高(gao)電(dian)場(chang)介(jie)電(dian)、損耗、漏(lou)電流(liu)測試(shi)系統

高電場(chang)介(jie)電(dian)、損耗、漏(lou)電流(liu)測試(shi)系統

高電場(chang)介(jie)電(dian)、損耗、漏(lou)電流(liu)測試(shi)系統可實現(xian)從低(di)頻到高(gao)頻信號(hao)的(de)輸出與(yu)測量(liang)，系統由工控(kong)機(ji)發(fa)出指令(ling)，單(dan)片機(ji)控制(zhi)FPGA發(fa)出測量(liang)波形，FPGA壹(yi)路信號(hao)控(kong)制(zhi)不(bu)同(tong)頻率幅(fu)值(zhi)的(de)信號由高壓放大(da)器進行(xing)電(dian)壓放大(da)後，施(shi)加在樣品(pin)上(shang)，另(ling)壹(yi)路施(shi)加在鎖相(xiang)放大(da)器作為參考(kao)信(xin)號，不(bu)同(tong)頻率幅(fu)值(zhi)的(de)高壓信(xin)號(hao)加載樣樣品(pin)上(shang)，樣(yang)品(pin)測量(liang)的(de)信號測量(liang)後，再回傳FPGA測試(shi)板(ban)卡。測量(liang)的(de)數(shu)據再由單(dan)片機(ji)回傳工(gong)控機(ji)進行(xing)數(shu)據處理(li)。

它使用(yong)真(zhen)正的(de) AC DFR（介(jie)電(dian)頻率響(xiang)應(ying)），保(bao)持出色的(de)準確性(xing)和(he)提(ti)供可靠(kao)數(shu)據的(de)能力，可在高幹(gan)擾(rao)環(huan)境中(zhong)獲得可靠(kao)的(de)測試(shi)結果。 該軟件使測試(shi)既簡(jian)單(dan)又(you)快(kuai)捷(jie)，它(ta)可在進行(xing)不(bu)同(tong)溫(wen)度(du)，頻率下(xia)測量(liang)材(cai)料(liao)的(de)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)及(ji)介(jie)質(zhi)損耗因數(shu)。本(ben)套(tao)系統可以(yi)在任意電壓激勵(li)下(xia)的(de)介(jie)電(dian)響(xiang)應(ying)測試(shi)根據需(xu)要自(zi)定(ding)義輸出任意電壓波形激勵(li)，滿(man)足對(dui)不同(tong)條(tiao)件下不同(tong)絕(jue)緣材(cai)料(liao)不同(tong)方(fang)面的(de)測試(shi)需(xu)求(qiu)，較好地(di)適(shi)應(ying)用(yong)戶需(xu)求(qiu)。

設計(ji)框圖

產(chan)品優(you)勢(shi)

對被(bei)測信(xin)號進行(xing)調(tiao)整的(de)信號源，由鎖相(xiang)放大(da)器的(de)信號輸出端提(ti)供，采用內(nei)部(bu)參(can)考模(mo)式，這(zhe)種(zhong)模(mo)式幅(fu)於(yu)鎖相(xiang)放大(da)器對(dui)直(zhi)接(jie)可以(yi)獲(huo)取(qu)的(de)參考信號的(de)幅(fu)度(du)及(ji)相(xiang)位(wei)，測量(liang)精(jing)度(du)更(geng)高。數(shu)字(zi)鎖相(xiang)放大(da)器不(bu)會(hui)由於(yu)算(suan)法計(ji)算(suan)而引(yin)入(ru)或考(kao)增(zeng)加噪聲，並且基(ji)本(ben)不受(shou)外界(jie)環(huan)境的(de)幹(gan)擾(rao)。