
“光(guang)電傳(chuan)感器(qi)”是利(li)用光(guang)的各種性(xing)質(zhi),檢測(ce)物體的有無和(he)表面(mian)狀(zhuang)態(tai)的變(bian)化等的傳(chuan)感器(qi)。
光(guang)電傳(chuan)感器(qi)主(zhu)要由發(fa)光(guang)的投光部(bu)和(he)接受(shou)光(guang)線(xian)的受(shou)光(guang)部(bu)構(gou)成(cheng)。如果(guo)投射的光線(xian)因檢測物體不(bu)同(tong)而(er)被(bei)遮掩或(huo)反射,到(dao)達(da)受(shou)光(guang)部(bu)的
量(liang)將會發(fa)生(sheng)變(bian)化。受(shou)光(guang)部(bu)將檢測(ce)出這種變(bian)化,並轉換為電氣信號(hao),進(jin)行輸(shu)出。大多使(shi)用可(ke)視(shi)光(guang)(主(zhu)要為紅(hong)色(se),也(ye)用(yong)綠(lv)色(se)、藍(lan)色(se)
來(lai)判(pan)斷(duan)顏色(se))和(he)紅外光。
特(te)點(dian):
①檢(jian)測(ce)距離(li)長
如果(guo)在(zai)對射(she)型(xing)中(zhong)保留10m以(yi)上(shang)的檢測(ce)距離(li)等,便(bian)能(neng)實(shi)現(xian)其他(ta)檢(jian)測(ce)手(shou)段(duan)(磁性、超(chao)聲(sheng)波等)無法(fa)達到(dao)的長距離檢(jian)測(ce)器(qi)。
②對(dui)檢(jian)測物體的限制少
由於(yu)以(yi)檢(jian)測物體引起(qi)的遮光(guang)和(he)反射為檢(jian)測(ce)原理,所(suo)以(yi)不(bu)象(xiang)接(jie)近(jin)傳(chuan)感器(qi)等將檢測(ce)物體限(xian)定(ding)在(zai)金(jin)屬,它(ta)可對玻璃(li)·塑料(liao)·木(mu)材·液體
等幾(ji)乎(hu)物體進(jin)行檢(jian)測(ce)。
③響應時(shi)間(jian)短(duan)
光(guang)本(ben)身(shen)為高(gao)速(su),並且傳(chuan)感器(qi)的電路都由電子零件構(gou)成(cheng),所(suo)以(yi)不(bu)包(bao)含(han)機(ji)械(xie)性(xing)工(gong)作(zuo)時(shi)間(jian),響應時(shi)間(jian)非(fei)常短(duan)。
④分(fen)辨(bian)率(lv)高(gao)
能(neng)通過設(she)計(ji)技(ji)術(shu)使投光光束(shu)集(ji)中(zhong)在小(xiao)光(guang)點(dian),或(huo)通過構(gou)成(cheng)特殊(shu)的受(shou)光(guang)光(guang)學(xue)系(xi)統,來(lai)實(shi)現(xian)高分(fen)辨(bian)率(lv)。也(ye)可(ke)進(jin)行微(wei)小(xiao)物體的檢
測(ce)和(he)的位置(zhi)檢(jian)測(ce)。
⑤可(ke)實(shi)現非(fei)接觸的檢測(ce)
可(ke)以(yi)無須機械(xie)性(xing)地(di)接觸檢測物體實(shi)現(xian)檢測(ce),因此不(bu)會(hui)對(dui)檢(jian)測物體和(he)傳(chuan)感器(qi)造成(cheng)損傷(shang)。因此,傳(chuan)感器(qi)能長期(qi)使(shi)用(yong)。
⑥可(ke)實(shi)現顏(yan)色(se)判別
通過檢(jian)測(ce)物體形(xing)成(cheng)的光反射率(lv)和(he)吸收率根據被(bei)投光的光線(xian)波長和(he)檢測(ce)物體的顏色(se)組(zu)合而(er)有所(suo)差異(yi)。利(li)用這(zhe)種性(xing)質(zhi),
可(ke)對(dui)檢測(ce)物體的顏色(se)進(jin)行檢(jian)測(ce)。
⑦便(bian)於(yu)調(tiao)整
在(zai)投射可視(shi)光的類型(xing)中(zhong),投光光束(shu)是眼(yan)睛(jing)可見的,便(bian)於(yu)對(dui)檢(jian)測物體的位置(zhi)進(jin)行調(tiao)整。

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