薄(bo)膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器

*    服務好

華測(ce)生(sheng)產(chan)的電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀經(jing)過實(shi)踐(jian)驗證(zheng)，穩定(ding)可(ke)靠，目(mu)前(qian)廣(guang)泛(fan)應用於(yu)電(dian)氣絕緣材(cai)料(liao)的電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)

產品(pin)簡介：

 該(gai)儀器是(shi)根(gen)據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電(dian)氣用塑料(liao)薄(bo)膜(mo)標(biao)

準要(yao)求設計的高(gao)壓(ya)試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置。主(zhu)要(yao)用於(yu)電(dian)氣用聚(ju)氨(an)脂薄(bo)膜(mo)、塑料(liao)薄(bo)

膜、聚(ju)丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜(mo)等(deng)絕緣材(cai)料(liao)在(zai)給定(ding)直流電(dian)壓(ya)下每(mei)平(ping)方米(mi)的擊穿(chuan)點數(shu)。

采用計算機控制(zhi)，通(tong)過(guo)人(ren)機對話(hua)方(fang)式(shi)可(ke)對試(shi)驗(yan)過程(cheng)中的各(ge)種數(shu)據進(jin)行(xing)

快(kuai)速(su)、準確(que)的采集(ji)、處(chu)理，並可(ke)存取(qu)、顯(xian)示(shi)、打(da)印。

產(chan)品用途(tu)：

 據標(biao)準《GB/T 13541-92電(dian)氣用塑料(liao)薄(bo)膜(mo)試(shi)驗(yan)方法(fa)》，電(dian)氣用塑

料(liao)薄(bo)膜(mo)要(yao)求進(jin)行(xing)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)，在(zai)給定(ding)直流電(dian)壓(ya)下每(mei)平(ping)方米(mi)的擊穿(chuan)點

（電(dian)弱(ruo)點）數(shu)成(cheng)為衡量(liang)薄(bo)膜(mo)成(cheng)量的重(zhong)要(yao)指(zhi)標。電(dian)氣用塑料(liao)薄(bo)膜(mo)電(dian)弱(ruo)點

測試(shi)儀，無(wu)須將膜卷分切成(cheng)小(xiao)卷，根(gen)據薄(bo)膜(mo)的使用寬(kuan)度直接進行(xing)電(dian)弱(ruo)

點測(ce)試(shi)。由於(yu)薄(bo)膜(mo)在(zai)生(sheng)過(guo)程(cheng)中極易(yi)引起縱向(xiang)劃傷，該儀器*引

用“電(dian) 弱(ruo)線(xian)"概念，即(ji)在(zai)規定(ding)的時(shi)間內檢(jian)測(ce)到(dao)的試(shi)樣(yang)漏(lou)電(dian) 流均(jun)超過(guo)

1mA時(shi)，認定(ding)為(wei)該(gai)薄(bo)膜(mo)試(shi)樣(yang)在(zai)生(sheng)產(chan)過 程(cheng)中存在(zai)縱向(xiang)劃痕(hen)，從而產(chan)

生(sheng)“電(dian)弱(ruo)線(xian)"，測(ce)試(shi)儀統計的電(dian)弱(ruo)點總數(shu)為電(dian)弱(ruo)點數(shu)與電(dian)弱(ruo)線(xian)數(shu)之

和(he)，這 樣(yang)的測試(shi)數(shu)據史(shi)能真(zhen)實地反(fan)映(ying)薄(bo)膜(mo)的質(zhi)顯(xian)水(shui)平(ping)， 且(qie)有助(zhu)於(yu)分

析(xi)生(sheng)產(chan)過程(cheng)中存在(zai)的問題(ti)，從而有(you)針(zhen)對地提出解決(jue)問題(ti)的方案。

儀器結(jie)構(gou)：

 薄(bo)膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀外形(xing)為(wei)櫃狀壹(yi)體(ti)化(hua)設(she)計，左側(ce)為(wei)走(zou)膜(mo)及加壓(ya)裝(zhuang)置，

右(you)側(ce)為(wei)控制(zhi)系統(tong)及操作面(mian)板(ban)。走(zou)膜裝(zhuang)置、絕緣導(dao)向(xiang)輥、速(su)度檢(jian)測(ce)輥等(deng)

構(gou)成(cheng)面(mian)積檢(jian)測(ce)系(xi)統；加(jia)壓(ya)裝(zhuang)置、漏(lou)電(dian)流采(cai)樣(yang)電(dian)阻等(deng)構(gou)成(cheng)電(dian)弱(ruo)點檢(jian)測(ce)系(xi)

統。

主(zhu)要(yao)特(te)點:

1、能根(gen)據薄(bo)膜(mo)的使用寬(kuan)度進(jin)行(xing)電(dian)弱(ruo)點的測試(shi)，測(ce)試(shi)寬(kuan)度可(ke)根(gen)據用戶(hu)的

要求而設(she)定(ding)，無(wu)須將膜分切成(cheng)小(xiao)卷，免(mian)除了許(xu)多外(wai)來因(yin)素(su)對測(ce)試(shi)結(jie)果

的影(ying)響。

2、測試(shi)數(shu)據能(neng)真(zhen)實地反(fan)映(ying)薄(bo)膜(mo)的質(zhi)量(liang)水(shui)平(ping)。

3、主(zhu)要(yao)元器(qi)件(jian)均(jun)選(xuan)用品(pin)牌(pai)（如(ru)歐(ou)姆(mu)龍，美(mei)信，ABB等(deng)），有效地

保證(zheng)了設(she)備(bei)的可(ke)靠性、耐(nai)用性(xing)和(he)穩定(ding)性(xing)。

4、測(ce)量(liang)準確(que)，復(fu)現(xian)性(xing)好。

5、測試(shi)過(guo)程(cheng)采用電(dian)子(zi)技術全(quan)自(zi)動(dong)控制(zhi)，遇到(dao)電(dian)弱(ruo)點時(shi)電(dian)壓(ya)切斷(duan)動作迅(xun)

速(su)。

6、擊穿(chuan)電(dian)流在(zai)0～40mA連續(xu)可(ke)調，復現(xian)性(xing)好。

7、多重(zhong)保(bao)護功(gong)能(neng)，充(chong)分考(kao)慮了操(cao)作人(ren)員及設備(bei)的性。

8、過壓(ya)、過流(liu)、接地保(bao)護，試(shi)驗(yan)平(ping)臺門開(kai)啟(qi)保護。

工(gong)作原(yuan)理：

     本(ben)測試(shi)儀試(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)是0－20kV交(jiao)直流電(dian)壓(ya)，其波(bo)動為±1%。測試(shi)儀在(zai)試(shi)樣(yang)弱(ruo)點擊穿(chuan)後(hou)約0.1s內使電(dian)壓(ya)回升到原(yuan)來(lai)設(she)定(ding)的電(dian)壓(ya)。銅輥為下電(dian)極，導(dao)電(dian)橡膠(jiao)為上電(dian)極。薄(bo)膜(mo)以(yi)3m/min的速(su)度移動。遇(yu)弱(ruo)點時(shi)擊穿(chuan)，擊穿(chuan)點自(zi)動(dong)累(lei)積計數(shu)。膜移動以(yi)平(ping)方數(shu)自動(dong)計數(shu)

符合(he)標(biao)準：

GB/T 13542-2009《電(dian)氣用塑料(liao)薄(bo)膜(mo)試(shi)驗(yan)方法(fa)》

IEC 60674-2:1988《電(dian)氣用塑料(liao)薄(bo)膜(mo)標(biao)準要(yao)求設計的高(gao)壓(ya)試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置》

JB 3282《固體(ti)絕緣材(cai)料(liao)相對耐(nai)表面(mian)放電(dian)擊穿(chuan)試(shi)驗(yan)方法(fa)》

儀器參(can)數(shu)：

保護設(she)計：

1、電(dian)源間(jian)斷(duan)保護：如(ru)果發生(sheng)電(dian)源間(jian)斷(duan)，主(zhu)控電(dian)器馬(ma)上跳閘(zha)，再(zai)次來(lai)電(dian)

時(shi)系統(tong)自動(dong)復位。

2、高(gao)壓(ya)倉開(kai)門跳閘(zha)：無(wu)論(lun)在(zai)任(ren)何狀態(tai)，只要(yao)打(da)開(kai)高(gao)壓(ya)倉門，將使主(zhu)控

繼(ji)電(dian)器的線(xian)圈失電(dian)而跳閘(zha)。

3、電(dian)源保(bao)險線(xian)：當(dang)機內故障(zhang)或試(shi)品(pin)擊穿(chuan)後(hou)電(dian)子(zi)開(kai)關未(wei)能及時(shi)動作時(shi)，

該熔絲(si)自動(dong)燒斷(duan)，切斷(duan)電(dian)源。

4、接地保(bao)護（主(zhu)機後外(wai)板(ban)）：本(ben)機接地可(ke)防(fang)止機殼(ke)感(gan)應高(gao)壓(ya)，保護設(she)

備和人(ren)身(shen)。沒(mei)有(you)接地不(bu)允許(xu)通(tong)電(dian)。

主(zhu)要(yao)配(pei)件(jian)生(sheng)產(chan)廠家：

變壓(ya)器：武(wu)高(gao)所(suo)監(jian)制(zhi)

控制(zhi)系統(tong)：PLC

升壓(ya)系統(tong):spwm華測

繼(ji)電(dian)器：施(shi)耐(nai)德(de)

電(dian)流傳(chuan)感器(qi)：華測開發(fa)

電(dian)壓(ya)傳感(gan)器：松(song)野

過壓(ya)、過流(liu)系統： 華測開發(fa)

TVS防(fang)護：華(hua)測(ce)開(kai)發

主(zhu)要(yao)配(pei)置(zhi)：

1、測(ce)試(shi)主(zhu)機壹(yi)臺

2、導(dao)電(dian)橡膠(jiao)電(dian)極兩對

3、品(pin)牌(pai)計算機壹(yi)臺

4、品牌(pai)打(da)印機壹(yi)臺

5、放電(dian)裝(zhuang)置壹(yi)套(tao)

6、產品說明(ming)書壹(yi)份(fen)

7、產(chan)品(pin)合(he)格(ge)證(zheng)壹(yi)份(fen)

試(shi)驗(yan)方便(bian)   壹(yi)機多用

高(gao)試(shi)驗(yan)儀器可(ke)以(yi)測(ce)量交(jiao)流(liu)電(dian)壓(ya)、直流電(dian)壓(ya)下的材料(liao)電(dian)弱(ruo)點

保證(zheng)

薄(bo)膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器

薄(bo)膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器