鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)支持(chi)哪(na)些(xie)擴(kuo)展(zhan)功能?

鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)支持(chi)哪(na)些(xie)擴(kuo)展(zhan)功能?

鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)是壹種用於(yu)研究(jiu)和測(ce)試(shi)鐵(tie)電(dian)材(cai)料性(xing)能(neng)的(de)精密(mi)儀(yi)器(qi)，其(qi)擴(kuo)展(zhan)功能十分(fen)豐(feng)富(fu)，通(tong)常包括(kuo)但不(bu)限於(yu)以(yi)下(xia)方面：

 壹、基本(ben)測(ce)試(shi)功能的(de)擴展

鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)在不改(gai)變(bian)樣品連(lian)接的(de)情(qing)況下(xia)，可(ke)執(zhi)行多(duo)種基(ji)本(ben)測(ce)試(shi)功能的(de)擴展，如(ru)：

電(dian)滯回(hui)線測(ce)試(shi)：測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)材(cai)料的(de)電(dian)滯回(hui)線，是(shi)鐵(tie)電(dian)性能(neng)測(ce)試(shi)的(de)基礎(chu)。

脈沖(chong)測(ce)試(shi)：對鐵(tie)電(dian)材(cai)料施(shi)加(jia)脈沖(chong)信(xin)號(hao)，觀察其響應(ying)特(te)性(xing)。

漏電(dian)流測(ce)試(shi)：測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)材(cai)料在電(dian)場作用下(xia)的(de)漏電(dian)流，評(ping)估(gu)其絕(jue)緣性(xing)能(neng)。

IV和CV測(ce)試(shi)：分別(bie)測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)材(cai)料的(de)電(dian)流-電(dian)壓（I-V）和電(dian)容-電(dian)壓（C-V）特性(xing)。

二(er)、特(te)殊(shu)測(ce)試(shi)功能的(de)擴展

通(tong)過(guo)加(jia)載選件，鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)還可(ke)以(yi)實現以(yi)下(xia)特(te)殊(shu)測(ce)試(shi)功能的(de)擴展：

壓電(dian)性能(neng)測(ce)試(shi)：測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)材(cai)料的(de)壓電(dian)效(xiao)應(ying)，評(ping)估(gu)其(qi)壓電(dian)性能(neng)。

熱釋電(dian)性能(neng)測(ce)試(shi)：測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)材(cai)料的(de)熱釋電(dian)效(xiao)應(ying)，評(ping)估(gu)其(qi)熱釋電(dian)性能(neng)。

TSDC（熱激(ji)發極(ji)化(hua)電(dian)流）測(ce)試(shi)：研究(jiu)鐵(tie)電(dian)材(cai)料在溫(wen)度(du)變化(hua)下(xia)的(de)極化(hua)電(dian)流特(te)性(xing)。

電(dian)卡測(ce)試(shi)：測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)材(cai)料在電(dian)場作用下(xia)的(de)熱效(xiao)應(ying)，評(ping)估(gu)其(qi)電(dian)卡性(xing)能。

阻抗(kang)分(fen)析(xi)和電(dian)阻測(ce)量(liang)：測(ce)量(liang)鐵(tie)電(dian)材(cai)料的(de)阻抗(kang)和電(dian)阻特(te)性(xing)，評估(gu)其(qi)電(dian)學性能(neng)。

三(san)、與其(qi)他設(she)備(bei)的(de)擴展連(lian)接

鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)還可(ke)以(yi)與高(gao)低溫(wen)冷(leng)熱臺、高溫(wen)測(ce)試(shi)裝(zhuang)置(zhi)、探(tan)針臺(tai)、高壓放大器(qi)、高(gao)阻計、阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)、激(ji)光幹涉(she)儀(yi)、溫(wen)控控(kong)制器(qi)、數(shu)字(zi)源(yuan)表等(deng)設(she)備進(jin)行擴展連(lian)接，以(yi)實現更廣(guang)泛的(de)測(ce)試(shi)功能。例(li)如(ru)：

與高(gao)低溫(wen)冷(leng)熱臺連(lian)接：可(ke)在不同(tong)溫(wen)度(du)下(xia)進(jin)行鐵(tie)電(dian)性能(neng)測(ce)試(shi)，研究(jiu)溫(wen)度(du)對鐵(tie)電(dian)性能(neng)的(de)影響。

與高(gao)壓放大器(qi)連(lian)接：可(ke)提高測(ce)試(shi)電(dian)壓範圍(wei)，滿(man)足(zu)高(gao)電(dian)壓下(xia)的(de)鐵(tie)電(dian)性能(neng)測(ce)試(shi)需求。

與激(ji)光幹涉(she)儀(yi)連(lian)接：可(ke)進(jin)行應(ying)變(bian)測(ce)量(liang)，評估鐵(tie)電(dian)材(cai)料在電(dian)場作用下(xia)的(de)應(ying)變(bian)特(te)性(xing)。