標(biao)準設(she)備-北(bei)京(jing)華測試驗(yan)儀(yi)器(qi)有(you)限(xian)公司

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標(biao)準設(she)備

電壓擊穿測試儀(yi) 耐電(dian)弧(hu)試驗(yan)儀(yi) 高壓、低壓漏電起痕表面體(ti)積電阻(zu)率（高阻(zu)計(ji)）電弱點試驗(yan)儀(yi) 50點耐(nai)壓測試儀(yi)

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相關(guan)文(wen)章

Huace-300華測固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)表面電阻(zu)率測試儀(yi)

更(geng)新(xin)時間：2025-09-10

型(xing)號：Huace-300

瀏覽量(liang)：4078

華(hua)測固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)表面電阻(zu)率測試儀(yi)標(biao)準GB/T 1410-2006《固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)體(ti)積電阻(zu)率和(he)表(biao)面電阻(zu)率試驗(yan)方法》和(he)ASTM D257《絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的直(zhi)流(liu)電阻(zu)或電導(dao)試驗(yan)方法》等(deng)標(biao)準的(de)要求。本(ben)儀(yi)器(qi)既(ji)可(ke)測量高電(dian)阻，又(you)可測微(wei)電流(liu)。測量精度達(da)到(dao)3‰。同(tong)時儀(yi)器(qi)體(ti)積小、重(zhong)量輕(qing)、本(ben)儀(yi)器(qi)具有(you)精(jing)度高、顯(xian)示迅速(su)、性好穩(wen)定、讀(du)數(shu)方便等(deng)優點。
了(le)解(jie)詳情(qing)
HCDH-Ⅲ耐電(dian)弧試驗(yan)儀(yi) 符(fu)合國(guo)標(biao)GB/T1411-2002

更(geng)新(xin)時間：2025-09-10

型(xing)號：HCDH-Ⅲ

瀏覽量(liang)：2870

耐(nai)電(dian)弧試驗(yan)儀(yi) 符(fu)合國(guo)標(biao)GB/T1411-2002，《幹固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料(liao) 耐高電(dian)壓、小電流(liu)電弧(hu)放(fang)電(dian)的試驗(yan) 》符(fu)合IPC650、IEC61621、ASTMD495及(ji)JEC149、UL746A試驗(yan)方法。適應於電機、電(dian)器(qi)及(ji)家電等(deng)行業的電工(gong)用塑(su)料(liao)、樹脂(zhi)膠、絕緣(yuan)漆、以(yi)及(ji)層(ceng)壓板、覆(fu)銅箔板等(deng)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)等(deng)介質(zhi)的(de)耐(nai)電弧測試
了(le)解詳(xiang)情(qing)
HCRD-300電弱點測試儀(yi)新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車隔(ge)膜檢(jian)測

更(geng)新(xin)時間：2025-09-18

型(xing)號：HCRD-300

瀏覽量(liang)：5224

電(dian)弱(ruo)點測試儀(yi)新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車隔(ge)膜檢(jian)測，HCRD-300型電弱點測試儀(yi)采用(yong)計(ji)算(suan)機控(kong)制(zhi)，進(jin)而(er)達到(dao)人機對話(hua)的(de)方式(shi)，主要用(yong)於電容器(qi)用聚(ju)脂薄膜(mo)、聚(ju)丙稀薄膜(mo)的(de)電弱(ruo)點測試。電(dian)氣用塑(su)料(liao)薄膜(mo)電(dian)弱點測試儀(yi)，無須(xu)將膜卷(juan)分切(qie)成小(xiao)卷(juan)，根據薄膜(mo)的(de)使用寬度直(zhi)接進(jin)行電(dian)弱(ruo)點測試。
了(le)解詳(xiang)情(qing)
HCZDJC-50-600050點耐(nai)壓測試儀(yi) 鋰(li)電(dian)池隔(ge)膜壹鍵(jian)自(zi)動化測試

更(geng)新(xin)時間：2025-09-29

型(xing)號：HCZDJC-50-6000

瀏覽量(liang)：1471

50點耐(nai)壓測試儀(yi) 鋰(li)電(dian)池隔(ge)膜壹鍵(jian)自(zi)動化測試主(zhu)要用(yong)於電氣用鋰(li)電(dian)池隔(ge)膜，聚(ju)氨脂(zhi)薄膜(mo)、塑(su)料(liao)薄膜(mo)、聚(ju)丙稀薄膜(mo)等(deng)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在(zai)給定直(zhi)流(liu)電壓下每平方米的(de)擊穿電壓值。采用(yong)計(ji)算(suan)機控(kong)制(zhi)，通(tong)過(guo)人機對話(hua)方式(shi)可對試驗(yan)過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)各(ge)種數(shu)據進(jin)行快(kuai)速(su)、準確(que)的采集(ji)、處(chu)理(li)，並(bing)可(ke)存取、顯(xian)示(shi)、打印(yin)。
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Huace-300表面體(ti)積電阻(zu)率測試儀(yi)

更(geng)新(xin)時間：2025-09-29

型(xing)號：Huace-300

瀏覽量(liang)：2923

Huace-300表(biao)面體(ti)積電阻(zu)率測試儀(yi) 既(ji)可(ke)測量高電(dian)阻，又(you)可測微(wei)電流(liu)。測量精度達(da)到(dao)3‰。同(tong)時儀(yi)器(qi)體(ti)積小、重(zhong)量輕(qing)、本(ben)儀(yi)器(qi)具有(you)精(jing)度高、顯(xian)示迅速(su)、性好穩(wen)定、讀(du)數(shu)方便等(deng)優點。
了(le)解(jie)詳情(qing)
HCZDJC-50-600050點耐(nai)壓薄膜(mo)測試系(xi)統(tong)/新(xin)能(neng)源(yuan)電(dian)池

更(geng)新(xin)時間：2025-04-03

型(xing)號：HCZDJC-50-6000

瀏覽量(liang)：1950

50點耐(nai)壓薄膜(mo)測試系(xi)統(tong)/新(xin)能(neng)源(yuan)電(dian)池主要(yao)用(yong)於電氣用鋰(li)電(dian)池隔(ge)膜，聚(ju)氨脂(zhi)薄膜(mo)、塑(su)料(liao)薄膜(mo)、聚(ju)丙稀薄膜(mo)等(deng)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在(zai)給定直(zhi)流(liu)電壓下每平方米的(de)擊穿電壓值。采用(yong)計(ji)算(suan)機控(kong)制(zhi)，通(tong)過(guo)人機對話(hua)方式(shi)可對試驗(yan)過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)各(ge)種數(shu)據進(jin)行快(kuai)速(su)、準確(que)的采集(ji)、處(chu)理(li)，並(bing)可(ke)存取、顯(xian)示(shi)、打印(yin)。
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HPZT-200可縱(zong)向壓電應變(bian)常(chang)數(shu)d33測試儀(yi) 符(fu)合國(guo)標(biao)

更(geng)新(xin)時間：2025-09-18

型(xing)號：HPZT-200

瀏覽量(liang)：1696

可(ke)縱(zong)向壓電應變(bian)常(chang)數(shu)d33測試儀(yi) 符(fu)合國(guo)標(biao)，為激振器(qi)提供(gong)穩(wen)定頻率。采用(yong)激振器(qi)，以(yi)實(shi)現振動(dong)頻率。電(dian)荷(he)采用(yong)高阻(zu)放電(dian)荷(he)放大器(qi)。以(yi)保(bao)證測試數(shu)據的精度。本(ben)儀(yi)器(qi)適合科研(yan)院所研(yan)究壓電材料(liao)儀器(qi)。
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HCRD-300電弱點測試儀(yi)器(qi) 北(bei)京(jing)華測

更(geng)新(xin)時間：2024-12-16

型(xing)號：HCRD-300

瀏覽量(liang)：3085

北(bei)京(jing)電弱點測試儀(yi)器(qi)-是根據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑(su)料(liao)薄膜(mo)標(biao)準要(yao)求設計(ji)的高壓試驗(yan)裝置。主(zhu)要(yao)用於電氣用聚(ju)氨脂(zhi)薄膜(mo)、塑(su)料(liao)薄膜(mo)、聚(ju)丙稀薄膜(mo)等(deng)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在(zai)給定直(zhi)流(liu)電壓下每平方米的(de)擊穿點數(shu)。本(ben)機采用(yong)計(ji)算(suan)機控(kong)制(zhi)，可(ke)對試驗(yan)過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)各(ge)種數(shu)據進(jin)行快(kuai)速(su)、準確(que)的采集(ji)、處(chu)理(li)，並(bing)可(ke)存取、顯(xian)示(shi)、打印(yin)。
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