電弱點(dian)測試(shi)儀(yi)新能(neng)源(yuan)汽車(che)隔(ge)膜檢測

產(chan)品(pin)名稱(cheng)：電弱點(dian)測試(shi)儀(yi)

產(chan)品(pin)型號(hao)：HCRD-300

品(pin)牌：北(bei)京(jing)華測

壹、電弱點(dian)測試(shi)儀(yi)新能(neng)源(yuan)汽車(che)隔(ge)膜檢測產(chan)品(pin)介紹(shao)

HCRD-300型電弱點(dian)測試(shi)儀(yi)采用計算(suan)機控(kong)制，進而達(da)到(dao)人(ren)機(ji)對話的(de)方(fang)式(shi)，是根據(ju)IEC 60674-2:2009 電氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜 第2部分(fen)：試(shi)驗方法(fa)及其(qi)第(di)1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜試驗方法(fa)》而設計的(de)高(gao)壓(ya)試(shi)驗(yan)裝置(zhi)。主(zhu)要(yao)用於(yu)電容器用聚(ju)脂(zhi)薄(bo)膜、聚丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜的(de)電弱點(dian)測試(shi)。

二(er)、電弱點(dian)測試(shi)儀(yi)新能(neng)源(yuan)汽車(che)隔(ge)膜檢測特(te)點(dian)

電弱點(dian)測試(shi)儀(yi)，該(gai)系(xi)列產(chan)品(pin)的(de)主(zhu)要(yao)特(te)點(dian)是能(neng)根據(ju)薄(bo)膜的(de)使(shi)用寬(kuan)度進行電弱點(dian)的(de)測試(shi)，測試(shi)寬(kuan)度可(ke)根(gen)據(ju)用戶(hu)的(de)要(yao)求(qiu)而設定，無(wu)須將膜分(fen)切(qie)成小卷(juan)，免(mian)除(chu)了(le)許(xu)多外來(lai)因素(su)對(dui)測試(shi)結(jie)果的(de)影(ying)響(xiang)。測試(shi)數據(ju)能(neng)真實地(di)反映(ying)薄(bo)膜的(de)質量(liang)水平。該(gai)系(xi)列產(chan)品(pin)的(de)主(zhu)要(yao)元(yuan)器件均(jun)選(xuan)用（如歐姆(mu)龍(long)，美信，ABB等），有效(xiao)地保(bao)證(zheng)了(le)設備的(de)可(ke)靠性、耐用性和(he)穩定(ding)性。測量(liang)準確，復(fu)現(xian)性好(hao)。測試(shi)過程(cheng)采(cai)用電子技術(shu)全(quan)自動控(kong)制，遇(yu)到(dao)電弱點(dian)時電壓(ya)切斷動作迅速。擊(ji)穿(chuan)電流在0～40mA連續(xu)可(ke)調(tiao)，復(fu)現(xian)性好(hao)。本機(ji)具備多重(zhong)保(bao)護功(gong)能(neng)，充分(fen)考(kao)慮了(le)操(cao)作人員及設備的(de)性。如過壓(ya)、過流、接地保(bao)護，試(shi)驗平臺(tai)門開(kai)啟(qi)保(bao)護。

三、產(chan)品(pin)用途(tu)

電氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜要(yao)求(qiu)進行電弱點(dian)測試(shi)，在(zai)給(gei)定直流電壓(ya)下每(mei)平方(fang)米(mi)的(de)擊(ji)穿(chuan)點(dian)（電弱點(dian)）數成為衡(heng)量(liang)薄(bo)膜成量(liang)的(de)重(zhong)要(yao)指標。電氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜電弱點(dian)測試(shi)儀(yi)，無(wu)須將膜卷(juan)分(fen)切(qie)成小卷(juan)，根(gen)據(ju)薄(bo)膜的(de)使(shi)用寬(kuan)度直接進行電弱點(dian)測試(shi)。由於薄(bo)膜在生(sheng)過程(cheng)中(zhong)極易引(yin)起縱向(xiang)劃(hua)傷(shang)，該(gai)儀(yi)器引(yin)用“電弱線(xian)"概(gai)念(nian)，即(ji)在(zai)規(gui)定(ding)的(de)時(shi)間內檢測到(dao)的(de)試(shi)樣(yang)漏(lou)電 流均(jun)超過1mA時，認定為該(gai)薄(bo)膜試樣在生(sheng)產(chan)過 程中存(cun)在縱向(xiang)劃(hua)痕(hen)，從(cong)而產(chan)生(sheng)“電弱線(xian)"，測試(shi)儀(yi)統計的(de)電弱點(dian)總數為(wei)電弱點(dian)數與電弱線(xian)數之和，這樣(yang)的(de)測試(shi)數據(ju)史(shi)能(neng)真實地(di)反映(ying)薄(bo)膜的(de)質顯水(shui)平， 且有助於分(fen)析(xi)生(sheng)產(chan)過程(cheng)中(zhong)存(cun)在的(de)問(wen)題(ti)，從(cong)而有針對地提出解決問題的(de)方(fang)案。

四(si)、產(chan)品(pin)參數

華測儀(yi)器針對(dui)新能(neng)源(yuan)汽車(che)隔(ge)膜檢測相關設備