熔(rong)噴(pen)布TSD熱刺(ci)激電(dian)流(liu)測試儀器/北京華(hua)測

熔(rong)噴(pen)布TSD熱刺(ci)激電(dian)流(liu)測試儀器/北京華(hua)測

HC-TSC2000熱(re)刺(ci)激電(dian)流(liu)測試儀由華(hua)測儀器多位工程師(shi)多(duo)年開(kai)發(fa)，其(qi)具有(you)測試功(gong)能(neng)，設備(bei)支(zhi)持(chi)測試電(dian)壓(ya)10kV，采(cai)用(yong)冷(leng)臺的方(fang)式進(jin)行(xing)加溫與制冷(leng)，測量引用(yong)使用(yong)低噪(zao)聲(sheng)線(xian)纜，減少測試導(dao)線(xian)的(de)影(ying)響(xiang)，同(tong)時(shi)電極(ji)加熱采(cai)用(yong)直(zhi)流(liu)電(dian)極(ji)加熱方(fang)式，減少電(dian)網諧波(bo)對(dui)測量儀表的(de)幹擾。它(ta)能(neng)夠在(zai)不(bu)同(tong)測量條件(jian)和(he)測量模(mo)式下(xia)進(jin)行連(lian)續和高速的測量。

為(wei)賦予(yu)材料以駐極體(ti)特(te)性，需(xu)要(yao)采(cai)用(yong)壹(yi)定(ding)的手(shou)段(duan)將電(dian)荷(he)註入(ru)到材料內(nei)，這壹(yi)過(guo)程稱(cheng)為(wei)駐極。目(mu)前(qian)，MBPP 駐極體(ti)非(fei)織造(zao)布駐極的(de)方(fang)法(fa)主要有(you)電(dian)暈(yun)放(fang)電法(fa)，可(ke)分為(wei)正電(dian)暈放(fang)電和(he)負(fu)電(dian)暈放(fang)電。正(zheng)電(dian)暈(yun)放(fang)電時(shi)，在(zai)電場(chang)力(li)作(zuo)用(yong)下(xia)電子和(he)陰(yin)離(li)子(zi)向曲率半徑小的電(dian)極移(yi)動(dong)，正(zheng)離(li)子(zi)向鋪有(you) MBPP 的(de)電(dian)極移(yi) 動(dong); 負(fu)電(dian)暈(yun)放(fang)電時(shi)則相(xiang)反。現有(you)實(shi)踐(jian)表明，不(bu)同(tong)電暈駐極條件(jian)下(xia)獲得(de)的(de)MBPP 駐極體(ti)非(fei)織造(zao)布的過濾效(xiao)率存在(zai)差異，但其機制(zhi)並(bing)不(bu)清楚。表(biao)面電位(wei)大(da)小是用(yong)來(lai)表征(zheng)薄(bo)膜(mo)駐極體(ti)的(de)壹(yi)個重(zhong)要參數，但對(dui)非(fei)織造(zao)布而言，表面電 位(wei)高低與(yu)其(qi)過濾(lv)效(xiao)率並沒有(you)很(hen)好(hao)的(de)相(xiang)關(guan)性。另 外，駐極體(ti)電(dian)荷(he)在(zai)使用(yong)環(huan)境下的穩定(ding)性也是影(ying)響(xiang)其應(ying)用(yong)的(de)壹個重(zhong)要因(yin)素。針對(dui)以上問(wen)題(ti)，本(ben)文 采(cai)用(yong)熱(re)刺(ci)激放(fang)電( TSD) 和(he)表(biao)面電位(wei)分(fen)布測量技(ji)術(shu)，研究(jiu)了(le) MBPP 駐極體(ti)非(fei)織造(zao)布的電荷(he)存儲(chu)和電(dian)荷(he)分布特(te)性，分(fen)析(xi)了(le) MBPP 駐極體(ti)非(fei)織造(zao)布的電荷(he)存儲(chu)機制(zhi)，對(dui)造(zao)成產(chan)品差異的機制(zhi)也進行(xing)了(le)討論。

消除電網諧波(bo)對(dui)采(cai)集精度的影(ying)響(xiang)

         電(dian)網(wang)諧波(bo)是電網中存在(zai)的除基(ji)波(bo)電(dian)壓(ya)、電流(liu)以外(wai)的高次諧波(bo)分量。諧波(bo)產(chan)生的(de)根本(ben)原(yuan)因是(shi)由於非(fei)線(xian)性負(fu)載所(suo)致(zhi)。當(dang)電(dian)流(liu)流(liu)經(jing)負(fu)載時(shi)，與所(suo)加的電壓(ya)不(bu)呈(cheng)線(xian)性關(guan)系(xi)，就形(xing)成非(fei)正弦(xian)電流(liu)，從(cong)而(er)產(chan)生諧波(bo)。嚴重(zhong)幹擾通(tong)信、計(ji)算機系(xi)統(tong)、精度(du)高的加工機械(xie)，檢(jian)測儀表等用(yong)電(dian)設備的(de)使用(yong)。目(mu)前加熱裝置(zhi)大(da)都是交流(liu)加熱絲加熱。交流(liu)加熱即50Hz正弦(xian)波對(dui)加熱絲進行加熱的方(fang)式。為(wei)了(le)解(jie)決 這(zhe)種工頻(pin)幹擾以及(ji)電網(wang)諧波(bo)對(dui)測量的影(ying)響(xiang)，華(hua)測儀器采(cai)用(yong)了(le)直流(liu)加熱方(fang)式進(jin)行(xing)加熱。同(tong)時(shi)加入濾波等方(fang)式以好(hao)的減少對(dui)測量過程中(zhong)的(de)影(ying)響(xiang)。大大(da)提高測量的精度(du)。

消除高溫環(huan)境下測量導線(xian)阻(zu)抗影(ying)響(xiang)及內(nei)部(bu)屏蔽

1、傳輸(shu)線(xian)受其材料及(ji)結(jie)構(gou)的影(ying)響(xiang)，當(dang)傳輸(shu)高頻(pin)信號(hao)時(shi)，導線(xian)內(nei)各點電(dian)流(liu)與(yu)電(dian)壓(ya)的特(te)性比(bi)。阻(zu)抗的不(bu)壹(yi)致(zhi)(不(bu)匹(pi)配(pei))會(hui)導(dao)致(zhi)測量的數據存(cun)在(zai)壹定(ding)的誤差。所(suo)以在(zai)測量過程中(zhong)壹(yi)定(ding)要采(cai)用(yong)阻(zu)抗匹配(pei)的(de)測量導線(xian)；

2、測量的導線(xian)也存在(zai)著(zhe)壹(yi)定(ding)的阻抗及(ji)頻(pin)率響應(ying)，故(gu)縮短測量導線(xian)將(jiang)極大的提(ti)高測量精度；

3、高溫環(huan)境下的測量導線(xian) 無法做到好的屏蔽(bi)，大都只做了(le)絕(jue)緣(yuan)處(chu)理(li)，高溫導(dao)線(xian)受溫度(du)的(de)影(ying)響(xiang)阻值(zhi)變(bian)大(da)，高溫導(dao)線(xian)因(yin)要求通過絕(jue)緣(yuan)件(jian)（如(ru)陶瓷、耐火(huo)材料等）將(jiang)會把壹部(bu)分電容(rong)引(yin)入測量。增大測量誤差；

4、測量的方(fang)式采(cai)用(yong)三(san)電極測量，將會起(qi)到好的屏蔽(bi)作(zuo)用(yong)。

優(you)化(hua)樣(yang)品的溫度測量方(fang)式及(ji)測量電極

1、通(tong)過(guo)平(ping)行(xing)板(ban)電(dian)極的(de)測量原理(li)，可(ke)以好(hao)的說明測量的電極(ji)盡可(ke)能(neng)小，減少空間及(ji)雜散(san)電容(rong)的(de)影(ying)響(xiang)，較(jiao)好(hao)的辦法(fa)是(shi)在(zai)樣(yang)品上濺(jian)射(she)壹(yi)層(ceng)導電材質。    

2、因(yin)不(bu)同(tong)的材料熱(re)晗(han)不(bu)同(tong)，以熱(re)電偶(ou)靠(kao)近樣(yang)品測試的(de)溫(wen)度作(zuo)為(wei)樣(yang)品的溫度同(tong)樣(yang)存在(zai)著(zhe)壹(yi)定(ding)的誤差。如(ru)果(guo)采(cai)用(yong)參比樣(yang)品的方(fang)式進(jin)行(xing)測量，那麽(me)樣(yang)品的溫度就是(shi)材料真實(shi)溫(wen)度(du)。

熔(rong)噴(pen)布TSD熱刺(ci)激電(dian)流(liu)測試儀器/北京華(hua)測