計(ji)算(suan)機(ji)控制儀(yi)器(qi)——電(dian)弱(ruo)點測試(shi)儀(yi)

計(ji)算(suan)機(ji)控制儀(yi)器(qi)——電(dian)弱(ruo)點測試(shi)儀(yi)

產(chan)品簡介：

儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)計(ji)算(suan)機(ji)控制，通(tong)過(guo)人機(ji)對話方(fang)式。主(zhu)要(yao)用於電(dian)容(rong)器(qi)用(yong)聚(ju)脂(zhi)薄(bo)膜(mo)、聚(ju)丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜(mo)的電(dian)弱(ruo)點測試(shi)。電(dian)氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜(mo)的(de)生產(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong)，會(hui)出(chu)現(xian)薄(bo)膜(mo)穿孔、導(dao)電(dian)顆粒(li)積(ji)聚(ju)、劃傷(shang)等(deng)影響電(dian)氣(qi)的電(dian)弱(ruo)點。根據(ju)標準(zhun)《GB/T 13541-92電(dian)氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜(mo)試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)》，電(dian)氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜(mo)要(yao)求進行電(dian)弱(ruo)點測試(shi)，在給定直流(liu)電(dian)壓(ya)下每(mei)平(ping)方(fang)米(mi)的擊穿點（電(dian)弱(ruo)點）數成為衡(heng)量薄(bo)膜(mo)成量的(de)重(zhong)要(yao)指標。設計(ji)的(de)薄(bo)膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測試(shi)儀(yi)，無(wu)須(xu)將膜(mo)卷分切成小卷，根(gen)據(ju)薄(bo)膜(mo)的使(shi)用寬度直接(jie)進行電(dian)弱(ruo)點測試(shi)。由(you)於(yu)薄(bo)膜(mo)在生(sheng) 過程(cheng)中(zhong)極(ji)易(yi)引(yin)起縱(zong)向(xiang)劃傷(shang)，該儀器(qi)引(yin)用“電(dian) 弱(ruo)線"概(gai)念，即在規定的時間內(nei)檢測(ce)到(dao)的試(shi)樣漏(lou)電(dian)流(liu)均超(chao)過1mA時(shi)，認定(ding)為該(gai)薄(bo)膜(mo)試(shi)樣在生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong)存在縱(zong)向(xiang)劃痕(hen)，從(cong)而產(chan)生(sheng)“電(dian)弱(ruo)線"，測試(shi)儀(yi)統(tong) 計(ji)的(de)電(dian)弱(ruo)點總(zong)數為電(dian)弱(ruo)點數與電(dian)弱(ruo)線數之和(he)，這(zhe)樣的(de)測試(shi)數據(ju)史(shi)能(neng)真(zhen)實(shi)地反映(ying)薄(bo)膜(mo)的質(zhi)顯(xian)水平(ping)， 且(qie)有(you)助於(yu)分析生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong)存在的(de)問(wen)題(ti)，從(cong)而有(you)針對地提(ti)出(chu)解(jie)決問(wen)題(ti)的(de)方(fang)案。

主(zhu)要(yao)特點:

1、能(neng)根據(ju)薄(bo)膜(mo)的使(shi)用寬度進行電(dian)弱(ruo)點的測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)寬度可(ke)根(gen)據(ju)用(yong)戶(hu)的(de)要(yao)求而設(she)定(ding)，無(wu)須(xu)將膜(mo)分切成小卷，免除(chu)了許(xu)多外來(lai)因素(su)對測試(shi)結(jie)果的影響。

2、測(ce)試(shi)數據(ju)能(neng)真(zhen)實(shi)地反映(ying)薄(bo)膜(mo)的質(zhi)量水平(ping)。

3、主(zhu)要(yao)元器(qi)件均(jun)選(xuan)用品牌（如(ru)歐(ou)姆龍，美(mei)信，ABB等(deng)），有效地保(bao)證(zheng)了(le)設備(bei)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)、耐用性(xing)和(he)穩(wen)定(ding)性(xing)。

4、測(ce)量準(zhun)確(que)，復現(xian)性(xing)好。

5、測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)采用電(dian)子(zi)技(ji)術(shu)全(quan)自(zi)動(dong)控制，遇(yu)到(dao)電(dian)弱(ruo)點時電(dian)壓(ya)切斷動(dong)作(zuo)迅(xun)速(su)。

6、擊穿電(dian)流(liu)在0～40mA連(lian)續可(ke)調(tiao)，復現(xian)性(xing)好。

7、多重(zhong)保(bao)護(hu)功能，充(chong)分考(kao)慮(lv)了(le)操作(zuo)人員(yuan)及設備(bei)的(de)性(xing)。

8、過(guo)壓、過(guo)流、接(jie)地保(bao)護(hu)，試(shi)驗(yan)平(ping)臺門開啟(qi)保(bao)護(hu)。

計(ji)算(suan)機(ji)控制儀(yi)器(qi)——電(dian)弱(ruo)點測試(shi)儀(yi)

符(fu)合(he)標準(zhun)：

GB/T 13542-2009《電(dian)氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜(mo)試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)》

IEC 60674-2:1988《電(dian)氣(qi)用塑(su)料薄(bo)膜(mo)標準(zhun)要(yao)求設計(ji)的(de)高壓(ya)試(shi)驗(yan)裝置(zhi)》

JB 3282《固體(ti)絕緣材(cai)料相(xiang)對耐表面放(fang)電(dian)擊穿試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)》

主(zhu)要(yao)配件生(sheng)產(chan)廠(chang)家(jia)：

變(bian)壓器(qi)：武高所監制

控制系(xi)統(tong)：PLC

升(sheng)壓系(xi)統:spwm華測(ce)

繼(ji)電(dian)器(qi)：施(shi)耐德

電(dian)流(liu)傳感器(qi)：華測(ce)開發(fa)

電(dian)壓(ya)傳感器(qi)：松(song)野(ye)

過(guo)壓、過(guo)流系統(tong)： 華測(ce)開發(fa)

TVS防護(hu)：華測(ce)開發(fa)

儀(yi)器(qi)參(can)數

多防護(hu)

TVS瞬(shun)間抑(yi)制防護(hu)技(ji)術(shu)：

低(di)通(tong)濾(lv)波(bo)電(dian)流(liu)監測(ce)技(ji)術(shu):

雙(shuang)系(xi)統互鎖(suo)技(ji)術(shu)及(ji)隔離(li)屏(ping)蔽(bi)技(ji)術(shu)：

2500VDC電(dian)氣(qi)隔離(li)

2500VDC電(dian)氣(qi)隔離(li)，靜(jing)電(dian)等(deng)級接(jie)觸(chu)放(fang)電(dian)±8KV

試(shi)驗(yan)方(fang)便(bian)   壹(yi)機(ji)多用(yong)

高試(shi)驗(yan)儀器(qi)可(ke)以測量交流(liu)電(dian)壓(ya)、直流(liu)電(dian)壓(ya)下的材(cai)料電(dian)弱(ruo)點

主營(ying)產(chan)品

公司(si)主營(ying)產(chan)品： 幾(ji)大(da)系列： 介電(dian)擊穿強(qiang)度試(shi)驗(yan)儀（電(dian)壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀）、表面體(ti)積電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)度儀、電(dian)痕(hen)化指數試(shi)驗(yan)儀、耐電(dian)弧試(shi)驗(yan)儀、沖擊電(dian)壓(ya)試(shi)驗(yan)儀、萬能(neng)材(cai)料試(shi)驗(yan)機(ji)、薄(bo)膜(mo)沖擊試(shi)驗(yan)機(ji)、靜(jing)電(dian)系(xi)列、落(luo)錘(chui)式沖(chong)擊試(shi)驗(yan)機(ji)、馬丁(ding)耐熱(re)試(shi)驗(yan)儀