi)、復(fu)合氣(qi)體(ti)檢(jian)測(ce)儀(yi)、便(bian)攜式氧氣(qi)檢(jian)測(ce)儀(yi)、臭(chou)氧檢(jian)測(ce)儀(yi)、防(fang)水(shui)型(xing)二(er)氧化氯(lv)檢(jian)測(ce)儀(yi)、硫(liu)化氫(qing)檢(jian)測(ce)報(bao)警(jing)器、液(ye)化氣(qi)檢(jian)測(ce)報(bao)警(jing)、電動自行車(che)電池(chi)、無(wu)線(xian)傳感器(qi)電(dian)池(chi)、電動汽車電(dian)池(chi)、礦燈(deng)電(dian)池(chi)、儲(chu)能電池(chi)等數百(bai)個產(chan)品(pin)。
華測(ce)專(zhuan)業定制高性(xing)價比(bi)高(gao)低溫(wen)控探針臺(tai)冷熱(re)臺(tai)
華測(ce)專(zhuan)業定制高性(xing)價比(bi)高(gao)低溫(wen)控探針臺(tai)冷熱(re)臺(tai)
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