功能材(cai)料(liao)高電場介電(dian)，損耗(hao)，漏(lou)電流(liu)測(ce)試(shi)儀

功能材(cai)料(liao)高電場介電(dian)，損耗(hao)，漏(lou)電流(liu)測(ce)試(shi)儀

功能材(cai)料(liao)高電場介電(dian)，損耗(hao)，漏(lou)電流(liu)測(ce)試(shi)儀可實(shi)現從(cong)低(di)頻(pin)到高頻(pin)信號(hao)的(de)輸(shu)出(chu)與(yu)測(ce)量，系統由工控機(ji)發出(chu)指令(ling)，單(dan)片機控(kong)制(zhi)FPGA發出(chu)測(ce)量波形，FPGA壹(yi)路信號(hao)控(kong)制(zhi)不同頻(pin)率(lv)幅(fu)值的信號(hao)由(you)高(gao)壓(ya)放(fang)大器進行電壓(ya)放(fang)大後(hou)，施(shi)加在樣品(pin)上(shang)，另壹(yi)路施(shi)加在鎖相(xiang)放(fang)大器作為參(can)考(kao)信號(hao)，不同頻(pin)率(lv)幅(fu)值的高(gao)壓(ya)信號(hao)加載樣樣品(pin)上(shang)，樣品(pin)測量的信號(hao)測(ce)量後，再回傳FPGA測試(shi)板卡(ka)。測量的數據(ju)再由(you)單片機回傳工控(kong)機進行數據(ju)處理。

它(ta)使用真正(zheng)的(de) AC DFR（介電(dian)頻(pin)率(lv)響應(ying)），保持出(chu)色的(de)準(zhun)確(que)性(xing)和提(ti)供可靠(kao)數據(ju)的能力，可(ke)在高幹(gan)擾環境中(zhong)獲(huo)得可靠(kao)的測(ce)試結果。 該(gai)軟(ruan)件(jian)使測(ce)試(shi)既簡單(dan)又(you)快捷，它(ta)可(ke)在(zai)進行不同溫(wen)度(du)，頻(pin)率(lv)下(xia)測量材料(liao)的介電常(chang)數及介質損耗(hao)因(yin)數(shu)。本套(tao)系統可以在任意(yi)電(dian)壓(ya)激勵下的介(jie)電(dian)響應(ying)測(ce)試(shi)根(gen)據(ju)需要(yao)自定(ding)義輸出(chu)任(ren)意電壓(ya)波形激勵，滿足對(dui)不同條(tiao)件(jian)下不同絕(jue)緣(yuan)材料(liao)不同方(fang)面(mian)的測(ce)試需求(qiu)，較(jiao)好地(di)適應(ying)用戶(hu)需求(qiu)。

設計(ji)框圖

產品(pin)優勢

對(dui)被測(ce)信號(hao)進行調(tiao)整的(de)信號(hao)源(yuan)，由(you)鎖相(xiang)放(fang)大器的信號(hao)輸(shu)出(chu)端(duan)提供，采(cai)用內(nei)部(bu)參(can)考(kao)模(mo)式，這種模式(shi)幅(fu)於(yu)鎖相(xiang)放(fang)大器對(dui)直接可以獲取(qu)的(de)參(can)考(kao)信號(hao)的(de)幅(fu)度(du)及相(xiang)位，測量精度更高。數(shu)字(zi)鎖相(xiang)放(fang)大器不會由於(yu)算(suan)法(fa)計(ji)算(suan)而引入或(huo)考(kao)增加噪聲(sheng)，並(bing)且基(ji)本不受外界環(huan)境的(de)幹(gan)擾。