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        1. 您(nin)好(hao)!歡迎(ying)訪(fang)問(wen)北京華測試驗儀(yi)器有(you)限公司網站!
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          當(dang)前(qian)位(wei)置(zhi):首頁 > 產(chan)品中心 > 改性塑料(liao)試驗設(she)備(bei) > 電(dian)弱點試驗儀(yi) > HCRD-300計算(suan)機(ji)控(kong)制電弱點測試(shi)儀(yi),精確(que)檢(jian)測絕緣薄膜(mo)

          計算機(ji)控(kong)制電弱點測試(shi)儀(yi),精確(que)檢(jian)測絕緣薄膜(mo)

          簡要描(miao)述:計(ji)算機(ji)控(kong)制電弱點測試(shi)儀(yi),精確(que)檢(jian)測絕緣薄膜(mo)主要應用於(yu)新能(neng)源汽車(che)用鋰離(li)子電(dian)池隔膜(mo)電氣絕緣缺陷(xian)檢(jian)測。新能(neng)源塑料(liao)薄膜(mo)鋰電池隔膜(mo)電弱點測試(shi)儀(yi)主要用於(yu)鋰離(li)子電(dian)池隔膜(mo)、電容器用聚脂(zhi)薄膜(mo)、聚丙(bing)稀薄膜(mo)的電弱點測試(shi)。

          • 產(chan)品型(xing)號(hao):HCRD-300
          • 廠(chang)商(shang)性質:生產廠(chang)家(jia)
          • 更(geng)新時間(jian):2025-07-24
          • 訪(fang)  問(wen)  量:1464

          詳細(xi)介(jie)紹

          品牌華(hua)測(ce)儀(yi)器重(zhong)量50kg
          應用領域(yu)能(neng)源,電氣(qi),綜合30-1200mm
          5-35um卷(juan)芯(xin)尺寸內(nei)徑(jing)3英(ying)寸(cun)、規(gui)格(ge)可(ke)定制
          隔膜(mo)受到的電壓範圍DC100-6000V分辨率(lv)1V
          電(dian)壓精度2%+1V保(bao)護電流(liu)0-10mA
          擊(ji)穿電(dian)流0-10mA連(lian)續可(ke)調(tiao)分辨率(lv)0.1A精(jing)度:5%士(shi)0.1mA
          膜(mo)移動速度3-10m/min連(lian)續可(ke)調(tiao)擊(ji)穿後(hou)要求0.1S恢(hui)復到設(she)定電壓


          計(ji)算(suan)機(ji)控(kong)制電弱點測試(shi)儀(yi),精確(que)檢(jian)測絕緣薄膜(mo)


          計(ji)算(suan)機(ji)控(kong)制電弱點測試(shi)儀(yi),精確(que)檢(jian)測絕緣薄膜(mo)


          壹(yi)、計(ji)算(suan)機(ji)控(kong)制電弱點測試(shi)儀(yi),精確(que)檢(jian)測絕緣薄膜(mo)產品介(jie)紹:

          HCRD-300型(xing)電(dian)弱(ruo)點測驗儀(yi)主要應用於(yu)新能(neng)源汽車(che)用鋰離(li)子電(dian)池隔膜(mo)電氣絕緣缺陷(xian)檢(jian)測。采(cai)用計算(suan)機(ji)控(kong)制,通(tong)過(guo)人(ren)機(ji)對話方(fang)式(shi),HCRD-300型(xing)電弱點測試(shi)儀(yi)是根(gen)據(ju)1EC 60674-2:2009 電(dian)氣用塑料(liao)薄膜(mo)第(di)2部分:試驗方(fang)法(fa)及(ji)其第(di)1次修正和(he)GB/T13542-2009 《電(dian)氣用塑料(liao)薄膜(mo)試驗方(fang)法(fa)》而設(she)計(ji)的高(gao)壓(ya)試驗裝置(zhi)。新能(neng)源塑料(liao)薄膜(mo)鋰電池隔膜(mo)電弱點測試(shi)儀(yi)主要用於(yu)鋰離(li)子電(dian)池隔膜(mo)、電容器用聚脂(zhi)薄膜(mo)、聚丙(bing)稀薄膜(mo)的電弱點測試(shi)。

          自(zi)動(dong)化(hua)鋰離子電(dian)池隔膜(mo)電弱點測試(shi)儀(yi)系(xi)列(lie)產品的主要特(te)點是能(neng)根(gen)據(ju)薄膜(mo)的使用寬度進行(xing)電(dian)弱(ruo)點的測試,測試寬(kuan)度可(ke)根(gen)據(ju)用戶的要求而(er)設(she)定,無須將膜(mo)分切(qie)成小卷(juan),免(mian)除了許(xu)多(duo)外來因素對測試結果的影響(xiang)。測(ce)試(shi)數據(ju)能(neng)真實地(di)反映薄膜(mo)的質量水平。新能(neng)源塑料(liao)薄膜(mo)鋰電池隔膜(mo)電弱點測試(shi)儀(yi)的主要元器件均選用(如(ru)歐姆(mu)龍,,ABB等),有(you)效(xiao)地(di)保證了設(she)備(bei)的可靠(kao)性、耐用性和穩定性。測量準確(que),復現性好(hao)。測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)采(cai)用電子技(ji)術(shu)全自(zi)動控(kong)制,遇到電(dian)弱(ruo)點時電壓(ya)切(qie)斷動(dong)作迅(xun)速(su)。擊(ji)穿電(dian)流在(zai)0~40mA連(lian)續可(ke)調(tiao),復現性好(hao)。本機(ji)具備(bei)多(duo)重(zhong)保護功能(neng),充分考(kao)慮了操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)及(ji)設(she)備(bei)的性。如(ru)過(guo)壓(ya)、過(guo)流(liu)、接地(di)保護,試驗平臺(tai)門開啟保護。


          二(er)、設(she)備(bei)優勢:

          1、TVS瞬(shun)間(jian)抑(yi)制防(fang)護技術(shu):

          電(dian)弱(ruo)點測試(shi)儀(yi)大都(dou)采(cai)用的光(guang)耦隔離方(fang)式(shi),但(dan)光(guang)耦與隔離無非是提(ti)高(gao)儀(yi)器的采集的抗擾處理(li),對於(yu)擊(ji)穿放(fang)電(dian)過(guo)程(cheng)中的浪湧(yong)對控(kong)制系(xi)統(tong)的防(fang)護起不(bu)到(dao)任(ren)何(he)作用。

          2、方(fang)便的試驗方(fang)式(shi):

          本試驗儀(yi)器輸(shu)入(ru)交流電(dian)壓與直(zhi)流電(dian)壓(ya),試(shi)驗過(guo)程(cheng)通(tong)過(guo)設(she)備(bei)自(zi)帶的工控(kong)機(ji)進行(xing)控(kong)制。實時觀測(ce)電(dian)弱點數量,試驗樣品轉速與長度、試(shi)驗電壓與試驗電流等參(can)數。

          3、伺服電機(ji)配合編(bian)碼(ma)器同(tong)步運行(xing)保(bao)證(zheng)精確(que)速度控(kong)制:

          本試驗儀(yi)器采(cai)用伺服電機(ji)控(kong)制收卷(juan)速度。伺服電機(ji)程(cheng)序(xu)上采用閉環(huan)控(kong)制,同時配合數字(zi)編(bian)碼(ma)器相(xiang)互驗證,精確(que)速(su)度控(kong)制。

          4、雙(shuang)系(xi)統(tong)互鎖(suo)技術(shu)及(ji)隔離屏蔽(bi)技術:

          采(cai)用雙系(xi)統(tong)互鎖(suo)技術(shu)應用於(yu)電弱(ruo)點測試(shi)儀(yi)器,華(hua)測(ce)生產的電弱點測試(shi)儀(yi)器不(bu)僅(jin)具(ju)備(bei)過(guo)壓(ya)、過(guo)流(liu)保護系(xi)統(tong),它(ta)的雙系(xi)統(tong)互鎖(suo)機(ji)制,當任何(he)元器件出現(xian)問(wen)題或單系(xi)統(tong)出現(xian)故(gu)障(zhang)時,將瞬(shun)間(jian)切(qie)斷高(gao)壓(ya)。技術(shu),將起到對控(kong)制系(xi)統(tong)的防(fang)護。

          5、SPM電(dian)子升(sheng)壓技術(shu):

          設(she)備(bei)大(da)都采(cai)用SPWM電(dian)子升(sheng)壓技術(shu)這-技(ji)術具(ju)有(you)升(sheng)壓速度平(ping)穩,精度高(gao)。便於(yu)維(wei)護等優點是調(tiao)壓(ya)器(qi)wufabini的。

          6、氣(qi)脹(zhang)軸安裝整圈(quan)周膜(mo):

          采(cai)用氣脹(zhang)軸安裝整圈(quan)膜(mo)安裝方(fang)便,優勢是(shi)可(ke)實現(xian)放(fang)圈(quan)與收圈(quan)過(guo)程(cheng)中不(bu)產(chan)生偏向等。

          7、阻(zu)尼(ni)裝置(zhi):

          華(hua)測(ce)自(zi)主開(kai)發(fa)的尼(ni)阻(zu)技(ji)術(shu)可防(fang)止(zhi)運動慣量所產生的膜(mo)移動過(guo)程(cheng)中的松馳現象(xiang)。


          三(san)、工作原理:

          電(dian)弱(ruo)點測試(shi)儀(yi)器根(gen)據(ju)膜(mo)寬度不(bu)用切(qie)卷(juan) 新能(neng)源試驗電壓是(shi)0-20kV交直(zhi)流電(dian)壓(ya),其波(bo)動為(wei)±1%。測試儀(yi)在(zai)試樣弱點擊(ji)穿後(hou)約(yue)0.1s內(nei)使電壓(ya)回(hui)升(sheng)到原來設(she)定的電壓。銅輥為(wei)下電極,導(dao)電橡(xiang)膠(jiao)為(wei)上電極。薄膜(mo)以3m/min的速度移(yi)動。遇弱點時擊(ji)穿,擊(ji)穿點自動(dong)累(lei)積計(ji)數。膜(mo)移動以平方(fang)數自動(dong)計(ji)數。


          四(si)、主要特(te)點:

          1、能(neng)根(gen)據(ju)薄膜(mo)的使用寬度進行(xing)電(dian)弱(ruo)點的測試,測試寬(kuan)度可(ke)根(gen)據(ju)用戶的要求而(er)設(she)定,無須將膜(mo)分切(qie)成小卷(juan),免(mian)除了許(xu)多(duo)外來因素對測試結果的影響(xiang)。

          2、測(ce)試(shi)數據(ju)能(neng)真實地(di)反映薄膜(mo)的質量水平。

          3、主要元器件均選用品牌(如(ru)歐姆(mu)龍,美信,ABB等),有(you)效(xiao)地(di)保證了設(she)備(bei)的可靠(kao)性、耐用性和穩定性。

          4、測(ce)量準確(que),復現性好(hao)。

          5、測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)采(cai)用電子技(ji)術(shu)全自(zi)動控(kong)制,遇到電(dian)弱(ruo)點時電壓(ya)切(qie)斷動(dong)作迅(xun)速(su)。

          6、擊(ji)穿電(dian)流在(zai)0~40mA連(lian)續可(ke)調(tiao),復現性好(hao)。

          7、多(duo)重(zhong)保護功能(neng),充分考(kao)慮了操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)及(ji)設(she)備(bei)的an全性。

          8、過(guo)壓(ya)、過(guo)流(liu)、接地(di)保護,試驗平臺(tai)門開啟保護。


          五(wu)、軟(ruan)件系(xi)統(tong)及(ji)儀(yi)器要求:

          1.具(ju)有(you)電壓(ya)調(tiao)整功(gong)能;

          2.具(ju)有(you)品質(zhi)管控(kong)功(gong)能(neng)(如(ru)缺陷(xian)統(tong)計(ji)、分析(xi)等,可導出到(dao)Excel進行(xing)二(er)次編(bian)輯);

          3、要求儀(yi)器上(shang)面及(ji)左側(ce)開(kai)門,上方(fang)氣(qi)脹(zhang)軸可以從右側(ce)拉(la)出;方(fang)便試(shi)驗人員(yuan)安裝。

          4、要求隔膜(mo)張力可調節,並(bing)顯(xian)示(shi)相應的張力值。導電(dian)橡(xiang)膠(jiao)跟(gen)隔膜(mo)之間(jian)的壓力可調節,並(bing)顯(xian)示(shi)壓力(li)值(zhi)。

          計算機(ji)控(kong)制電弱點測試(shi)儀(yi),精確(que)檢(jian)測絕緣薄膜(mo)


















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