電弱(ruo)點測試儀(yi)新能(neng)源(yuan)汽(qi)車隔(ge)膜(mo)檢(jian)測，HCRD-300型電弱(ruo)點測試儀(yi)采用(yong)計算機(ji)控(kong)制，進(jin)而(er)達到(dao)人(ren)機對話的方(fang)式(shi)，主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)電容(rong)器用(yong)聚(ju)脂薄(bo)膜(mo)、聚(ju)丙稀(xi)薄膜(mo)的(de)電弱(ruo)點測試。電氣(qi)用(yong)塑料(liao)薄(bo)膜(mo)電弱(ruo)點測試儀(yi)，無須(xu)將膜(mo)卷分切成小(xiao)卷，根(gen)據(ju)薄(bo)膜(mo)的(de)使(shi)用(yong)寬(kuan)度直(zhi)接進行電弱(ruo)點測試。

北京(jing)電弱(ruo)點測試儀(yi)器-是根(gen)據(ju)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣(qi)用(yong)塑料(liao)薄(bo)膜(mo)標(biao)準要(yao)求設(she)計的高(gao)壓試(shi)驗裝(zhuang)置。主要(yao)用(yong)於(yu)電氣(qi)用(yong)聚(ju)氨脂(zhi)薄膜(mo)、塑(su)料(liao)薄(bo)膜(mo)、聚(ju)丙稀(xi)薄膜(mo)等(deng)絕緣材料(liao)在給定直(zhi)流(liu)電壓下每平(ping)方(fang)米的擊(ji)穿點(dian)數。本(ben)機采用(yong)計算機(ji)控(kong)制，可對試(shi)驗過程(cheng)中(zhong)的(de)各種(zhong)數據(ju)進(jin)行快(kuai)速(su)、準(zhun)確的(de)采(cai)集(ji)、處(chu)理(li)，並(bing)可存取(qu)、顯示、打印(yin)。

電弱(ruo)點測試儀(yi)器 0－20kV交直(zhi)流(liu)電壓新能(neng)源(yuan)是根(gen)據(ju)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣(qi)用(yong)塑料(liao)薄(bo)膜(mo)標(biao)準要(yao)求設(she)計的高(gao)壓試(shi)驗裝(zhuang)置。主要(yao)用(yong)於(yu)電氣(qi)用(yong)聚(ju)氨脂(zhi)薄膜(mo)、塑(su)料(liao)薄(bo)膜(mo)、聚(ju)丙稀(xi)薄膜(mo)等(deng)絕緣材料(liao)在給定直(zhi)流(liu)電壓下每平(ping)方(fang)米的擊(ji)穿點(dian)數。本(ben)機采用(yong)計算機(ji)控(kong)制，可對試(shi)驗過程(cheng)中(zhong)的(de)各種(zhong)數據(ju)進(jin)行快(kuai)速(su)、準(zhun)確的(de)采(cai)集(ji)、處(chu)理(li)，並(bing)可存取(qu)、顯示、打印(yin)。

電弱(ruo)點測試儀(yi)華測實驗儀(yi)器有(you)限(xian)公(gong)司(si)HCRD-20kv： 該(gai)儀(yi)器是根(gen)據(ju)薄(bo)膜(mo)的(de)使(shi)用(yong)寬(kuan)度進(jin)行電弱(ruo)點的測試，測試寬(kuan)度可根(gen)據(ju)用(yong)戶的(de)要(yao)求而(er)設(she)定，無(wu)須(xu)將膜(mo)分切成小(xiao)卷，免(mian)除(chu)了許多(duo)外來(lai)因(yin)素(su)對測試結(jie)果的(de)影響(xiang)。測試數(shu)據(ju)能(neng)真(zhen)實(shi)地反映(ying)薄(bo)膜(mo)的(de)質(zhi)量(liang)水平(ping)。有(you)效地保證(zheng)了(le)設(she)備(bei)的可靠性(xing)、耐用(yong)性(xing)和穩(wen)定性(xing)。測量(liang)準確(que)，復(fu)現(xian)性(xing)好。測試過程(cheng)采(cai)用(yong)電子(zi)技(ji)術全自動(dong)控(kong)制，遇(yu)到(dao)電弱(ruo)點時電壓切斷(duan)動(dong)作(zuo)迅速(su)。擊(ji)穿電流(liu)在0～40mA連續可調，復(fu)現(xian)性(xing)好。

復(fu)現(xian)性(xing)好、電弱(ruo)點測試儀(yi)器HCRD-300： 該(gai)儀(yi)器是根(gen)據(ju)薄(bo)膜(mo)的(de)使(shi)用(yong)寬(kuan)度進(jin)行電弱(ruo)點的測試，測試寬(kuan)度可根(gen)據(ju)用(yong)戶的(de)要(yao)求而(er)設(she)定，無(wu)須(xu)將膜(mo)分切成小(xiao)卷，免(mian)除(chu)了許多(duo)外來(lai)因(yin)素(su)對測試結(jie)果的(de)影響(xiang)。測試數(shu)據(ju)能(neng)真(zhen)實(shi)地反映(ying)薄(bo)膜(mo)的(de)質(zhi)量(liang)水平(ping)。有(you)效地保證(zheng)了(le)設(she)備(bei)的可靠性(xing)、耐用(yong)性(xing)和穩(wen)定性(xing)。測量(liang)準確(que)，復(fu)現(xian)性(xing)好。測試過程(cheng)采(cai)用(yong)電子(zi)技(ji)術全自動(dong)控(kong)制，遇(yu)到(dao)電弱(ruo)點時電壓切斷(duan)動(dong)作(zuo)迅速(su)。擊(ji)穿電流(liu)在0～40mA連續可調，復(fu)現(xian)性(xing)好。