電弱(ruo)點測試儀(yi)器(qi)

產(chan)品(pin)名(ming)稱：電弱(ruo)點試驗(yan)儀(yi)

產(chan)品(pin)型(xing)號：HCRD-300

品(pin)牌(pai)：北京華(hua)測(ce)

壹(yi)、依(yi)據(ju)標準：

IEC 60674-2:1988電氣(qi)用(yong)塑(su)料薄膜(mo)規範(fan) 第2部(bu)分_試驗(yan)方法(fa)

GB/T 13542-92《電氣(qi)用(yong)塑(su)料薄膜(mo)試驗(yan)方法(fa)》

二(er)、適(shi)用(yong)範(fan)圍：

   主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)電容(rong)器(qi)用(yong)聚(ju)脂(zhi)薄(bo)膜(mo)、聚(ju)丙稀(xi)薄膜(mo)的(de)電弱(ruo)點測試。該系(xi)列產(chan)品(pin)的(de)主(zhu)要特點是能根據薄膜(mo)的(de)使(shi)用(yong)寬度進(jin)行電弱(ruo)點的(de)測(ce)試，測(ce)試寬度可(ke)根據用(yong)戶的(de)要(yao)求而設定(ding)，無(wu)須(xu)將(jiang)膜(mo)分切(qie)成(cheng)小卷，免除(chu)了許(xu)多(duo)外(wai)來(lai)因素(su)對測試結(jie)果的(de)影(ying)響(xiang)。測(ce)試數據能真(zhen)實地反(fan)映(ying)薄膜(mo)的(de)質量(liang)水(shui)平(ping)。

三(san)、設備(bei)優(you)點(dian)：

    該系(xi)列產(chan)品(pin)的(de)主(zhu)要元器(qi)件均選用(yong)品(pin)牌(pai)（如歐(ou)姆(mu)龍(long)，美信(xin)，BB等），有效(xiao)地(di)保(bao)證了設(she)備(bei)的(de)可(ke)靠性、耐(nai)用(yong)性和(he)穩定(ding)性。測量(liang)準確，復(fu)現(xian)性好。測(ce)試過(guo)程(cheng)采用(yong)電子(zi)技術全自(zi)動控制，遇(yu)到電弱(ruo)點時電壓(ya)切(qie)斷動作(zuo)迅(xun)速。擊穿電流(liu)在(zai)0～40mA連續(xu)可(ke)調，復(fu)現(xian)性好。本機具備(bei)多(duo)重保護(hu)功(gong)能，充分考(kao)慮了操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)及(ji)設(she)備(bei)的(de)性。如過(guo)壓(ya)、過(guo)流(liu)、接地保護(hu)，試驗(yan)平臺(tai)門(men)開啟(qi)保護(hu)。

四、測試原理：

       本測試儀(yi)試驗(yan)電壓(ya)是0－12kV交(jiao)直(zhi)流(liu)電壓(ya)，其(qi)波(bo)動為±1%。測(ce)試儀(yi)在(zai)試樣(yang)弱(ruo)點擊穿後約0.1s內使(shi)電壓(ya)回升(sheng)到原來(lai)設定(ding)的(de)電壓(ya)。銅輥為下電極，導電橡(xiang)膠為上電極。薄膜(mo)以(yi)0-10m/min（可(ke)調）的(de)速度(du)移(yi)動。遇(yu)弱點時擊穿，擊穿點自動累積計(ji)數。膜(mo)移(yi)動以(yi)平(ping)方數自動計(ji)數。

五(wu)、技術參(can)數:

1、試驗(yan)電壓(ya)：0-12kV （交(jiao)直(zhi)流(liu)）

  2、有(you)效(xiao)測(ce)量(liang)範(fan)圍：0～12kV

  3、控制系(xi)統(tong)：嵌入式工控機  

  4、電壓(ya)測(ce)量(liang)精(jing)度：±1%

  5、升(sheng)壓(ya)方式：SPWM

  6、膜(mo)移(yi)動速度(du)： 0-10m/min 連續(xu)可(ke)調

  7、數據傳(chuan)輸：2個(ge)USB接(jie)口(kou)

  8、保(bao)護(hu)電流(liu)：0～40mA

  9、樣(yang)品(pin)寬度： 60～600mm

  10、輸入電壓(ya)：220V

  11、功(gong)率：1KW

六(liu)、保護(hu)設計(ji):

1、電源(yuan)間(jian)斷保護(hu)：如果發(fa)生(sheng)電源(yuan)間(jian)斷，主控電器(qi)馬(ma)上跳閘，再次來(lai)電時系(xi)統(tong)自動復位。

2、高壓(ya)倉開門(men)跳(tiao)閘：無(wu)論(lun)在(zai)任何(he)狀(zhuang)態，只(zhi)要(yao)打(da)開高壓(ya)倉門，將(jiang)使(shi)主(zhu)控繼(ji)電器(qi)的(de)線(xian)圈(quan)失電而(er)跳閘。

3、電源(yuan)保險線(xian)：當機內故(gu)障或試品(pin)擊穿後電子(zi)開關(guan)未能及(ji)時動作(zuo)時，該熔(rong)絲自動燒斷，切(qie)斷電源(yuan)。

4、接地保(bao)護(hu)（主機後(hou)外(wai)板）：本機接(jie)地(di)可(ke)防止(zhi)機殼感(gan)應高(gao)壓(ya)，保(bao)護(hu)設備(bei)和(he)人(ren)身(shen)。沒有接(jie)地不允(yun)許(xu)通電。

多(duo)防護(hu)：

該測(ce)試儀(yi)大(da)都采用(yong)的(de)光耦(ou)隔(ge)離方式，但光耦(ou)與隔離無(wu)非(fei)是提(ti)高(gao)儀(yi)器(qi)的(de)采(cai)集的(de)抗(kang)幹擾處理(li),對於(yu)電弧放電過(guo)程(cheng)中的(de)浪(lang)湧對控制系(xi)統(tong)的(de)防(fang)護(hu)起不到任何(he)作(zuo)用(yong)。
低(di)通濾波(bo)電流(liu)監(jian)測技術:

高電壓(ya)放(fang)電過(guo)程(cheng)中將產生(sheng)高頻(pin)信(xin)號。而無(wu)論(lun)是國(guo)產(chan)與電流(liu)采集傳(chuan)感(gan)器(qi)，大(da)都為工頻(pin)電流(liu)傳感(gan)器(qi)。而(er)采(cai)集過(guo)程(cheng)中無(wu)法(fa)將(jiang)高(gao)頻(pin)信(xin)號處理(li)時，從(cong)而造(zao)成(cheng)檢測不準確。無(wu)論(lun)是采(cai)用(yong)磁(ci)通門或霍爾原理所(suo)設(she)計(ji)的(de)傳(chuan)感(gan)器(qi)存(cun)在(zai)材料產生(sheng)弱點後後瞬間(jian)輸出(chu)電壓(ya)或(huo)電流(liu)信(xin)號過(guo)大(da)，從(cong)而燒壞控制系(xi)統(tong)的(de)采(cai)集部(bu)分。華(hua)測(ce)開發(fa)的(de)低(di)濾(lv)波(bo)電流(liu)采集傳(chuan)感(gan)器(qi)將(jiang)高(gao)頻(pin)雜波(bo)信(xin)號進(jin)行相(xiang)應處理(li)。同時華(hua)測(ce)自主開(kai)發(fa)的(de)保(bao)護(hu)模(mo)塊來(lai)保證(zheng)采集精(jing)度與保護(hu)采集元件.

雙系(xi)統(tong)互(hu)鎖技術及隔(ge)離屏(ping)蔽技術：

電弱(ruo)點測試儀(yi)器(qi)，華(hua)測(ce)生(sheng)產的(de)電弱(ruo)點試驗(yan)設備(bei)不僅具備(bei)過(guo)壓(ya)、過(guo)流(liu)保護(hu)系(xi)統(tong)，它*的(de)雙系(xi)統(tong)互(hu)鎖機制，當任(ren)何元器(qi)件出現(xian)問(wen)題或單系(xi)統(tong)出現(xian)故(gu)障(zhang)時，將瞬(shun)間(jian)切(qie)斷高(gao)壓(ya)。技術，。

電設(she)備(bei)主要(yao)配(pei)置:

1、測(ce)試主(zhu)機壹(yi)臺(tai)

2、導(dao)電橡(xiang)膠電極兩(liang)對

3、品牌(pai)計(ji)算(suan)機壹(yi)臺(tai)

4、品(pin)牌(pai)打印(yin)機壹(yi)臺(tai)

5、放(fang)電裝(zhuang)置壹(yi)套

6、產品(pin)說(shuo)明(ming)書壹(yi)份

7、產品(pin)合(he)格(ge)證壹(yi)份

電弱(ruo)點測試儀(yi)器(qi)