表(biao)面體(ti)積(ji)電阻(zu)率測(ce)試(shi)儀

表(biao)面體(ti)積(ji)電阻(zu)率測(ce)試(shi)儀

 Huace-300型(xing)表(biao)面體(ti)積(ji)電阻(zu)率測(ce)試(shi)儀既(ji)可(ke)測量高(gao)電阻(zu)，又(you)可(ke)測微電流。測量(liang)精(jing)度(du)達到(dao)3‰。同(tong)時(shi)儀器(qi)體(ti)積(ji)小、重量(liang)輕、本儀器(qi)具有精(jing)度(du)高(gao)、顯(xian)示(shi)迅(xun)速(su)、性(xing)好穩定(ding)、讀(du)數(shu)方便(bian)等優點。數(shu)字液(ye)晶(jing)直(zhi)接顯(xian)示(shi)電阻(zu)值(zhi)和電流。量程從(cong)0.01×10⁴Ω ～1×10¹⁸ Ω。電流測量(liang)範(fan)圍(wei)為(wei)2×10^-4 ～1×10^-16Ａ。測試(shi)電壓為(wei)10/50/100/250/500/1000V 可(ke)調(tiao)。適(shi)用於防靜(jing)電產(chan)品(pin)如防(fang)靜(jing)電鞋(xie)、防(fang)靜(jing)電塑(su)料(liao)橡(xiang)膠(jiao)制(zhi)品(pin)、計算(suan)機房防(fang)靜(jing)電活動地(di)板等電阻(zu)值(zhi)的檢(jian)驗以(yi)及絕緣材料和(he)電子(zi)電器(qi)產品(pin)的絕緣電阻(zu)測(ce)量(liang)。

產(chan)品(pin)優勢

• 升(sheng)級(ji)了的100kV浮(fu)動電路(lu)

• HC浮(fu)動電路(lu)與三軸(zhou)連(lian)接器(qi)組合使(shi)用可(ke)有效增強(qiang)對(dui)電源(yuan)幹擾(rao)或外來幹(gan)擾(rao)的穩定(ding)性(xing)(重復(fu)精(jing)度(du))大(da)幅(fu)提升。

• 普(pu)通的使(shi)用環(huan)境(jing)的偏差(cha)為(wei)0.007%(代表值(zhi))與以(yi)往機型相(xiang)比(bi)減少至1/60，在摻(chan)雜50V突發(fa)幹擾(rao)的條(tiao)件下(xia)減(jian)少至1/300。

• 配(pei)合材(cai)料(liao)和用途的(de)多(duo)種電極(ji)系(xi)列(lie)

• 表(biao)面/體(ti)積(ji)電阻(zu)測(ce)量(liang)用電極(ji) HC200SV

• 無需(xu)改變形(xing)狀(zhuang)，可(ke)以(yi)直(zhi)接測(ce)量片(pian)狀(zhuang)、薄(bo)膜(mo)、板狀(zhuang)的(de)產品(pin)以(yi)及材料(liao)、防(fang)靜(jing)電板材(cai)

• 采用飛安(an)電流處理芯(xin)片(pian)；

• 可(ke)使用皮安(an)電流表使(shi)用，也(ye)可(ke)以(yi)外加(jia)更高(gao)電壓的直(zhi)流源(yuan)；

• 具有自動計(ji)算(suan)絕緣電阻(zu)、體(ti)積(ji)、表面電阻(zu)率功(gong)能、溫(wen)度(du)、濕度(du)在線(xian)檢(jian)測；

• 采用屏蔽(bi)環(huan)技(ji)術、屏(ping)蔽(bi)不屬(shu)於測(ce)試(shi)材(cai)料的泄露(lu)電流

• 測(ce)試(shi)過(guo)程只需(xu)選擇(ze)電壓量程即(ji)可(ke)開(kai)始(shi)試(shi)驗(yan)，無需(xu)人員(yuan)再手動切(qie)換電流檔（儀器(qi)本身具有尋(xun)檔技術）

基(ji)本原(yuan)理

 本儀器(qi)可(ke)以(yi)同時(shi)測出(chu)電阻(zu)兩(liang)端(duan)的電壓V和流過(guo)電阻(zu)的(de)電流I，通過(guo)內部(bu)的(de)大(da)規模(mo)集(ji)成(cheng)電路(lu)完(wan)成(cheng)電壓除以(yi)電流的計(ji)算(suan)，然後把(ba)所(suo)得(de)到的(de)結(jie)果經(jing)過(guo)A/D轉(zhuan)換後以(yi)數(shu)字顯(xian)示(shi)出(chu)電阻(zu)值(zhi)，即便(bian)是電阻(zu)兩(liang)端(duan)的電壓V和流 過(guo)電阻(zu)的(de)電流I是同時(shi)變化(hua)，其顯(xian)示(shi)的(de)電阻(zu)值(zhi)不象(xiang)普通高(gao)阻(zu)計(ji)那(na)樣(yang)因被(bei)測電壓V的變化(hua)或(huo)電流Ｉ的變化(hua)而(er)變，所(suo)以(yi)，即使測(ce)量(liang)電壓、被(bei)測(ce)量(liang)電阻(zu)、電源(yuan)電壓等發(fa)生變化(hua)對(dui)其結(jie)果影響不(bu)大(da)，其測(ce)量(liang)精(jing)度(du)很高(gao)， 從(cong)理論(lun)上講(jiang)其誤(wu)差可(ke)以(yi)做(zuo)到(dao)零，而實際(ji)誤(wu)差可(ke)以(yi)做(zuo)千分之幾或(huo)萬(wan)分之幾。  

主(zhu)要(yao)應用

1、測(ce)量(liang)絕緣材料電阻(zu)(率)

2、測(ce)量(liang)防(fang)靜(jing)電鞋(xie)、導(dao)電鞋(xie)的(de)電阻(zu)值(zhi)

3、測(ce)量(liang)防(fang)靜(jing)電材(cai)料(liao)的(de)電阻(zu)及(ji)電阻(zu)率

4、光(guang)電二(er)極(ji)管(guan)暗(an)電流測

5、物理,光(guang)學(xue)和材(cai)料(liao)研(yan)究(jiu)

6、高(gao)分(fen)子材料(liao)表(biao)面體(ti)積(ji)電阻(zu)率測(ce)定(ding)

7、計(ji)算(suan)機房用活動地(di)板的(de)系(xi)統電阻(zu)值(zhi)