壓(ya)電(dian)材(cai)料電(dian)場應變(bian)特(te)性(xing)測(ce)試(shi)儀蝴蝶(die)曲線(xian)測(ce)試(shi)

壓(ya)電(dian)材(cai)料電(dian)場應變(bian)特(te)性(xing)測(ce)試(shi)儀蝴蝶(die)曲線(xian)測(ce)試(shi)

華測儀(yi)器(qi)新(xin)推出的微型(xing)激(ji)光測振傳感(gan)器(qi),激光測振儀是壹(yi)種(zhong)小型(xing)激(ji)光傳感平(ping)臺，將這(zhe)兩種(zhong)主(zhu)流的(de)傳(chuan)感(gan)功(gong)能結合(he)在壹(yi)個(ge)光學(xue)平(ping)臺上(shang)，可實(shi)現(xian)位移(yi)測量(liang)和(he)振動測量等多(duo)種(zhong)功(gong)能， 激(ji)光測振儀在保(bao)持(chi)高的(de)精(jing)度(du)的測量(liang)同(tong)時(shi)還(hai)極(ji)大(da)降低(di)了(le)模塊(kuai)尺(chi)寸(cun)和(he)成本。微型(xing)激(ji)光測振傳感(gan)器(qi)/激光測振儀產(chan)品(pin)性(xing)能(neng)方(fang)面覆蓋(gai)從(cong)低(di)頻(pin)到高頻(pin)甚(shen)至(zhi)超(chao)聲測(ce)量領(ling)域DC~2.5MHz的頻率(lv)範(fan)圍相應(ying)，較大(da)測(ce)量速(su)度(du)20m/s，振幅分(fen)辨(bian)率20pm，頻(pin)率(lv)精(jing)度(du)小於0.1%

產(chan)品(pin)優(you)勢

1、無源化(hua)：無源化(hua)光纖(xian)光學(xue)頭設計，不存在有源電(dian)路。

2、便攜(xie)性(xing)：可(ke)固定(ding)於三(san)腳架(jia)，配有為儀器(qi)定制(zhi)的(de)拉桿(gan)箱(xiang)，方(fang)便攜(xie)帶(dai)

3、大(da)量(liang)程(cheng)：較大(da)測(ce)量範圍可(ke)達(da)到10m，較大(da)測(ce)量速(su)度(du)可達 24.5m/s。

4、可定(ding)制：可根(gen)據(ju)客(ke)戶要求選擇適當(dang)量(liang)程(cheng)和(he)頻率(lv)範圍(wei)，為客(ke)戶進(jin)行(xing)定(ding)制(zhi)。

5、個(ge)性(xing)化(hua)軟件：可(ke)根(gen)據(ju)客(ke)戶需求配備(bei)具(ju)有 實時(shi)評價測(ce)量(liang)結果(guo)、實(shi)時(shi)顯示變化趨(qu)勢(shi)等智能(neng)化功(gong)能的(de)軟件(jian)。

6、非(fei)接觸(chu)式測量(liang)：可解決接觸(chu)式測量(liang)在實(shi)際應(ying)用中受(shou)測(ce)量環境(jing)（高溫(wen)、 強磁、腐蝕(shi)性(xing)材(cai)質(zhi)等）影響(xiang)而無法(fa)完成(cheng)的測試(shi)。

7、完整的(de)解決方(fang)案：包(bao)含了(le)光學(xue)調試(shi)、電(dian)路去(qu)噪、信(xin)號處理(li)、數據(ju)采(cai)集(ji)及軟(ruan)件分析(xi)功(gong)能。

8、人(ren)眼安(an)全(quan)：采(cai)用人(ren)眼安(an)全(quan)的(de)不(bu)可(ke)見紅外(wai)光作(zuo)為測量光。

壓(ya)電(dian)材(cai)料電(dian)場應變(bian)特(te)性(xing)測(ce)試(shi)儀蝴蝶(die)曲線(xian)測(ce)試(shi)主要技術(shu)指(zhi)標(biao)：

鐵電(dian)分析(xi)儀

電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)：0.1V ~ ±1000V（可(ke)調）

頻率(lv)範(fan)圍(wei)：0.01Hz ~ 1MHz

溫(wen)度(du)範圍：-40°C ~ 300°C

數據(ju)采(cai)集(ji)速(su)率(lv)：較高1000點(dian)/秒，確(que)保高的(de)精(jing)度(du)的測量(liang)

10kV功(gong)率放(fang)大(da)器(qi)

輸出(chu)電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)：0 ~ 10KV 直(zhi)流或(huo)峰值(zhi)交(jiao)流

輸出(chu)電(dian)流範(fan)圍(wei)：0 ~ 40mA 直(zhi)流或(huo)峰值(zhi)交(jiao)流

輸入(ru)電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)：0 - 10V 直(zhi)流或(huo)峰值(zhi)交(jiao)流

輸入(ru)阻抗(kang)：25kΩ

直流電(dian)壓(ya)增益(yi)：1000V/V

直流電(dian)壓(ya)增益(yi)精(jing)度(du)：優(you)於滿量(liang)程(cheng)的0.2%

內(nei)部(bu)電(dian)容(rong)：300pF (高壓(ya)輸出(chu))

直(zhi)流失(shi)調電(dian)壓(ya)：低(di)於±2V

小信(xin)號帶(dai)寬 (-3dB)：DC 優(you)於10KHz

大(da)信(xin)號帶(dai)寬(-3dB)：DC 優(you)於5KHz

輸出(chu)噪(zao)聲(sheng)：低(di)於40mV rms

激(ji)光測振儀

指(zhi)示激(ji)光波長：636 nm

測量激(ji)光波長：1550 nm

工(gong)作(zuo)距(ju)離(li)：0.35 m ~ 10 m

小信(xin)號：10 kHz

較大(da)測(ce)量速(su)度(du)：±24.5 m/s

位移(yi)範圍(wei)：±4900 mm

輸出(chu)電(dian)壓(ya)範(fan)圍(wei)：±10V

頻(pin)率(lv)範圍：DC～3MHz

采樣率(lv)：不低(di)於15360000

薄(bo)膜(mo)材(cai)料測(ce)試(shi)裝置(zhi)

塊(kuai)體(ti)材(cai)料測(ce)試(shi)裝置(zhi)

激光測振儀配(pei)合(he)高低(di)溫(wen)冷熱(re)臺對(dui)壓(ya)電(dian)器(qi)件測(ce)量(liang)

1. 連接到Huace FE-3000鐵電(dian)分析(xi)儀上(shang)的激(ji)光測振儀可(ke)精(jing)確(que)測量沈積在懸(xuan)臂(bi)和(he)膜(mo)上(shang)或沈(chen)積在基(ji)板(ban)上(shang)的壓(ya)電(dian)薄膜(mo)的(de)壓(ya)電(dian)系數；

2. 鐵電(dian)測試(shi)系統與(yu)激(ji)光幹涉(she)儀相結合(he)，在D33振(zhen)動過程(cheng)中可以(yi)達到0.2pA(0.02nm)分辨(bian)率；

3. 高低(di)溫(wen)冷熱(re)臺可以(yi)添(tian)加到薄膜(mo)壓(ya)電(dian)測試(shi)套件中，可以(yi)在單(dan)個(ge)樣品(pin)在 -196℃至(zhi) 600℃的(de)溫(wen)度(du)中進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)。

激(ji)光測振儀配(pei)合(he)懸臂(bi)梁測(ce)量對(dui)薄(bo)膜(mo)應(ying)變(bian)測(ce)量

激光測振儀與(yu)薄(bo)膜(mo)壓(ya)電(dian)測試(shi)(E31)相結合(he)，可測(ce)量(liang)沈積在懸(xuan)臂(bi)上(shang)的壓(ya)電(dian)薄膜(mo)的(de)壓(ya)電(dian)系數(E31、D31和(he)E33)。 應用場景：壓(ya)電(dian)疲(pi)勞、壓(ya)電(dian)老化、過程(cheng)監控。