
當(dang)前位(wei)置(zhi):首頁 > 產(chan)品中心 > > 標(biao)準設備 > HPZT-200可縱向(xiang)壓(ya)電應變(bian)常(chang)數d33測(ce)試(shi)儀(yi) 符(fu)合(he)國(guo)標(biao)簡(jian)要(yao)描述:可(ke)縱向(xiang)壓(ya)電應變(bian)常(chang)數d33測(ce)試(shi)儀(yi) 符(fu)合(he)國(guo)標(biao),為(wei)激(ji)振(zhen)器提(ti)供(gong)穩(wen)定(ding)頻率。采(cai)用激振器(qi),以(yi)實(shi)現(xian)振(zhen)動(dong)頻率。電荷(he)采(cai)用高阻(zu)放(fang)電(dian)荷(he)放(fang)大(da)器。以(yi)保證測(ce)試(shi)數據的(de)精度(du)。本(ben)儀(yi)器(qi)適合(he)科(ke)研院(yuan)所(suo)研究(jiu)壓(ya)電材(cai)料(liao)儀(yi)器(qi)。
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Product Category相(xiang)關文章
Related Articles詳細介紹(shao)
| 品牌 | 華測(ce)儀(yi)器(qi) | 應用領域 | 綜(zong)合(he) |
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產品介紹(shao)
壓(ya)電陶(tao)瓷除(chu)了具有(you)壹(yi)般介質材(cai)料(liao)所(suo)具有(you)的(de)介(jie)電性和(he)彈(dan)性外(wai),還具有(you)壓(ya)電。壓(ya)電陶(tao)瓷經(jing)過(guo)極(ji)化(hua)處(chu)理之後(hou),就(jiu)具有(you)了(le)各向(xiang)異(yi)性,每(mei)項(xiang)參數在不(bu)同(tong)方向(xiang)上(shang)所(suo)表現(xian)的(de)數值(zhi)不(bu)同(tong),這(zhe)就(jiu)使得(de)壓(ya)電陶(tao)瓷的(de)參數比壹般(ban)各向(xiang)同(tong)性的(de)介(jie)質陶(tao)瓷多得(de)多。壓(ya)電陶(tao)瓷的(de)眾(zhong)多的(de)參數是它(ta)被廣(guang)泛(fan)應用的(de)重(zhong)要基礎(chu)。
可縱向(xiang)壓(ya)電應變(bian)常(chang)數d33是壓(ya)電材(cai)料(liao)的(de)基(ji)本(ben)物理參數。它不(bu)僅(jin)決定(ding)了(le)壓(ya)電材(cai)料(liao)的(de),同(tong)時也(ye)直(zhi)接(jie)影響(xiang)著換能器(qi)的(de)參數。另外(wai),通(tong)過(guo)d33還可以(yi)導(dao)出(chu)其他(ta)參數,如靈(ling)敏度(du)g33等(deng)。由(you)於同(tong)壹批(pi)材料(liao)的(de)壓(ya)電陶(tao)瓷參數具有(you)很(hen)大(da)的(de)離(li)散(san)度(du),故(gu)測(ce)量(liang)壓(ya)電陶(tao)瓷的(de)d33是(shi)很(hen)有(you)必(bi)要的(de)。影響(xiang)d33測(ce)試(shi)精度(du)和(he)穩定(ding)性的(de)因(yin)素(su)有(you)很(hen)多,主(zhu)要(yao)考慮(lv)以(yi)下(xia)因(yin)素(su):壓(ya)力是(shi)否全(quan)部加(jia)於試樣(yang),壓(ya)力的(de)方向(xiang)是(shi)否與(yu)試(shi)樣極化(hua)軸平(ping)行,測(ce)試(shi)電(dian)極是否平(ping)整(zheng)和相互(hu)平(ping)行,受力(li)和(he)產生感(gan)應電效(xiao)應的(de)面積(ji)是否相(xiang)等(deng),壓(ya)力釋放(fang)瞬間(jian)是(shi)否有(you)試(shi)樣抖動等(deng)。另(ling)外(wai),測(ce)試(shi)線(xian)路(lu)的(de)絕緣狀況(kuang)、電(dian)容(rong)和(he)輸(shu)入(ru)阻(zu)抗等(deng)參數也(ye)對此有(you)影響(xiang)。華測(ce)設計了壹種保持了動(dong)態法(fa)測(ce)量(liang)參數多、精度(du)高(gao)的(de)特點(dian);避免了人工(gong)操(cao)作(zuo)繁瑣、計算費時的(de)不(bu)足(zu),拓(tuo)寬(kuan)了動態法的(de)應用範(fan)圍(wei)。
G精度(du)壓(ya)電系(xi)數d33測(ce)試(shi)儀(yi),其分(fen)辨率可(ke)達0.01pC/N,采(cai)用多種測(ce)量(liang)模(mo)式(shi),在測(ce)量(liang)壓(ya)電系(xi)數的(de)同(tong)時,可(ke)記(ji)錄(lu)d31,d15,電容、電量(liang)、tan8等(deng)參數,並也(ye)可計算g33、介電常(chang)數和ET33等(deng)。可(ke)廣(guang)泛(fan)用於鐵電、壓(ya)電材(cai)料(liao)以(yi)及(ji)相(xiang)關器(qi)件(jian)的(de)評(ping)價與測(ce)試(shi)。
靜(jing)電系(xi)d33測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)采(cai)用利用數字合(he)成DDS芯(xin)片(pian)的(de)函(han)數發(fa)生器(qi),為(wei)激(ji)振(zhen)器提(ti)供(gong)穩(wen)定(ding)頻率。采(cai)用激振器(qi),以(yi)實(shi)現(xian)振(zhen)動(dong)頻率。電荷(he)采(cai)用采(cai)用高阻(zu)放(fang)電(dian)荷(he)放(fang)大(da)器。以(yi)保證測(ce)試(shi)數據的(de)精度(du)。靜(jing)電系(xi)d33測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)適合(he)科(ke)研院(yuan)所(suo)研究(jiu)壓(ya)電材(cai)料(liao)的(de)儀(yi)器(qi)。
符(fu)合(he)標(biao)準:
GB3389.4-82《 d33 壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料測(ce)試(shi)方法 縱向(xiang)壓(ya)電應變(bian)常(chang)數 的(de)靜(jing)態測(ce)試(shi)》
GB/T3389.5-1995《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料測(ce)試(shi)方法 圓(yuan)片厚度(du)伸(shen)縮(suo)振(zhen)動(dong)模(mo)式(shi)》
GB/T3389.4-1982《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料測(ce)試(shi)方法 柱體縱向(xiang)長(chang)度(du)伸(shen)縮(suo)振(zhen)動(dong)模(mo)式(shi)》
GB/T 3389.7-1986《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料測(ce)試(shi)方法 強場(chang)介(jie)電(dian)的(de)測(ce)試(shi)》
GB/T3389.8-1986《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料測(ce)試(shi)方法 熱(re)釋電(dian)系(xi)數的(de)測(ce)試(shi)》
GB T 3389-2008 《壓(ya)電陶(tao)瓷材(cai)料測(ce)試(shi)方法》
技(ji)術參數
縱向(xiang)壓(ya)電系(xi)數d33測(ce)試(shi)範(fan)圍(wei):
高(gao)範(fan)圍(wei):10 to 4000pC/N,精度(du)士(shi)2%±1pC/N,負載1.0uF;
低(di)範(fan)圍(wei):1 to 100pC/N,精度(du)士(shi)2%±0.1pC/N,負載1.0uF;
頻率範(fan)圍(wei):10Hz to 2MHz,步進:1Hz,
極(ji)性顯示:正(zheng)負
施加(jia)力(li)範(fan)圍(wei)0.1~0.5N
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