華測(ce)薄膜擊穿(chuan)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器--鋰電(dian)池隔(ge)膜

耐(nai)用(yong)性(xing)可靠性、電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器HCRD-300

主(zhu)要適(shi)用(yong)範(fan)圍及(ji)功(gong)能(neng)：

該儀器是(shi)根據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電(dian)氣(qi)用(yong)塑(su)料薄膜標準(zhun)要求設(she)計(ji)的(de)高壓試(shi)驗裝置。主要用(yong)於(yu)電(dian)氣(qi)用(yong)聚(ju)氨脂薄(bo)膜、塑料薄膜、聚丙(bing)稀薄膜等(deng)絕(jue)緣材(cai)料在給(gei)定直(zhi)流(liu)電(dian)壓下每(mei)平(ping)方(fang)米的(de)擊穿(chuan)點數(shu)。本(ben)機(ji)采(cai)用(yong)計(ji)算(suan)機(ji)控(kong)制，可對(dui)試(shi)驗過(guo)程中的(de)各種數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)快(kuai)速、準(zhun)確(que)的(de)采集、處(chu)理(li)，並可存取、顯(xian)示(shi)、打印(yin)。

設(she)備工作(zuo)原(yuan)理(li)：

本測(ce)試(shi)儀試(shi)驗電(dian)壓是0－20kV交(jiao)直(zhi)流(liu)電(dian)壓，其(qi)波動為(wei)±1%。測(ce)試(shi)儀在試(shi)樣弱(ruo)點擊穿(chuan)後約(yue)0.1s內(nei)使(shi)電(dian)壓回(hui)升(sheng)到原來(lai)設(she)定(ding)的(de)電(dian)壓。銅(tong)輥為(wei)下(xia)電(dian)極(ji)，導電(dian)橡膠為(wei)上電(dian)極(ji)。薄(bo)膜以3m/min的(de)速度移動。遇(yu)弱(ruo)點時擊穿(chuan)，擊穿(chuan)點自動累(lei)積計(ji)數(shu)。膜移動(dong)以(yi)平(ping)方(fang)數(shu)自動計(ji)數(shu)。

電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器主(zhu)要技術(shu)參數(shu)：

1、試(shi)驗電(dian)壓：0-20kV （交(jiao)直(zhi)流(liu)）

2、有(you)效測(ce)量範(fan)圍：0～20kV

3、電(dian)壓測(ce)量精度：±1%

4、膜移動(dong)速度：0-3m/min 連續可(ke)調

5、保護電(dian)流(liu)：0～40mA

6、樣品寬度： 60～650mm

7、輸入電(dian)壓：220V

8、功率(lv)：2KW

薄膜擊穿(chuan)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器保護設(she)計(ji)：

1、電(dian)源(yuan)間(jian)斷(duan)保護：如(ru)果發(fa)生(sheng)電(dian)源(yuan)間(jian)斷(duan)，主(zhu)控(kong)電(dian)器馬(ma)上跳閘(zha)，再次(ci)來(lai)電(dian)時系(xi)統(tong)自動復(fu)位。

2、高(gao)壓倉開(kai)門(men)跳(tiao)閘(zha)：無論(lun)在任(ren)何狀(zhuang)態，只(zhi)要打開(kai)高壓倉門(men)，將(jiang)使(shi)主控(kong)繼(ji)電(dian)器的(de)線圈失(shi)電(dian)而(er)跳(tiao)閘(zha)。

3、電(dian)源(yuan)保險線：當(dang)機(ji)內(nei)故(gu)障(zhang)或(huo)試(shi)品(pin)擊穿(chuan)後電(dian)子(zi)開(kai)關未能(neng)及(ji)時動作(zuo)時，該熔絲自動燒斷，切(qie)斷(duan)電(dian)源(yuan)。

4、接(jie)地保護（主機後外(wai)板）：本機接(jie)地可(ke)防止(zhi)機(ji)殼感(gan)應高(gao)壓，保護設(she)備和(he)人身(shen)。沒有(you)接(jie)地不(bu)允許(xu)通(tong)電(dian)。

華(hua)測(ce)薄膜擊穿(chuan)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器--鋰電(dian)池隔(ge)膜

華測(ce)薄膜擊穿(chuan)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀器--鋰電(dian)池隔(ge)膜