電弱點測(ce)試儀(yi)器(qi) 高壓(ya)試驗裝置(zhi)： 該儀(yi)器(qi)是(shi)根據(ju)薄(bo)膜(mo)的(de)使(shi)用(yong)寬度(du)進(jin)行(xing)電弱點的(de)測(ce)試，測(ce)試寬度(du)可(ke)根據(ju)用(yong)戶(hu)的(de)要求(qiu)而(er)設(she)定，無(wu)須將膜(mo)分切(qie)成(cheng)小卷，免除(chu)了(le)許(xu)多外來因(yin)素對(dui)測(ce)試結(jie)果(guo)的(de)影響(xiang)。測(ce)試數(shu)據(ju)能(neng)真(zhen)實(shi)地反(fan)映(ying)薄(bo)膜(mo)的(de)質(zhi)量(liang)水(shui)平。有效地保(bao)證(zheng)了(le)設(she)備的(de)可靠(kao)性(xing)、耐用(yong)性(xing)和穩(wen)定性(xing)。測(ce)量(liang)準確(que)，復(fu)現(xian)性(xing)好。測(ce)試過(guo)程采(cai)用(yong)電(dian)子(zi)技(ji)術(shu)全(quan)自動控制(zhi)，遇(yu)到(dao)電(dian)弱點時(shi)電壓(ya)切(qie)斷(duan)動作迅速(su)。擊穿電流(liu)在(zai)0～40mA連續(xu)可調(tiao)，復現(xian)性(xing)好。

電弱點測(ce)試儀(yi) 定制(zhi)測(ce)試寬度(du)不(bu)用(yong)切(qie)卷，該儀(yi)器(qi)是(shi)根據(ju)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣(qi)用(yong)塑(su)料(liao)薄(bo)膜(mo)標準(zhun)要求(qiu)設計的(de)高壓(ya)試驗裝置(zhi)。主要(yao)用(yong)於(yu)電(dian)氣(qi)用(yong)聚(ju)氨脂(zhi)薄(bo)膜(mo)、塑(su)料(liao)薄(bo)膜(mo)、聚丙(bing)稀薄(bo)膜(mo)等(deng)絕緣(yuan)材料(liao)在(zai)給定直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)下每平方米的(de)擊穿點數(shu)。本(ben)機采(cai)用(yong)計算機控制(zhi)，可對(dui)試驗過程中的(de)各(ge)種數(shu)據(ju)進行(xing)快速(su)、準確(que)的(de)采(cai)集、處理，並可(ke)存(cun)取、顯示(shi)、打印。