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        1. 您(nin)好!歡(huan)迎(ying)訪(fang)問(wen)北(bei)京華(hua)測(ce)試(shi)驗儀器(qi)有(you)限公司網站(zhan)!
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          • MLCC高(gao)溫/低(di)溫介電溫(wen)譜(pu)頻(pin)譜(pu)試(shi)驗儀
            MLCC高溫(wen)/低(di)溫介電溫(wen)譜(pu)頻(pin)譜(pu)試(shi)驗儀

            更新(xin)時間(jian):2024-12-08

            型(xing)號(hao):

            瀏(liu)覽(lan)量(liang):3597

            華(hua)測(ce)MLCC高(gao)溫(wen)/低(di)溫介電溫(wen)譜(pu)頻(pin)譜(pu)試(shi)驗儀,為(wei)了滿(man)足材(cai)料在高溫(wen)環境下(xia)的(de)介(jie)電(dian)測(ce)量需求而(er)設(she)計(ji)的(de)。主(zhu)要(yao)應用於(yu)應用領(ling)域:復(fu)合絕(jue)緣(yuan)擦(ca)亮 、高(gao)分子(zi)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料 、無機絕(jue)緣(yuan)材(cai)料 、有(you)機絕(jue)緣(yuan)材(cai)料 、其它絕(jue)緣(yuan)材(cai)料等(deng) 。
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          • HPZT-200華(hua)測(ce)儀器(qi) 靜(jing)態壓電系數D33
            HPZT-200華(hua)測(ce)儀器(qi) 靜(jing)態壓電系數D33

            更新時間(jian):2025-09-18

            型(xing)號(hao):HPZT-200

            瀏(liu)覽(lan)量(liang):5595

            華(hua)測(ce)儀器(qi) 靜(jing)態壓電系數D33可測(ce)量(liang)壓電材(cai)料的(de)介(jie)電(dian)常(chang)數、居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)、熱釋(shi)電(dian)系(xi)數、縱向(xiang)壓電應變常(chang)數d33、機電耦(ou)合系(xi)數等(deng)參(can)數,是壹款功(gong)能壓電材(cai)料測試(shi)裝置(zhi)。
            了(le)解詳情
          • 壓電陶瓷壓電系數測試(shi)儀測D31,D33
            壓電陶瓷壓電系數測試(shi)儀測D31,D33

            更(geng)新(xin)時間(jian):2025-09-15

            型(xing)號(hao):

            瀏(liu)覽(lan)量(liang):2899

            壓電陶瓷壓電系數測試(shi)儀測D31,D33,除(chu)了(le)具(ju)有(you)壹般(ban)介質(zhi)材(cai)料所具(ju)有(you)的(de)介(jie)電(dian)性(xing)和彈(dan)性(xing)外(wai),還具有(you)壓電。壓電陶瓷經過(guo)極(ji)化處理之後(hou),就具有(you)了各(ge)向(xiang)異性,每(mei)項參(can)數在不同方(fang)向(xiang)上所表(biao)現的(de)數值(zhi)不同,這(zhe)就使得(de)壓電陶瓷的(de)參(can)數比(bi)壹(yi)般(ban)各(ge)向(xiang)同性(xing)的(de)介(jie)質(zhi)陶瓷多(duo)得多(duo)。
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          • 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化離子(zi)遷移評(ping)估系統(tong)/電(dian)路板(ban)測試(shi)
            絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化離子(zi)遷移評(ping)估系統(tong)/電(dian)路板(ban)測試(shi)

            更(geng)新時間(jian):2025-09-15

            型(xing)號(hao):

            瀏(liu)覽(lan)量(liang):3900

            絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化離子(zi)遷移評(ping)估系統(tong)/電(dian)路板(ban)測試(shi)配之以(yi)高溫(wen)高濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)聯動(dong),可連(lian)續監(jian)測(ce),高效簡便評(ping)估因離子(zi)遷移現象引起的(de)壽(shou)命(ming)及(ji)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化相關(guan)問(wen)題。適(shi)用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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          • HCYD-800壓電材(cai)料壓電陶瓷靜(jing)態壓電常(chang)數測試(shi)儀
            HCYD-800壓電材(cai)料壓電陶瓷靜(jing)態壓電常(chang)數測試(shi)儀

            更新(xin)時間(jian):2025-09-10

            型(xing)號(hao):HCYD-800

            瀏(liu)覽(lan)量(liang):2765

            壓電材(cai)料壓電陶瓷靜(jing)態壓電常(chang)數測試(shi)儀,可測(ce)量(liang)壓電材(cai)料的(de)介(jie)電(dian)常(chang)數、居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)、熱釋(shi)電(dian)系(xi)數、縱向(xiang)壓電應變常(chang)數d33、機電耦(ou)合系(xi)數等(deng)參(can)數,它是壹款功(gong)能壓電材(cai)料測試(shi)裝置(zhi)。壓電材(cai)料靜(jing)態壓電常(chang)數測試(shi)儀 居(ju)裏(li)溫(wen)度(du)縱向(xiang)壓電應變常(chang)數d33
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          • HC6630頻(pin)譜(pu)/阻(zu)抗(kang)分析儀 /介電(dian)常(chang)數
            HC6630頻(pin)譜(pu)/阻(zu)抗(kang)分析儀 /介電(dian)常(chang)數

            更新時間(jian):2025-07-29

            型(xing)號(hao):HC6630

            瀏(liu)覽(lan)量(liang):3747

            頻(pin)譜(pu)/阻(zu)抗(kang)分析儀 /介電(dian)常(chang)數可在(zai)不同測(ce)量(liang)條(tiao)件(jian)下(xia)進(jin)行(xing)高速(su)連(lian)續測(ce)量(liang)。其等(deng)效電路分析功(gong)能支(zhi)援(yuan)7種(zhong)不同的(de)參(can)數模型(xing)(三元(yuan)件(jian)、四(si)元(yuan)件(jian)),可協助客戶模擬元(yuan)件(jian)的(de)等(deng)效參(can)數值(zhi)。
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          • Huace FE 3000功(gong)能材(cai)料電學測(ce)試(shi) 鐵電(dian)壓電分析儀
            Huace FE 3000功(gong)能材(cai)料電學測(ce)試(shi) 鐵電(dian)壓電分析儀

            更新(xin)時間(jian):2025-10-13

            型(xing)號(hao):Huace FE 3000

            瀏(liu)覽(lan)量(liang):5380

            功(gong)能材(cai)料電學測(ce)試(shi) 鐵電(dian)壓電分析儀,應用於(yu)如(ru)各(ge)種(zhong)鐵電(dian)/壓電/熱釋(shi)電(dian)薄(bo)膜、厚(hou)膜、體(ti)材(cai)料和電子陶瓷、鐵電(dian)傳(chuan)感器(qi)/執行(xing)器(qi)/存儲(chu)器(qi)等(deng)領(ling)域的(de)研究。
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          • 華(hua)測(ce)-鐵電(dian)材(cai)料綜合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
            華(hua)測(ce)-鐵電(dian)材(cai)料綜合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)

            更(geng)新(xin)時間(jian):2024-06-04

            型(xing)號(hao):

            瀏(liu)覽(lan)量(liang):2867

            華(hua)測(ce)-鐵電(dian)材(cai)料綜合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)可廣(guang)泛地(di)應用於(yu)如(ru)各(ge)種(zhong)鐵電(dian)/壓電/熱釋(shi)電(dian)薄(bo)膜、厚(hou)膜、塊體材(cai)料和電子陶瓷、鐵電(dian)傳(chuan)感器(qi)/執行(xing)器(qi)/存儲(chu)器(qi)等(deng)領(ling)域的(de)研究為(wei)壹體(ti)的(de)綜(zong)合測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)。
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