華測HC系(xi)列(lie)多功(gong)能材(cai)料(liao)電學(xue)綜合測試(shi)系(xi)統

華測HC系(xi)列(lie)多功(gong)能材(cai)料(liao)電學(xue)綜合測試(shi)系(xi)統

本(ben)套功(gong)能材(cai)料(liao)電學(xue)測試(shi)系(xi)統通(tong)過阻(zu)抗分析(xi)儀、高(gao)阻(zu)計配(pei)合(he)高(gao)低(di)溫測試(shi)裝(zhuang)置(zhi)，能夠(gou)精確的(de)測量(liang)高(gao)分子(zi)材料(liao)介電常(chang)數及(ji)介質(zhi)損耗(hao)以及(ji)在(zai)高(gao)低(di)溫條(tiao)件(jian)下(xia)的(de)介電溫譜(pu)及(ji)介電頻譜(pu)等(deng)參數(shu)。

本(ben)儀(yi)器(qi)還可以進行(xing)不(bu)同溫(wen)度(du)範(fan)圍的(de)測量(liang)，可(ke)以滿足不同電介質(zhi)材(cai)料(liao)測量(liang)時對溫(wen)度(du)範(fan)圍和(he)控(kong)溫精(jing)度(du)的(de)不(bu)同要(yao)求(qiu)，配合高(gao)低(di)溫測試(shi)模(mo)塊，用(yong)於(yu)研究(jiu)電介質(zhi)材(cai)料(liao)在(zai)高(gao)溫(wen)條件(jian)下(xia)的(de)介電。

優(you)秀的(de)測試(shi)功(gong)能

HCTD3000鐵(tie)電測試(shi)系(xi)統具有(you)寬(kuan)頻率(lv)響應(ying)範圍及(ji)寬(kuan)測試(shi)電壓(ya)範圍，性價(jia)比(bi)非常(chang)高(gao)，滿足了(le)用(yong)戶追(zhui)求(qiu)高(gao)性價(jia)的(de)需求。主(zhu)機(ji)內置(zhi)電壓(ya)檔(dang)位(wei)有(you)±10V，±30V，±100V，±200V和(he)±500V可(ke)選。在(zai)±10V的(de)內置(zhi)電壓(ya)下(xia)，電滯回(hui)線(xian)測試(shi)頻率(lv)達到(dao)2MHz；在(zai)±500V的(de)內置(zhi)電壓(ya)下(xia)，電滯回(hui)線(xian)測試(shi)頻率(lv)達到(dao)±2kHz。此(ci)系統還可外(wai)部(bu)擴(kuo)展(zhan)電壓(ya)到(dao)4kV和(he)10kV，也可加載選件(jian)實現壓(ya)電、熱釋(shi)電和磁(ci)電測試(shi)功(gong)能。此(ci)系(xi)統(tong)包含Vision基(ji)本(ben)鐵(tie)電管(guan)理測試(shi)軟(ruan)件(jian)。此外(wai)還可外(wai)部(bu)擴(kuo)展(zhan)電壓(ya)到(dao)4kV和(he)10kV，Premier II在(zai)不改(gai)變(bian)樣(yang)品連接(jie)的(de)情(qing)況下(xia)可執行(xing)電滯回(hui)線(xian)，脈沖，漏電流，IV和(he)CV測試(shi)，也(ye)可加載選件(jian)實現壓(ya)電、熱釋(shi)電、磁(ci)電測試(shi)和(he)晶(jing)體管(guan)特(te)性測試(shi)功(gong)能。

  鐵(tie)電參數(shu)測試(shi)功(gong)能  

 多測試(shi)功(gong)能

華測HC系(xi)列(lie)多功(gong)能材(cai)料(liao)電學(xue)綜合測試(shi)系(xi)統