全(quan)自動電(dian)弱點檢測(ce)儀(yi) 專業定(ding)制(zhi)在線(xian)檢測(ce)，提(ti)升絕緣材料(liao)檢測(ce)效率(lv)主(zhu)要(yao)應用(yong)於新(xin)能源汽(qi)車(che)用(yong)鋰離(li)子(zi)電(dian)池隔(ge)膜電(dian)氣絕(jue)緣缺(que)陷檢(jian)測(ce)。新(xin)能源塑料(liao)薄膜鋰電(dian)池隔(ge)膜電(dian)弱點測試儀主(zhu)要用(yong)於鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池隔(ge)膜、電(dian)容器(qi)用(yong)聚脂薄(bo)膜、聚丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜的(de)電(dian)弱點測試。

計(ji)算機(ji)控(kong)制(zhi)電(dian)弱點測試儀，精確檢(jian)測絕(jue)緣薄(bo)膜主要(yao)應用(yong)於新(xin)能源汽(qi)車(che)用(yong)鋰離(li)子(zi)電(dian)池隔(ge)膜電(dian)氣絕(jue)緣缺(que)陷檢(jian)測(ce)。新(xin)能源塑料(liao)薄膜鋰電(dian)池隔(ge)膜電(dian)弱點測試儀主(zhu)要用(yong)於鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池隔(ge)膜、電(dian)容器(qi)用(yong)聚脂薄(bo)膜、聚丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜的(de)電(dian)弱點測試。

化(hua)工(gong)專(zhuan)用(yong)電(dian)弱點測試儀高(gao)效測(ce)定(ding)絕緣材料(liao)擊穿主(zhu)要(yao)應用(yong)於新(xin)能源汽(qi)車(che)用(yong)鋰離(li)子(zi)電(dian)池隔(ge)膜電(dian)氣絕(jue)緣缺(que)陷檢(jian)測(ce)。新(xin)能源塑料(liao)薄膜鋰電(dian)池隔(ge)膜電(dian)弱點測試儀主(zhu)要用(yong)於鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池隔(ge)膜、電(dian)容器(qi)用(yong)聚脂薄(bo)膜、聚丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜的(de)電(dian)弱點測試。

薄(bo)膜電(dian)弱點測試儀器(qi)通過(guo)人(ren)機(ji)對(dui)話(hua)方(fang)式(shi)，本(ben)產品是根據IEC 60674-2:2009 電(dian)氣用(yong)塑料(liao)薄膜 第(di)2部分：試驗(yan)方(fang)法(fa)及(ji)其第(di)1次修(xiu)正（2001）和(he) GB/T13542-92《電(dian)氣用(yong)塑料(liao)薄膜試驗(yan)方(fang)法(fa)》而(er)設計(ji)的(de)高(gao)壓試驗(yan)裝(zhuang)置。主(zhu)要用(yong)於電(dian)容器(qi)用(yong)聚脂薄(bo)膜、聚丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜的(de)電(dian)弱點測試。

計(ji)算機(ji)控(kong)制(zhi)儀(yi)器(qi)——電(dian)弱點測試儀，通(tong)過人(ren)機(ji)對(dui)話(hua)方(fang)式(shi)，本(ben)產品是根據IEC 60674-2:2009 電(dian)氣用(yong)塑料(liao)薄膜 第(di)2部分：試驗(yan)方(fang)法(fa)及(ji)其第(di)1次修(xiu)正（2001）和(he) GB/T13542-92《電(dian)氣用(yong)塑料(liao)薄膜試驗(yan)方(fang)法(fa)》而(er)設計(ji)的(de)高(gao)壓試驗(yan)裝(zhuang)置。主(zhu)要用(yong)於電(dian)容器(qi)用(yong)聚脂薄(bo)膜、聚丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜的(de)電(dian)弱點測試。

電(dian)弱點測試儀器(qi)主要(yao)用(yong)於電(dian)容器(qi)用(yong)聚脂薄(bo)膜、聚丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜的(de)電(dian)弱點測試。該(gai)系列產(chan)品的(de)主要(yao)特(te)點是能(neng)根(gen)據薄膜的(de)使(shi)用(yong)寬度進行電(dian)弱點的(de)測試，測試寬度可(ke)根(gen)據用(yong)戶的(de)要求(qiu)而(er)設定(ding)，無須將膜分切成(cheng)小(xiao)卷(juan)，免(mian)除(chu)了許多(duo)外來(lai)因(yin)素(su)對(dui)測(ce)試結果(guo)的(de)影響。測試數(shu)據能真(zhen)實地反映(ying)薄膜的(de)質量(liang)水(shui)平(ping)。

華測薄膜擊穿電(dian)弱點測試儀器(qi)--鋰電(dian)池隔(ge)膜，該(gai)儀器(qi)是(shi)根據(ju)薄(bo)膜的(de)使(shi)用(yong)寬度進行電(dian)弱點的(de)測試，測試寬度可(ke)根(gen)據用(yong)戶的(de)要求(qiu)而(er)設定(ding)，無須將膜分切成(cheng)小(xiao)卷(juan)，免(mian)除(chu)了許多(duo)外來(lai)因(yin)素(su)對(dui)測(ce)試結果(guo)的(de)影響。測試數(shu)據能真(zhen)實地反映(ying)薄膜的(de)質量(liang)水(shui)平(ping)。測(ce)試過程(cheng)采(cai)用(yong)電(dian)子(zi)技(ji)術全(quan)自動控制(zhi)，遇(yu)到(dao)電(dian)弱點時電(dian)壓切斷動(dong)作迅(xun)速(su)。擊穿電(dian)流在0～40mA連(lian)續(xu)可調(tiao)，復現(xian)性(xing)好(hao)。

多(duo)重(zhong)保(bao)護功能、電(dian)弱點測試儀器(qi)HCRD-300： 該(gai)儀器(qi)是(shi)根據(ju)薄(bo)膜的(de)使(shi)用(yong)寬度進行電(dian)弱點的(de)測試，測試寬度可(ke)根(gen)據用(yong)戶的(de)要求(qiu)而(er)設定(ding)，無須將膜分切成(cheng)小(xiao)卷(juan)，免(mian)除(chu)了許多(duo)外來(lai)因(yin)素(su)對(dui)測(ce)試結果(guo)的(de)影響。測試數(shu)據能真(zhen)實地反映(ying)薄膜的(de)質量(liang)水(shui)平(ping)。有效地(di)保證(zheng)了設(she)備(bei)的(de)可靠(kao)性(xing)、耐(nai)用(yong)性(xing)和(he)穩(wen)定(ding)性(xing)。測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)，復現(xian)性(xing)好(hao)。測試過程(cheng)采(cai)用(yong)電(dian)子(zi)技(ji)術全(quan)自動控制(zhi)，遇(yu)到(dao)電(dian)弱點時電(dian)壓切斷動(dong)作迅(xun)速(su)。擊穿電(dian)流在0～40mA連(lian)續(xu)可調(tiao)，復現(xian)性(xing)好(hao)。