華測(ce)-鐵(tie)電材(cai)料綜(zong)合(he)測(ce)試系(xi)統

華測(ce)-鐵(tie)電材(cai)料綜(zong)合(he)測(ce)試系(xi)統

產品(pin)優(you)勢(shi)

優(you)勢(shi)壹(yi)：可測(ce)量壓(ya)電陶瓷居(ju)裏(li)溫度(du)、靜(jing)態(tai)壓電(dian)常數；

優(you)勢(shi)二(er)：測(ce)量壓(ya)電材(cai)料介(jie)電(dian)-1KHZ下(xia)的介電(dian)常數及(ji)介(jie)質損耗(hao)測(ce)試

優(you)勢(shi)三(san)：可測(ce)量壓(ya)電材(cai)料積(ji)分(fen)電(dian)荷法熱釋電系(xi)數測(ce)

優(you)勢(shi)四(si)：可測(ce)量壓(ya)電陶瓷的(de)因(yin)數及(ji)機電(dian)耦(ou)合(he)系數

優(you)勢(shi)五：可選配(pei)不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試裝置進(jin)行(xing)不(bu)同(tong)環(huan)境(jing)下的壓電(dian)陶瓷參(can)數測(ce)試

優(you)勢(shi)六：本儀器(qi)可配(pei)合(he)高壓放大器(qi)實(shi)現壓(ya)電及(ji)鐵(tie)電材(cai)料的(de)綜(zong)合(he)測(ce)試；

鐵(tie)電模塊(kuai)測(ce)試功能(neng)

鐵(tie)電模塊(kuai)標(biao)準(zhun)測(ce)試功能(neng)：

動(dong)態(tai)電滯回線(xian)測(ce)試頻(pin)率(lv)（0.001Hz~150kHz);

脈(mai)沖測(ce)試：Z小(xiao)脈(mai)沖寬度2μs,*小(xiao)上升時間1μs;

疲(pi)勞(lao)測(ce)試， Z大頻率(lv)300kHz;

保(bao)持力(li)測(ce)試；

靜(jing)態(tai)電滯回線(xian)測(ce)試；

印(yin)跡測(ce)試；

漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試：1pA to 1A。

高壓放大器(qi)模塊(kuai)參(can)數

高壓電(dian)源(yuan)：DC~150kHz

輸(shu)出電壓(ya)：1600Vp-p(±800Vp)(可選）

輸(shu)出電流(liu)：40mA

輸(shu)出波(bo)形(xing)：正(zheng)弦(xian)波(bo)、三(san)角(jiao)波(bo)、梯(ti)形(xing)波(bo)等(deng)

壓(ya)電(dian)模塊(kuai)測(ce)試功能(neng)

電(dian)容(rong)-電(dian)壓曲線(xian)、損耗(hao)曲線(xian)；

壓(ya)電(dian)測(ce)試（蝴(hu)蝶曲線(xian)、d33曲線(xian)）；

熱(re)釋(shi)電(dian)測(ce)試；

e31、h31 測(ce)試；

靜(jing)態(tai)加載(zai)力(li)條(tiao)件下(xia)的測(ce)試；

測(ce)量範圍(wei)（D33)： 2至(zhi)4000pC/N

測(ce)試頻(pin)率(lv)：20HZ-10M;

測(ce)試精(jing)度：0.05％

測(ce)量參(can)數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|

R、 X、 G、 B、 Φ、 D、 Q、 Vac、 Iac

施力(li)裝置：約(yue)4公(gong)斤(jin)

華測(ce)-鐵(tie)電材(cai)料綜(zong)合(he)測(ce)試系(xi)統