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          華(hua)測國產(chan)功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)鐵電(dian)儀定制(zhi)

          簡(jian)要描述:華(hua)測國產(chan)功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)鐵電(dian)儀定制(zhi),國產(chan)/定制(zhi)具有(you)多(duo)種(zhong)測試功能,包(bao)括鐵電參(can)數(shu)測試、壓(ya)電(dian)參數(shu)測試、熱(re)釋電測試以及(ji)絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)測試等(deng)。具體來(lai)說,它(ta)可(ke)以完(wan)成(cheng)功能材(cai)料的鐵電(dian)、壓(ya)電(dian)、熱(re)釋電、介(jie)電、絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)等(deng)電學測試,並(bing)具備動態(tai)電滯(zhi)回線(xian)測試、靜(jing)態(tai)電滯(zhi)回線(xian)測試、脈沖(chong)測試、疲勞(lao)測試、保(bao)持(chi)力測試、印(yin)跡(ji)測試、漏(lou)電流(liu)測試以及(ji)變溫(wen)測試等(deng)功能。

          • 產(chan)品型號:HC
          • 廠商性質(zhi):生(sheng)產(chan)廠家
          • 更新時(shi)間:2025-09-15
          • 訪(fang)  問(wen)  量(liang):4902

          詳細介(jie)紹(shao)

          品牌華(hua)測儀(yi)器產地類(lei)別(bie)國產(chan)
          應(ying)用(yong)領(ling)域化工,電子(zi)/電(dian)池(chi),航(hang)空航天(tian),電氣(qi),綜(zong)合


          HC功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)


          HC功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)-國產(chan)/定制(zhi)產(chan)品簡介(jie)

          HC功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)-國產(chan)/定制(zhi)可(ke)完(wan)成(cheng)功能材(cai)料鐵電、壓(ya)電(dian)、熱(re)釋電、介(jie)電、絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)等(deng)電學測試,以及(ji)高、低溫(wen)環境下的(de)電(dian)學(xue)測試。與(yu)電(dian)學檢(jian)測儀(yi)器在通訊(xun)協(xie)議、數(shu)據(ju)庫(ku)處(chu)理(li)、軟(ruan)件(jian)兼容(rong)性做(zuo)了(le)大(da)量(liang)的(de)接(jie)口。無(wu)論在軟(ruan)件(jian)與硬(ying)件(jian)方(fang)面(mian),使(shi)本(ben)套儀(yi)器在未(wei)來(lai)更(geng)易於擴(kuo)展(zhan)。更(geng)加(jia)節省(sheng)改造(zao)時(shi)間與(yu)硬(ying)件(jian)成(cheng)本(ben)。


          強(qiang)大(da)的(de)測試功能

          鐵電參數(shu)測試功能

          Dynamic Hysteresis 動態(tai)電滯(zhi)回線(xian)測試頻(pin)率(lv);

          Static Hysterestic 靜態電滯(zhi)回線(xian)測試;

          PUND 脈沖(chong)測試;

          Fatigue 疲勞(lao)測試;

          Retention保持力;

          Imprint印(yin)跡(ji);

          Leakage current漏(lou)電流(liu)測試;

          Thermo Measurement 變溫(wen)測試功能

          壓電參數(shu)測試功能

          可(ke)進(jin)行(xing)壓(ya)電陶瓷的準(zhun)靜(jing)態(tai)d33等(deng)參數(shu)測試,也可(ke)通過(guo)高壓放大器(qi)與(yu)位(wei)移傳(chuan)感(gan)器(如(ru)激(ji)光幹(gan)涉儀)動態(tai)法測量(liang)壓電系數(shu)測量(liang)。

          熱釋電測試功能

          主(zhu)要(yao)用(yong)於薄(bo)膜及塊體材料變溫(wen)的熱(re)釋電性能測試。采(cai)用(yong)電流(liu)法進(jin)行(xing)測量(liang)材料的熱釋電電(dian)流(liu)、熱釋電系(xi)數(shu)、剩余極(ji)化(hua)強(qiang)度(du)對(dui)溫(wen)度和時(shi)間的(de)曲(qu)線(xian)。

          薄(bo)膜材料變(bian)溫(wen)範(fan)圍:-196℃到(dao)+600℃;

          塊體材料變溫(wen)範(fan)圍:室(shi)溫(wen)到200℃、室(shi)溫(wen)到600℃、室(shi)溫(wen)到800℃

          介(jie)電溫(wen)譜測試功能

          用(yong)於分(fen)析(xi)寬(kuan)頻(pin)、高低溫(wen)環境條件(jian)下功能材(cai)料的阻(zu)抗Z、電(dian)抗X、導(dao)納(na)Y、電導(dao)G、電納B、電感(gan)L、介(jie)電損(sun)耗(hao)D、品質因數(shu)Q等(deng)物(wu)理(li)量(liang),同時(shi)還可(ke)以分(fen)析被(bei)測樣(yang)品隨溫(wen)度、頻(pin)率(lv)、時(shi)間、偏(pian)壓(ya)變(bian)化的曲(qu)線。也可(ke)進(jin)行(xing)壓(ya)電陶瓷的居裏溫(wen)度測試。

          熱激(ji)發極(ji)化(hua)電(dian)流(liu)測試儀(yi) TSDC

          用(yong)於研究材(cai)功材料(liao)性能的(de)壹(yi)些關(guan)鍵因(yin)素(su),諸如(ru)分(fen)子(zi)弛(chi)豫(yu)、相轉(zhuan)變、玻(bo)璃(li)化(hua)溫(wen)度等(deng)等,通過(guo)TSDC技術也可(ke)以比(bi)較直(zhi)觀(guan)的研究材(cai)料的(de)弛豫時(shi)間、活(huo)化(hua)能等(deng)相關的(de)介(jie)電特(te)性。

          絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)測試功能

          精zhun度的電壓(ya)輸出與(yu)電(dian)流(liu)測量(liang),保障(zhang)測試的(de)品質,適用(yong)於功能材(cai)料在高溫(wen)環境材料的數(shu)據(ju)的(de)檢(jian)測。例(li)如(ru):陶(tao)瓷材料、矽(gui)橡(xiang)膠(jiao)測試、PCB、雲(yun)母(mu)、四(si)氟材(cai)料(liao)電(dian)阻(zu)測試、也可(ke)做(zuo)為(wei)科研院所新材料(liao)的高溫(wen)絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)的(de)性能測試。

          高溫(wen)四探(tan)針測試功能

          符(fu)合(he)功能材(cai)料導體、半導體材料與其(qi)它(ta)新材料(liao)在高溫(wen)環境下測試多(duo)樣(yang)化的(de)需求。雙(shuang)電(dian)測數(shu)字式四探針測試儀(yi)是(shi)運用(yong)直線(xian)或(huo)方(fang)形四(si)探(tan)針雙(shuang)位測量(liang)。該儀器設計(ji)符(fu)合(he)單晶矽(gui)物理(li)測試方(fang)法國家標準(zhun)並(bing)參(can)考(kao)美國A.S.T.M標(biao)準(zhun)。也可(ke)應(ying)用(yong)於產(chan)品檢測以及(ji)新材料(liao)電學性能研究等(deng)用(yong)途。

          塞貝克(ke)系數(shu)/電(dian)阻(zu)測量(liang)系統

          適用(yong)於半(ban)導(dao)體,陶瓷材料,金(jin)屬材(cai)料(liao)等多(duo)種(zhong)材料的(de)多種(zhong)熱電性能分(fen)析;可(ke)根(gen)據(ju)用(yong)戶(hu)需求配(pei)置(zhi)薄(bo)膜測量(liang)選件(jian),低溫(wen)選件(jian)溫(wen)度範(fan)圍-100℃到(dao)200℃,高阻(zu)選件(jian)高至10MΩ。

          電卡(ka)效(xiao)應測試功能

          還可(ke)以用(yong)於測試材(cai)料(liao)在寬(kuan)溫(wen)度範(fan)圍內(nei)的(de)電卡(ka)性能。

          溫(wen)度範(fan)圍:-50℃到(dao)200℃、熱(re)流(liu)時(shi)間範(fan)圍:1s-1000s,

          zui大電壓可(ke)達(da)10kV,

          波形:用(yong)戶(hu)自(zi)定、脈沖(chong)、三角波(bo)、正弦波、任(ren)意波形、預定義(yi)波(bo)形。

          華(hua)測國產(chan)功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)鐵電(dian)儀定制(zhi)

          華(hua)測國產(chan)功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)鐵電(dian)儀定制(zhi)


          價(jia)格(ge)說明:所標價(jia)格(ge)均為(wei)參(can)考價(jia)格(ge),可(ke)聯(lian)系客(ke)服或(huo)銷(xiao)售(shou)人員具體報價(jia)。

          售(shou)後服(fu)務(wu):

          1、保(bao)修(xiu)期內(nei)零(ling)部件(jian)免費(fei)換(huan),保(bao)證(zheng)有(you)充足的部件(jian)或(huo)配(pei)件(jian),並承擔(dan)修(xiu)理(li)、調換(huan)或(huo)退(tui)貨(huo)的(de)實(shi)際(ji)費用(yong),超過(guo)保修(xiu)期後,如(ru)需要(yao)換(huan)零(ling)部件(jian)時(shi),已優惠(hui)價(jia)格(ge)8折提供,僅(jin)收(shou)取配(pei)件(jian)費,在退(tui)換(huan)過(guo)程(cheng)中我(wo)公司最多不超(chao)過(guo)2天(tian),24小(xiao)時(shi)服務(wu)熱(re)線(xian),1小(xiao)時(shi)內(nei)響(xiang)應(ying),維(wei)修(xiu)人員(yuan)及時(shi)到達(da)現(xian)場(chang)維(wei)修(xiu),排除(chu)故(gu)障(zhang);如(ru)在12小(xiao)時(shi)內(nei)不(bu)能將(jiang)故(gu)障(zhang)設備修(xiu)好,將(jiang)提供同等(deng)型號的備(bei)用(yong)設備,待(dai)設備修(xiu)好後,在收(shou)回備(bei)用(yong)設備。

          2、提供完(wan)整(zheng)的(de)隨(sui)機資料(liao),包(bao)括完(wan)整(zheng)的(de)使(shi)用(yong)手冊等(deng),並(bing)提供免費(fei)的(de)培訓(xun)和資料(liao)。

          華(hua)測國產(chan)功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)鐵電(dian)儀定制(zhi)

          華(hua)測國產(chan)功能材(cai)料綜(zong)合測試系(xi)統(tong)鐵電(dian)儀定制(zhi)

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